Testauspalvelut
Selaa kategorian mukaan tai käytä suodattimia oikean testin löytämiseksi.SEM-EDX-kuvaus
Näytteen kuvaaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX, EDS). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Tuloksena saadaan myös …
ToF-ERDA-mittaus (normaali toimitusaika)
Tof-ERDA-mittaus soveltuu kiinteiden näytemateriaalien alkuainekoostumuksen kvantitatiiviseen määritykseen ja syvyysprofilointiin. ToF-ERDA havaitsee kaikki alkuaineet ja vedyn eri isotoopit. Menetelmää käytetään erityisesti kevyiden …
SEM-kuvantaminen
Näytteen kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Näytteestä otetaan yleensä useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella analyysiä varten päällystämällä ne ohuella metallikerroksella. Näytteestä …
XRR-mittaus ohutkalvoille
Röntgenheijastuvuuden mittaus eli XRR-analyysi, jolla voidaan määrittää kalvon tiheys, paksuus ja karheus. Paksuusmittauksissa paksuuden tulisi lähtökohtaisesti olla alle 300 nm (materiaalista riippuen) ja karheuden matala (<5 nm). Jos tarvitset lisätietoja …
Ominaispinta-ala (BET)
ISO 9277
BET (Brunauer–Emmett–Teller) -analyysi kiinteiden materiaalien ominaispinta-alan ja huokoskoon määrittämiseksi.
AFM - pinnankarheuden määrittäminen
Analyysissa näytteen pinnankarheus (RMS) määritetään atomivoimamikroskoopilla (AFM). Hintaan kuuluu mittaus kolmesta pisteestä. Mittausalueena käytetään 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita. Testiraportti sisältää RMS-arvon lisäksi 2D kuvan, 3D …
Ohutkalvonäytteiden GI-XRD
Ohutkalvonäytteiden analysoiminen röntgendiffraktion (GI-XRD) avulla.
VPD ICP-MS
VPD ICP-MS-menetelmällä voidaan havaita häviävän pienet metalliset epäpuhtaudet piikiekkojen ja ohutkalvojen pinnoilta. Analyysi perustuu näytteen pintakerroksen (~2 nm) liuottamiseen, jonka jälkeen metallien pitoisuudet mitataan liuoksesta. Perusanalyysi sisältää seuraavien …
Ohutkalvonäytteiden GI-XRD + XRR
Ohutkalvonäytteiden röntgendiffraktio (GI-XRD) + röntgenheijastavuus (XRR). Tuloksena saadaan kalvojen tiheys (g/cm3), paksuus (nm) ja karheus (nm). XRR-paksuusmittausta varten kalvon paksuuden tulisi olla alle 100 nm ja ainakin yhtä suuruusluokkaa …
TEM-EDX-kuvantaminen
Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX tai EDS). Tyypillisessä analyysissä näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lisäksi …
Ellipsometria
Ellipsometria on optinen tekniikka, jolla karakterisoidaan polarisoituneen valon heijastumista näytteen pinnasta. Menetelmällä voidaan määrittää näytteen taitekerroin tai paksuus. Ellipsometriaa käytetään ohutkalvojen ja perusmateriaalien karakterisointiin. Näyte voi olla yksi- …
TEM-kuvantaminen
Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. TEM:in resoluutio on nanometrin luokkaa. TEM-kuvantaminen edellyttää usein esikäsittelyä FIB-menetelmällä. Käsittely …
XPS-mittaus
XPS on semikvantitatiivinen tekniikka, joka mahdollistaa materiaalien pinnan alkuainekoostumuksen määrityksen. Lisäksi menetelmällä voidaan määrittää atomien sitoutumis- ja elektronitilat. XPS on pintaherkkä tekniikka. Tyypillinen tutkimussyvyys on 3-10 nm ja havaitsemisrajat noin …
Ominaispinta-ala ja huokoskoko
N2-adsorptio-analyysi kiinteiden materiaalien ominaispinta-alan ja huokoskokojakauman määrittämiseen.
ICP-MS-mittaus ohutkalvoista
Metallisten alkuaineiden jäämien määritys piikiekon päällä olevasta ohutkalvosta. Määrityksessä voidaan hyödyntää eri menetelmiä näytteen ominaisuuksista riippuen. Kysy lisätietoja mittauksen soveltuvuudesta näytteellesi menetelmän asiantuntijalta.
Näytteen valmistelu BIB-tekniikalla
BIB-menetelmällä (engl. Broad Ion Beam) voidaan siloittaa näytteen pintaa tai valmistaa laadukkaita poikkileikkeitä SEM-kuvantamista varten.
ToF-SIMS-mittaus
Lentoaikaerotteinen sekundäärinen ionimassaspektrometria (ToF-SIMS) on menetelmä, jolla voidaan analysoida kiinteiden materiaalien pintoja. Tekniikalla voidaan määrittää sekä alkuaine- että molekyylikoostumus näytteen pinnasta. Pinta-analyysi yltää < 2 nm syvyyteen. …
XPS-spektrin piikkien dekonvoluutio - alkuaineiden sidostilat
XPS on pintaherkkä tekniikka, jolla voidaan määrittää näytteen alkuainekoostumus ja alkuaineiden kemialliset sidostilat. Mittaussyvyys on tyypillisesti 3-10 nm ja määritysraja 0.1-1 atomiprosenttia. XPS …
AFM-kuvantaminen sileille pinnoille
Analyysin aikana näytteen pinta kuvannetaan atomivoimamikroskoopilla (AFM). Tyypillisesti näytteestä otetaan topologisia kuvia useasta eri kohdasta. Mittausalue on 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita.
Kontaktikulman määritys
Kontaktikulman määritys valitulla nesteellä. Analyysin hintaan sisältyy kolme mittausta. Periaatteessa mitä tahansa nestettä voidaan käyttää, jos neste ei vaikuta pinnan ominaisuuksiin ja nesteen pintajännitys tunnetaan.
Paperin tai kartongin rasvankesto KIT-menetelmällä
TAPPI 559
Tämä testi noudattaa TAPPI T559 menetelmää. Menetelmällä testataan pinnoitteilla käsitellyn paperin sekä öljyn (organofobinen) että veden (hydrofobinen) hylkimisominaisuuksia. Testi on suunniteltu auttamaan …
Naarmuuntumistesti (nano scratch) ohutkalvonäytteille
Naarmuuntumistesti (nano scratch) ohutkalvonäytteille. Tyypillinen mittaus sisältää valokuvan naarmuuntumisjäljestä sekä critical load -arvojen määrityksen.
Jauheen XRD-mittaus - Kvalitatiivinen Analyysi
Kristallijauheiden kvalitatiivinen tai vertaileva analyysi röntgendiffraktiolla (XRD). Analyysi soveltuu ainoastaan materiaaleille, joilla on ainakin yksi kiteinen faasi.
Näytevalmistelu FIB-tekniikalla
Näytteen valmistelu elektronimikroskopiaa varten kohdennetulla ionisuihkulla (FIB, Focused Ion Beam). Menetelmä on eritäin tarkka, ja sillä voidaan valmistaa hyvin ohuita näytekappaleita SEM- tai TEM-kuvantamista varten. Hintaan kuuluu vain …
Optinen profilometria
Pinnan karheuden tai reunan terävyyden määritys optisella profilometrillä.
Paperin tai kartongin ISO-vaaleus
ISO 2470-1
Menetelmällä mitataan sinisen valon reflektanssia paperista tai kartongista ISO 2470-1 -standardin mukaisesti. Testi soveltuu vain valkoisille tai lähes valkoisille materiaaleille.
Pintaenergian määritys
Pintaenergian määritys kontaktikulmamittausten avulla.
LA-ICP-MS ohutkalvonäytteille (70 alkuainetta)
Metallipitoisuuksien määritys LA-ICP-MS-tekniikalla. Mittaus sisältää seuraavien alkuaineiden määrityksen: Ag, Al, As, Au, B, Ba, Be, Bi, Br, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Dy, Er, Eu Fe, Ga, Gd, Ge, Hf, Hg, Ho, I, In, Ir, K, La, …
Paperin tai kartongin karheus ja sileys
Paperin tai kartongin sileyttä voidaan mitata usealla eri menetelmällä. Saatavilla olevat testimenetelmät ovat:
- Bendtsen-karheus (ISO 8791-2) - joka soveltuu lähes kaikille papereille ja kartongeille, pois lukien paljon ilmaa läpäisevät …
Paperin tai kartongin opasiteetti
ISO 2471
Tällä ISO 2471 -standardin mukaisella menetelmällä määritetään paperin opasiteetti sen diffuusiheijastuskyvyn perusteella. Mittausta voidaan käyttää fluoresoivia valkaisuaineita sisältävien paperien tai kartonkien opasiteetin …
Paperin tai kartongin rasvankesto palmuöljymetodilla
TAPPI 454
Paperin ja kartongin rasvankestävyyttä arvioidaan määrittämällä aika, joka kuluu simuloidun rasvan (palmuöljyn) kulkeutumiseen paperin, kuten elintarvikekartongin tai rasvankestävän arkin läpi. Testi …
RBS-mittaus (normaali toimitus)
Alkuainesuhteiden määritys RBS-menetelmällä (Rutherfordin takaisinsirontaspektrometria). Mittaus soveltuu syvyysprofilointiin. RBS antaa tietoa raskaampien alkuaineiden pitoisuuksista. Kevyistä alkuaineista saadaan tietoa, jos menetelmä yhdistetään …
RBS-mittaus (pikatoimitus)
RBS-menetelmällä (Rutherfordin takaisinsirontaspektrometria) voidaan määrittää kiinteän näytteen alkuainekoostumus. Mittaus soveltuu myös syvyysprofilointiin. RBS-mittausta käytetään raskaiden alkuaineiden pitoisuusmäärityksiin. Jos myös kevyempien …
BPSG-analyysi
Boorin (B) ja fosforin (P) akkreditoitu määritys BPSG-kiekoista.
LA-ICP-MS ohutkalvonäytteille (standardialkuaineet)
Metallipitoisuuksien määritys LA-ICP-MS-tekniikalla. Standardianalyysi sisältää seuraavien alkuaineiden määrityksen: Ca, Cr, Cu, Co, Er, Fe, Ge, Pb, Mn, Mo, Ni, K, Na, Sn, Ti, Ta, Zn, Bi, Au, Sn, V, Sr ja Y. Tulokset …
Ryhmäviiveen ja ryhmänopeuden dispersiot (GDD ja GVD)
Ryhmäviiveen dispersion (GDD, group delay dispersion) ja ryhmänopeuden dispersion (GVD, group velocity dispersion) määritys optisesta materiaalista valkoisen valon interferometrillä.
LA-ICP-MS ohutkalvonäytteille (yksi alkuaine)
Metallipitoisuuden määritys LA-ICP-MS-tekniikalla. Mittaus sisältää yhden alkuaineen määrityksen. Tulokset ilmoitetaan yksikössä ppm (µg / g).
Muovikalvon kitkakerroin
ISO 8295/4
Menetelmällä mitataan alku- ja liukumiskitkakertoimet muovikalvoista, kun niitä liutetaan saman tai toisen materiaalin yli. Tulosta voidaan käyttää esimerksi laadunvarmistukseen. Mittaus sisältää neljä rinnakkaismittausta per näyte.
Orgaaniset kontaminantit piikiekoista ATD-GC-MS-menetelmällä
SEMI MF 1982-1103
ATD-GC-MS (kaasukromatografia-massaspektrometria ATD-keräimellä) on hyvin herkkä analyysimenetelmä piikiekkojen pinnalta löytyvien orgaanisten vierasaineiden analysointiin. …
Paperin sileyden määritys Bekk-menetelmällä
ISO 5627
Bekk-menetelmä soveltuu erittäin sileiden paperien ja kartonkien sileyden mittaamiseen. Ei sovellu yli 0,5 mm paksuille tai hyvin huokoisille lajeille. Tulos ilmoitetaan sekunneissa (s).
Paperin tai kartongin CIE-vaaleus
Menetelmä mittaa paperin tai kartongin vaaleutta CIE D65 päivänvalostandardilla. Mittauksella saadaan tieto näytteen reflektanssista koko näkyvän valon alueella (VIS). Menetelmä ei sovellu värillisille näytteille, joissa on käytetty fluoresoivia …
Paperin tai kartongin keltaisuus
DIN 6167
Lämpötilan, kemiallisten reaktioiden ja säteilyn vaikutuksesta valkoisista tai värittömistä materiaaleista kuten taidemateriaaleista, paperista tai maaleista voi tulla keltaisia.
Keltaisuusluku ilmaisee näytteen keltaisuuden arvon …
Paperin tai kartongin kiiltävyys
EN ISO 8254-1
Tällä ISO 8254-1 -standardin mukaisella menetelmällä mitataan paperin kiilto 75° kulmassa paperin pinnan normaaliin nähden. Testi on tarkoitettu pääasiassa päällystetyille papereille, mutta sitä voidaan käyttää myös …
Paperin tai kartongin rasvankesto tärpättimenetelmällä
TAPPI 454
Tämä testi arvioi elintarvikkeista usein löytyvien rasvojen ja öljyjen tunkeutumista paperi- tai kartonkinäytteeseen antaen arviota tuotteen rasvankestosta.
Testin avulla voidaan arvioida ja …
Paperin tai kartongin värimääritys
ISO 5631-1, ISO 5631-2
Tämä menetelmä mahdollistaa paperin ja kartongin värin mittaamisen diffuusiheijastus-menetelmällä, jolloin vältetään peilikiiltoilmiö.
Testi ei sovellu värillisille papereille tai kartongeille, jotka …
ToF-ERDA-mittaus (nopeutettu toimitus)
ToF-ERDA-mittauksella voidaan määrittää kiinteän näytteen alkuaineprofiili kvantitatiivisesti. Menetelmä soveltuu syvyysprofilointiin. ToF-ERDA havaitsee kaikki alkuaineet ja soveltuu erityisen hyvin kevyiden alkuaineiden …
Testaustyyppi
Alkuaineet ja ionitBiologinen testausFysikaaliset ja kemialliset ominaisuudetIlmanlaatu ja kaasutKoostumusanalyysiLämpötestausMekaaninen testausMikrobiologinen analyysiMikroskopiaPalotestausPartikkelianalyysitPintatestausRegulaatiotestitReologiaStandardoidut tuotetestitSähköiset ominaisuudet
Ala tai materiaali
BiojalostamotEnergia ja polttoaineetJätteetKemikaalitKosmetiikkaLastentuotteetLääketeollisuusLääkinnälliset laitteetMerenkulkuMetallit ja kaivosteollisuusPakkausmateriaalitPaperi ja kartonkiPolymeerit ja muovitPuolijohteetRakennusmateriaalitRuoka, rehu ja lisäravinteetRuokakontaktimateriaalitTekstiilit ja kalusteetYmpäristötestaus
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.