Testauspalvelut

Selaa kategorian mukaan tai käytä suodattimia oikean testin löytämiseksi.

ToF-ERDA-mittaus (normaali toimitusaika)

Tof-ERDA-mittaus soveltuu kiinteiden näytemateriaalien alkuainekoostumuksen kvantitatiiviseen määritykseen ja syvyysprofilointiin. ToF-ERDA havaitsee kaikki alkuaineet ja vedyn eri isotoopit. Menetelmää käytetään erityisesti kevyiden …

SEM-EDX-kuvaus

Näytteen kuvaaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX, EDS). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Tuloksena saadaan myös …

SEM-kuvantaminen

Näytteen kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Näytteestä otetaan yleensä useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella analyysiä varten päällystämällä ne ohuella metallikerroksella. Näytteestä …

XRR-mittaus ohutkalvoille

Röntgenheijastuvuuden mittaus eli XRR-analyysi, jolla voidaan määrittää kalvon tiheys, paksuus ja karheus. Paksuusmittauksissa paksuuden tulisi lähtökohtaisesti olla alle 300 nm (materiaalista riippuen) ja karheuden matala (<5 nm). Jos tarvitset lisätietoja …

AFM - pinnankarheuden määrittäminen

Analyysissa näytteen pinnankarheus (RMS) määritetään atomivoimamikroskoopilla (AFM). Hintaan kuuluu mittaus kolmesta pisteestä. Mittausalueena käytetään 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita. Testiraportti sisältää RMS-arvon lisäksi 2D kuvan, 3D …

Ominaispinta-ala (BET)

BET (Brunauer–Emmett–Teller) -analyysi kiinteiden materiaalien ominaispinta-alan ja huokoskoon määrittämiseksi.

Ohutkalvonäytteiden GI-XRD

Ohutkalvonäytteiden analysoiminen röntgendiffraktion (GI-XRD) avulla.

Ohutkalvonäytteiden GI-XRD + XRR

Ohutkalvonäytteiden röntgendiffraktio (GI-XRD) + röntgenheijastavuus (XRR). Tuloksena saadaan kalvojen tiheys (g/cm3), paksuus (nm) ja karheus (nm). XRR-paksuusmittausta varten kalvon paksuuden tulisi olla alle 100 nm ja ainakin yhtä suuruusluokkaa …

Etkö löydä etsimääsi?

Vain pieni osa mittauspalveluistamme on listattu nettisivuilla. Jos et löydä etsimääsi, älä epäröi ottaa yhteyttä!

Ellipsometria

Ellipsometria on optinen tekniikka, jolla karakterisoidaan polarisoituneen valon heijastumista näytteen pinnasta. Menetelmällä voidaan määrittää näytteen taitekerroin tai paksuus. Ellipsometriaa käytetään ohutkalvojen ja perusmateriaalien karakterisointiin. Näyte voi olla yksi- …

Ominaispinta-ala ja huokoskoko

N2-adsorptio-analyysi kiinteiden materiaalien ominaispinta-alan ja huokoskokojakauman määrittämiseen.

TEM-EDX-kuvantaminen

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX tai EDS). Tyypillisessä analyysissä näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lisäksi …

TEM-kuvantaminen

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. TEM:in resoluutio on nanometrin luokkaa. TEM-kuvantaminen edellyttää usein esikäsittelyä FIB-menetelmällä. Käsittely …

ICP-MS-mittaus ohutkalvoista

Metallisten alkuaineiden jäämien määritys piikiekon päällä olevasta ohutkalvosta. Määrityksessä voidaan hyödyntää eri menetelmiä näytteen ominaisuuksista riippuen. Kysy lisätietoja mittauksen soveltuvuudesta näytteellesi menetelmän asiantuntijalta.

VPD ICP-MS

VPD ICP-MS-menetelmällä voidaan havaita häviävän pienet metalliset epäpuhtaudet piikiekkojen ja ohutkalvojen pinnoilta. Analyysi perustuu näytteen pintakerroksen (~2 nm) liuottamiseen, jonka jälkeen metallien pitoisuudet mitataan liuoksesta. Perusanalyysi sisältää seuraavien …

XPS-mittaus

XPS on semikvantitatiivinen tekniikka, joka mahdollistaa materiaalien pinnan alkuainekoostumuksen määrityksen. Lisäksi menetelmällä voidaan määrittää atomien sitoutumis- ja elektronitilat. XPS on pintaherkkä tekniikka. Tyypillinen tutkimussyvyys on 3-10 nm ja havaitsemisrajat noin …

AFM-kuvantaminen sileille pinnoille

Analyysin aikana näytteen pinta kuvannetaan atomivoimamikroskoopilla (AFM). Tyypillisesti näytteestä otetaan topologisia kuvia useasta eri kohdasta. Mittausalue on 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita.

Kontaktikulman määritys

Kontaktikulman määritys valitulla nesteellä. Analyysin hintaan sisältyy kolme mittausta. Periaatteessa mitä tahansa nestettä voidaan käyttää, jos neste ei vaikuta pinnan ominaisuuksiin ja nesteen pintajännitys tunnetaan.

Naarmuuntumistesti (nano scratch) ohutkalvonäytteille

Naarmuuntumistesti (nano scratch) ohutkalvonäytteille. Tyypillinen mittaus sisältää valokuvan naarmuuntumisjäljestä sekä critical load -arvojen määrityksen.

Paperin tai kartongin rasvankesto KIT-menetelmällä

TAPPI 559
Tämä testi noudattaa TAPPI T559 menetelmää. Menetelmällä testataan pinnoitteilla käsitellyn paperin sekä öljyn (organofobinen) että veden (hydrofobinen) hylkimisominaisuuksia. Testi on suunniteltu auttamaan …

XPS-spektrin piikkien dekonvoluutio - alkuaineiden sidostilat

XPS on pintaherkkä tekniikka, jolla voidaan määrittää näytteen alkuainekoostumus ja alkuaineiden kemialliset sidostilat. Mittaussyvyys on tyypillisesti 3-10 nm ja määritysraja 0.1-1 atomiprosenttia. XPS …

Jauheen XRD-mittaus - Kvalitatiivinen Analyysi

Kristallijauheiden kvalitatiivinen tai vertaileva analyysi röntgendiffraktiolla (XRD). Analyysi soveltuu ainoastaan materiaaleille, joilla on ainakin yksi kiteinen faasi.

ToF-SIMS-mittaus

Lentoaikaerotteinen sekundäärinen ionimassaspektrometria (ToF-SIMS) on menetelmä, jolla voidaan analysoida kiinteiden materiaalien pintoja. Tekniikalla voidaan määrittää sekä alkuaine- että molekyylikoostumus näytteen pinnasta. Pinta-analyysi yltää < 2 nm syvyyteen. …

Paperin tai kartongin ISO-vaaleus

ISO 2470-1
Menetelmällä mitataan sinisen valon reflektanssia paperista tai kartongista ISO 2470-1 -standardin mukaisesti. Testi soveltuu vain valkoisille tai lähes valkoisille materiaaleille.

Näytteen valmistelu BIB-tekniikalla

BIB-menetelmällä (engl. Broad Ion Beam) voidaan siloittaa näytteen pintaa tai valmistaa laadukkaita poikkileikkeitä SEM-kuvantamista varten.

Optinen profilometria

Pinnan karheuden tai reunan terävyyden määritys optisella profilometrillä.

Paperin tai kartongin karheus ja sileys

Paperin tai kartongin sileyttä voidaan mitata usealla eri menetelmällä. Saatavilla olevat testimenetelmät ovat: - Bendtsen-karheus (ISO 8791-2) - joka soveltuu lähes kaikille papereille ja kartongeille, pois lukien paljon ilmaa läpäisevät …

Paperin tai kartongin opasiteetti

ISO 2471
Tällä menetelmällä määritetään paperin opasiteetti sen diffuusiheijastuskyvyn perusteella. Mittausta voidaan käyttää fluoresoivia valkaisuaineita sisältävien paperien tai kartonkien opasiteetin määrittämiseen. Menetelmää ei kuitenkaan …

Paperin tai kartongin rasvankesto palmuöljymetodilla

TAPPI 454
Paperin ja kartongin rasvankestävyyttä arvioidaan määrittämällä aika, joka kuluu simuloidun rasvan (palmuöljyn) kulkeutumiseen paperin, kuten elintarvikekartongin tai rasvankestävän arkin läpi. Testi …

Pintaenergian määritys

Pintaenergian määritys kontaktikulmamittausten avulla.

RBS-mittaus (normaali toimitus)

Alkuainesuhteiden määritys RBS-menetelmällä (Rutherfordin takaisinsirontaspektrometria). Mittaus soveltuu syvyysprofilointiin. RBS antaa tietoa raskaampien alkuaineiden pitoisuuksista. Kevyistä alkuaineista saadaan tietoa, jos menetelmä yhdistetään …

RBS-mittaus (pikatoimitus)

RBS-menetelmällä (Rutherfordin takaisinsirontaspektrometria) voidaan määrittää kiinteän näytteen alkuainekoostumus. Mittaus soveltuu myös syvyysprofilointiin. RBS-mittausta käytetään raskaiden alkuaineiden pitoisuusmäärityksiin. Jos myös kevyempien …

BPSG-analyysi

Boorin (B) ja fosforin (P) akkreditoitu määritys BPSG-kiekoista.

LA-ICP-MS ohutkalvonäytteille (70 alkuainetta)

Metallipitoisuuksien määritys LA-ICP-MS-tekniikalla. Mittaus sisältää seuraavien alkuaineiden määrityksen: Ag, Al, As, Au, B, Ba, Be, Bi, Br, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Dy, Er, Eu Fe, Ga, Gd, Ge, Hf, Hg, Ho, I, In, Ir, K, La, …

LA-ICP-MS ohutkalvonäytteille (standardialkuaineet)

Metallipitoisuuksien määritys LA-ICP-MS-tekniikalla. Standardianalyysi sisältää seuraavien alkuaineiden määrityksen: Ca, Cr, Cu, Co, Er, Fe, Ge, Pb, Mn, Mo, Ni, K, Na, Sn, Ti, Ta, Zn, Bi, Au, Sn, V, Sr ja Y. Tulokset …

Ryhmäviiveen ja ryhmänopeuden dispersiot (GDD ja GVD)

Ryhmäviiveen dispersion (GDD, group delay dispersion) ja ryhmänopeuden dispersion (GVD, group velocity dispersion) määritys optisesta materiaalista valkoisen valon interferometrillä.

Kankaan pinnan resistiivisyys

EN 1149-1
Kankaan pinnan resistiivisyyden testaus standardinmukaisesti materiaaleille, joita käytetään elektrostaattisilta sytytyspurkauksilta suojautumiseen.

LA-ICP-MS ohutkalvonäytteille (yksi alkuaine)

Metallipitoisuuden määritys LA-ICP-MS-tekniikalla. Mittaus sisältää yhden alkuaineen määrityksen. Tulokset ilmoitetaan yksikössä ppm (µg / g).

Muovikalvon kitkakerroin

ISO 8295/4
Menetelmällä mitataan alku- ja liukumiskitkakertoimet muovikalvoista, kun niitä liutetaan saman tai toisen materiaalin yli. Tulosta voidaan käyttää esimerksi laadunvarmistukseen. Mittaus sisältää neljä rinnakkaismittausta per näyte.

Näytevalmistelu FIB-tekniikalla

Näytteen valmistelu elektronimikroskopiaa varten kohdennetulla ionisuihkulla (FIB, Focused Ion Beam). Menetelmä on eritäin tarkka, ja sillä voidaan valmistaa hyvin ohuita näytekappaleita SEM- tai TEM-kuvantamista varten. Hintaan kuuluu vain …

Orgaaniset kontaminantit piikiekoista ATD-GC-MS-menetelmällä

SEMI MF 1982-1103
ATD-GC-MS (kaasukromatografia-massaspektrometria ATD-keräimellä) on hyvin herkkä analyysimenetelmä piikiekkojen pinnalta löytyvien orgaanisten vierasaineiden analysointiin. …

Paperin sileyden määritys Bekk-menetelmällä

ISO 5627
Bekk-menetelmä soveltuu erittäin sileiden paperien ja kartonkien sileyden mittaamiseen. Ei sovellu yli 0,5 mm paksuille tai hyvin huokoisille lajeille. Tulos ilmoitetaan sekunneissa (s).

Paperin tai kartongin CIE-vaaleus

Menetelmä mittaa paperin tai kartongin vaaleutta CIE D65 päivänvalostandardilla. Mittauksella saadaan tieto näytteen reflektanssista koko näkyvän valon alueella (VIS). Menetelmä ei sovellu värillisille näytteille, joissa on käytetty fluoresoivia …

Paperin tai kartongin keltaisuus

DIN 6167
Lämpötilan, kemiallisten reaktioiden ja säteilyn vaikutuksesta valkoisista tai värittömistä materiaaleista kuten taidemateriaaleista, paperista tai maaleista voi tulla keltaisia. Keltaisuusluku ilmaisee näytteen keltaisuuden arvon …

Paperin tai kartongin kiiltävyys

EN ISO 8254-1
Tällä menetelmällä mitataan paperin kiilto 75° kulmassa paperin pinnan normaaliin nähden. Tämä testi on tarkoitettu pääasiassa päälystetyille papereille, mutta sitä voidaan käyttää myös kiiltäville päällystämättömille …

Paperin tai kartongin rasvankesto tärpättimenetelmällä

TAPPI 454
Tämä testi arvioi elintarvikkeista usein löytyvien rasvojen ja öljyjen tunkeutumista paperi- tai kartonkinäytteeseen antaen arviota tuotteen rasvankestosta. Testin avulla voidaan arvioida ja …

Paperin tai kartongin värimääritys

ISO 5631-1, ISO 5631-2
Tämä menetelmä mahdollistaa paperin ja kartongin värin mittaamisen diffuusiheijastus-menetelmällä, jolloin vältetään peilikiiltoilmiö. Testi ei sovellu värillisille papereille tai kartongeille, jotka …

ToF-ERDA-mittaus (nopeutettu toimitus)

ToF-ERDA-mittauksella voidaan määrittää kiinteän näytteen alkuaineprofiili kvantitatiivisesti. Menetelmä soveltuu syvyysprofilointiin. ToF-ERDA havaitsee kaikki alkuaineet ja soveltuu erityisen hyvin kevyiden alkuaineiden …

Testaustyyppi

Ala tai materiaali

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Seuraaviin kysymyksiin vastaaminen auttaa meitä laatimaan sinulle tarjouksen nopeammin:

  • Montako näytettä sinulla on ja mitä materiaalia ne ovat?
  • Onko tämä toistuva testaustarve? Jos on, niin kuinka usein näytteitä saapuisi ja monenko näytteen erissä?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita +358 50 336 6128.


...ja yli 700 muuta tyytyväistä asiakasta