Esim. SEM, osmolaalisuus, ISO 1182...
TestauspalvelutMeistäBlogiOta yhteyttäLaboratorioille
In English
Testauspalvelut / Optinen profilometria

Optinen profilometria

Pinnan karheuden tai reunan terävyyden määritys optisella profilometrillä.

Soveltuvat näytematriisit
Lasi, kiinteät materiaalit
Tyypillinen läpimenoaika
3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Menetelmän asiantuntija
Charlotte Zborowski
Charlotte Zborowski
+358 50 349 9831
Polymeerit ja muovitPolymeerit ja muovitPuolijohteetPuolijohteetPintatestausPintatestaus

Hinta

Ensimmäinen näyte (ALV 0):
679 €
Seuraavat näytteet (ALV 0):
571 €per näyte

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Palvelemme: ma–pe klo 9–17

Ringing phone

Muita testejä valikoimistamme

Poikkileike-SEM-EDX leveällä ionisäteellä (BIB)

1 130–1 250 €
Tilaa

Poikkileike-SEM jäädytyslohkaistusta näytteestä

420–550 €
Tilaa

Poikkileike-SEM kohdennetulla ionisäteellä (FIB)

1 090–1 195 €
Tilaa

XPS-mittaus

341–459 €
Lue lisää

XPS-spektrin piikkien dekonvoluutio - alkuaineiden sidostilat

Lue lisää

Poikkileikkeiden korkean resoluution TEM-kuvaus ja näytteen valmistus FIB:llä

1 690–1 800 €
Tilaa

Pintojen SEM-EDX kuvaus

471–579 €
Tilaa

Poikkileikkeen HR-TEM-kuvaus + EDX + FIB

1 999–2 199 €
Tilaa

XRR-mittaus ohutkalvoille

210–340 €
Tilaa

AFM-kuvantaminen sileille pinnoille

181–396 €
Tilaa

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Seuraaviin kysymyksiin vastaaminen auttaa meitä laatimaan sinulle tarjouksen nopeammin:

  • Montako näytettä sinulla on ja mitä materiaalia ne ovat?
  • Onko tämä toistuva testaustarve? Jos on, niin kuinka usein näytteitä saapuisi ja monenko näytteen erissä?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita +358 50 336 6128.