XRR ohutkalvonäytteille
Materiaalitestaus
PintatestausRöntgenheijastuvuus mittaus (XRR) ohutkalvonäytteille. Tuloksena saadaan arvot kalvon tiheydelle (g / cm3), paksuudelle (nm) sekä karheudelle (nm). Jos kalvon paksuus halutaan määrittää, niin kalvon tulee olla < 100 nm ja sen on oltava vähintään yhden suuruusluokan suurempi kuin karheus. Tiheyden määritykseen ja pinnan karheuden analysoimiseen näytteen kalvon paksuus voi olla joko < 100 nm tai > 100 nm.
Lisätietoja menetelmäperheestä:
Röntgenheijastavuus (XRR)- Soveltuvat näytematriisit
- Ohutkalvonäytteet, ALD-näytteet
- Näytteiden minimimäärä
- Optimaalinen koko 5 x 4 cm, miniminäytekoko 2 x 2 cm
- Tyypillinen läpimenoaika
- 4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Laatujärjestelmä
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
- Hinta (ALV 0)
- Ensimmäinen näyte: 613 €
Seuraavat näytteet: 208 € per näyte
Kiinnostaako tämä mittaus?
Tämän mittauksen voi ostaa verkkokaupassa. Täytä vain muutama kenttä alla:
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Tilaaminen on helppoa
1.Tilaa mittauspalvelu tai kysy neuvoa.
2.Lähetä näytteesi meille.
3.Mittaamme raaka-aineesi tai tuotteesi.
4.Saat mittausraportin ja tulokset sähköpostiisi.