XRR ohutkalvonäytteille

Röntgenheijastuvuus mittaus (XRR) ohutkalvonäytteille. Tuloksena saadaan arvot kalvon tiheydelle (g / cm³), paksuudelle (nm) sekä karheudelle (nm). Jos kalvon paksuus halutaan määrittää, niin kalvon tulee olla < 100 nm ja sen on oltava vähintään yhden suuruusluokan suurempi kuin karheus. Tiheyden määritykseen näytteen kalvon paksuus täytyy usein olla < 250 nm. Tiheyden määritys sen sijaan voidaan usein tehdä paksummastakin näytteesta. Mittaukseen soveltuva näytteen paksuus on kuitenkin näytekohtaista. Jos tarvitse lisätietoja mittauksesta juuri sinun näytteellesi, ota yhteyttä asiakaspalveluumme, niin asianuntijamme auttavat sinua!