XRR-mittaus ohutkalvoille

Röntgenheijastuvuuden mittaus eli XRR-analyysi ohutkalvonäytteille. Tuloksena saadaan arvot kalvon tiheydelle (g/cm3), paksuudelle (nm) sekä karheudelle (nm). Jos kalvon paksuus halutaan määrittää, tulee paksuuden olla < 100 nm ja vähintään yhden suuruusluokan suurempi kuin karheuden. Karheusmäärityksen yhteydessä kalvon paksuuden täytyy yleensä olla < 250 nm. Tiheyden määritys sen sijaan voidaan usein tehdä paksummastakin näytteesta. Mittaukseen soveltuva näytepaksuus riippuu kuitenkin myös näytetyypistä. Jos tarvitset lisätietoja mittauksen sopivuudesta näytteellesi, ota yhteyttä asiakaspalveluumme.

Soveltuvat näytematriisit
Ohutkalvonäytteet, ALD-näytteet, pinnoitteet, kalvot
Näytteiden minimimäärä
Optimaalinen koko 5 x 4 cm, miniminäytekoko 2 x 2 cm
Tyypillinen läpimenoaika
3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Kia Bertula

Tilaa verkossa

Ensimmäinen näyte (ALV 0):
340 €
Seuraavat näytteet (ALV 0):
210 €per näyte
Jos sinulla on paljon näytteitä, voit saada alennusta. Ota yhteyttä.

Näytteet syötetään seuraavassa vaiheessa.

Asiantuntijamme tarkastavat kaikki tilaukset ja varmistavat, että testi vastaa tarpeisiisi ja sopii näytteillesi.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1
Valitse tarvittavat testit
tilausvahvistus
2
Vastaanota tilausvahvistus
Näytelähetys
3
Lähetä näytteesi meille
Henkilö saa sähköpostin puhelimeensa
4
Saat tulokset sähköpostiisi