XRR-mittaus ohutkalvoille
Röntgenheijastuvuuden mittaus eli XRR-analyysi ohutkalvonäytteille. Tuloksena saadaan arvot kalvon tiheydelle (g/cm3), paksuudelle (nm) sekä karheudelle (nm). Jos kalvon paksuus halutaan määrittää, tulee paksuuden olla < 100 nm ja vähintään yhden suuruusluokan suurempi kuin karheuden. Karheusmäärityksen yhteydessä kalvon paksuuden täytyy yleensä olla < 250 nm. Tiheyden määritys sen sijaan voidaan usein tehdä paksummastakin näytteesta. Mittaukseen soveltuva näytepaksuus riippuu kuitenkin myös näytetyypistä. Jos tarvitset lisätietoja mittauksen sopivuudesta näytteellesi, ota yhteyttä asiakaspalveluumme.
Lisätietoja menetelmäperheestä:
Röntgendiffraktio (XRD)- Soveltuvat näytematriisit
- Ohutkalvonäytteet, ALD-näytteet, pinnoitteet, kalvot
- Näytteiden minimimäärä
- Optimaalinen koko 5 x 4 cm, miniminäytekoko 2 x 2 cm
- Tyypillinen läpimenoaika
- 3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Laatujärjestelmä
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
- Kia Bertula
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa
1
Valitse tarvittavat testit2
Vastaanota tilausvahvistus3
Lähetä näytteesi meille4
Saat tulokset sähköpostiisi