XRR ohutkalvonäytteille

Röntgenheijastuvuus mittaus (XRR) ohutkalvonäytteille. Tuloksena saadaan arvot kalvon tiheydelle (g / cm3), paksuudelle (nm) sekä karheudelle (nm). Jos kalvon paksuus halutaan määrittää, niin kalvon tulee olla < 100 nm ja sen on oltava vähintään yhden suuruusluokan suurempi kuin karheus. Tiheyden määritykseen näytteen kalvon paksuus täytyy usein olla < 250 nm. Tiheyden määritys sen sijaan voidaan usein tehdä paksummastakin näytteesta. Mittaukseen soveltuva näytteen paksuus on kuitenkin näytekohtaista. Jos tarvitse lisätietoja mittauksesta juuri sinun näytteellesi, ota yhteyttä asiakaspalveluumme, niin asianuntijamme auttavat sinua!

Soveltuvat näytematriisit
Ohutkalvonäytteet, ALD-näytteet
Näytteiden minimimäärä
Optimaalinen koko 5 x 4 cm, miniminäytekoko 2 x 2 cm
Tyypillinen läpimenoaika
3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Shima Moosakhani
Shima Moosakhani

Kiinnostaako tämä mittaus?

Tämän mittauksen voi ostaa verkkokaupassa. Täytä vain muutama kenttä alla:

340 €
Ensimmäinen näyte: 340 €
Seuraavat näytteet: 210 € per näyte

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1
Valitse tarvittavat testit
tilausvahvistus
2
Vastaanota tilausvahvistus
Näytelähetys
3
Lähetä näytteesi meille
Henkilö saa sähköpostin puhelimeensa
4
Saat tulokset sähköpostiisi