Alkuainekoostumus XPS-menetelmällä
XPS on semi-kvantitatiivinen menetelmä, jolla voidaan määrittää materiaalin pinnan alkuainekoostumus. Tämän lisäksi XPS:llä saadaa tietoa alkuaineiden kemiallisista sidostiloista. Tyypillinen analyysisyvyys pinnasta on 5-10 nm ja määritysraja 0.1-1 atomi-%. XPS pystyy tunnistamaan kaikki alkuaineet, lukuunottamatta vetyä (H) ja heliumia (He).
Lisätietoja menetelmäperheestä:
XPS-analyysi (XPS)- Soveltuvat näytematriisit
- Kiinteä
- Tyypillinen läpimenoaika
- 4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Laatujärjestelmä
- Akkreditoitu testauslaboratorio
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa
1
Valitse tarvittavat testit2
Vastaanota tilausvahvistus3
Lähetä näytteesi meille4
Saat tulokset sähköpostiisiOta yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Vastaamme aina yhdessä arkipäivässä.
Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille +358 50 336 6128.