XPS-mittaus

XPS on semikvantitatiivinen tekniikka, joka mahdollistaa materiaalien pinnan alkuainekoostumuksen määrityksen. Lisäksi menetelmällä voidaan määrittää atomien sitoutumis- ja elektronitilat.

XPS on pintaherkkä tekniikka. Tyypillinen tutkimussyvyys on 3-10 nm ja havaitsemisrajat noin 0,1-1 atomiprosenttia. XPS-menetelmällä voidaan tunnistaa alkuaineet litiumista uraaniin (Li-U).

Tuotteen hinta sisältää alkuainekoostumuksen määrityksen halkaisijaltaan usean sadan mikrometrin kokoiselta alueelta. Tulokset ilmaistaan atomiprosenteissa (at.%).

Pyynnöstä mittaus voidaan kohdistaa pienemmälle alueelle. Myös syvyysprofilointi ja atomien sidostilojen määritys ovat mahdollisia. Pyydä lisätietoja menetelmän asiantuntijalta.

Soveltuvat näytematriisit
Kuiva näyte (kiinteä, jauhe, jne.)
Näytteiden minimimäärä
1x1cm
Tyypillinen läpimenoaika
3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Määritysraja
0,1 - 1 at.%
Saatavilla olevat laatujärjestelmät
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet

Hinta

Hinta per näyte (ALV 0):
460 €

Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.

Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone
...ja yli 700 muuta tyytyväistä asiakasta

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Voimme laatia tarjouksen nopeammin, kun sisällytät viestiin seuraavat tiedot:

  • Näytteiden lukumäärä ja näytemateriaalin tarkka kuvaus
  • Testaustarpeen toistuvuus: kuinka usein tarvitsette vastaavia testejä?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita myyjillemme.