Alkuainekoostumus XPS-menetelmällä

XPS on semi-kvantitatiivinen menetelmä, jolla voidaan määrittää materiaalin pinnan alkuainekoostumus. Tämän lisäksi XPS:llä saadaa tietoa alkuaineiden kemiallisista sidostiloista. Tyypillinen analyysisyvyys pinnasta on 5-10 nm ja määritysraja 0.1-1 atomi-%. XPS pystyy tunnistamaan kaikki alkuaineet, lukuunottamatta vetyä (H) ja heliumia (He).

Soveltuvat näytematriisit
Kiinteä
Tyypillinen läpimenoaika
4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Laatujärjestelmä
Akkreditoitu testauslaboratorio
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Shima Moosakhani
Shima Moosakhani

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1
Valitse tarvittavat testit
tilausvahvistus
2
Vastaanota tilausvahvistus
Näytelähetys
3
Lähetä näytteesi meille
Henkilö saa sähköpostin puhelimeensa
4
Saat tulokset sähköpostiisi

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Vastaamme aina yhdessä arkipäivässä.

Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille +358 50 336 6128.