TEM-kuvantaminen
Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM).
Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. TEM:in resoluutio on nanometrin luokkaa.
TEM-kuvantaminen edellyttää usein esikäsittelyä FIB-menetelmällä. Käsittely laskutetaan erikseen.
Tarjoamme myös korkean resoluution HR-TEM-analyysejä. Pyydä lisätietoja asiantuntijoiltamme alta löytyvällä lomakkeella.
- Soveltuvat näytematriisit
- Kuivat, kiinteät materiaalit, jauheet, ohutkalvot ja päällysteet
- Näytteiden minimimäärä
- 1x1 cm tai muutama milligramma.
- Tyypillinen läpimenoaika
- 3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Määritysraja
- - nm
- Saatavilla olevat laatujärjestelmät
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Kemikaalit
Kosmetiikka
Lääkinnälliset laitteet
Metallit ja kaivosteollisuus
Lääketeollisuus
Puolijohteet
Mikroskopia
PintatestausHinta
Hinta per näyte (ALV 0):
850 €
Summaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.
Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita +358 50 336 6128.