Poikkileikkeiden TEM-analyysi
Poikkileikkeiden läpäisyelektronimikroskopia (Cross-sectional TEM) on korkean resoluution kuvantamismenetelmä materiaalien poikkileikkauksista. Tutkittava alue voidaan valita suuremmasta kappaleesta, minkä jälkeen alue kuvataan TEM:illä. Menetelmää käytetään laajalti materiaalitieteessä ja nanoteknologiassa.
Yksinkertainen ja läpinäkyvä hinnoittelu
Poikkileikkeen HR-TEM-kuvaus + EDX + FIB
Poikkileikkeiden korkean resoluution TEM-kuvaus ja näytteen valmistus FIB:llä
TEM-kuvantaminen
TEM-kuvantaminen + EDX
Hinnat ilmoitettu ilman arvonlisäveroa (24 %).
- Nopeat tulokset
- Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
- Kilpailukykyiset hinnat
- Takuu tulosten oikeellisuudesta
Mihin poikkileike-TEM:iä käytetään?
Poikkileike-TEM:issä käytetään normaalia läpäisyelektronimikroskooppia, mutta kuvat otetaan materiaalien poikkileikkauksista. Menetelmää käytetään laajalti materiaalitieteessä, solubiologiassa ja nanoteknologiassa sellaisten materiaalien sisäisten rakenteiden kuvaamiseen, jotka ovat muuten liian suuria TEM-analyysiin.
Jos näytteen sisärakenteesta halutaan tietoa, TEM:issä näytteen paksuus voi olla enintään 100 nm. Joskus haluttu kuvantamisalue on näytteen sisällä esimerkiksi ohutkalvomateriaalien kerrosten välistä rajaa tutkittaessa. Tällaisissa tapauksissa näytteistä täytyy valmistella poikkileikkeet ennen kuvantamista.
Menetelmät poikkileikkeen valmisteluun
Yleisimmät poikkileikkeen valmistelutekniikat ovat FIB ja mikrotomi. FIB eli kohdennettu ionisuihku hyödyntää tarkkaa korkeaenergistä ionisuihkua poikkileikkausnäytteen jyrsimiseksi suuremmasta objektista. FIB- menetelmää voidaan käyttää esimerkiksi ohutkalvopinnoitteen paksuuden ja tasalaatuisuuden määrityksissä.
Toinen menetelmä tehdä poikkileikkeitä TEM:ille on mikrotomi. Mikrotomi on yksinkertainen laite, joka höylää terän avulla näytteestä 30 – 100 nm paksuisia lastuja. Terät on valmistettu lasista, teräksestä tai timantista. Mikrotomia voidaan käyttää näytteiden preparointiin pehmeistä materiaaleista, kuten luista, mineraaleista ja polymeerimateriaaleista, kuten muovista. Joskus näytteet valetaan epoksiin ennen mikrotomikäsittelyä.
Soveltuvat näytematriisit
- Materiaalit, jotka ovat liian suuria normaalille TEMille
- Ohutkalvot
- Puolijohteet
- Metallit
- Luu
- Kudokset
Läpileikkaus-TEM:in tyypillisiä käyttökohteita
- Puolijohteiden poikkileikkauskuvantaminen.
- Ohutkalvokerrosten kuvantaminen.
- Korkean resoluution kuvantaminen vika-analyysiä varten.
- Nanohiukkasten karakterisointi.
- Puolijohteiden tutkimus.
- Vianetsintä materiaalitutkimuksissa.
- Monikerroksiset ohutmateriaalianalyysit.
- Solukuvantaminen luututkimuksessa.
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita +358 50 336 6128.
Usein kysytyt kysymykset
Menetelmää käytetään, kun kiinnostava alue on näytteen sisällä tai näyte on liian suuri TEM-kuvantamista varten.
TEM tuottaa korkean resoluution 2D-kuvia.
Jotkut materiaalit voivat olla liian hauraita poikkileikkausten valmistamiseen.
TEM:illä voidaan tutkia hyvin laajasti eri materiaaleja ja poikkileikkeiden tekeminen laajentaa soveltuvien käyttökohteiden määrää entisestään. Menetelmällä voidaan tuottaa korkean resoluution kuvia kivistä ja mineraaleista, luista, metalleista, ohutkalvoista ja puolijohdemateriaaleista.
Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.
Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.
Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.