Menetelmät / TEM

TEM-analyysi

Läpäisyelektronimikroskooppi (TEM) käyttää korkean energian elektronisuihkua tarkkojen kuvien muodostamiseksi jopa alle nanometrin kokoisista kohteista. TEM-menetelmää käytetään laajalti materiaalitieteessä, mikrobiologiassa ja nanoteknologiassa.

Measur poikkileikkaus TEM
...ja yli 700 muuta tyytyväistä asiakasta

Tilaa TEM-analyysit Measurlabsilta

TEM-kuvantaminen

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. TEM:in resoluutio on nanometrin luokkaa. TEM-kuvantaminen edellyttää usein esikäsittelyä FIB-menetelmällä. Käsittely laskutetaan erikseen. Tarjoamme myös korkean resoluution HR-TEM-analyysejä. Pyydä lisätietoja asiantuntijoiltamme alta löytyvällä lomakkeella.
532–1 410 €
Lue lisää

TEM-EDX-kuvantaminen

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX tai EDS). Tyypillisessä analyysissä näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lisäksi saadaan alkuainekoostumus joko atomi- tai massaprosentteina. Tulokset voidaan ilmaista alkuainekarttana tai analysoitavan alueen tai pisteen alkuainespektrinä. Näytteet täytyy usein valmistella kuvantamista varten esimerkiksi FIB-menetelmällä. Näytevalmistelusta peritään lisämaksu. Tarjoamme myös korkean resoluution HR-TEM-kuvauksia. Voit pyytää lisätietoja analyysivaihtoehdoista tarjouspyynnön yhteydessä.
607–1 477 €
Lue lisää

Partikkelikokojakauma TEM-menetelmällä

Partikkelikokojakauma määritetään läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) otetuista kuvista. Menetelmä soveltuu parhaiten alle 50 nm kokoisille hiukkasille. Hiukkasten muodosta riippuen analyysi sisältää joko halkaisijan tai pituuksien ja leveyksien määrityksen. Koon lisäksi TEM antaa laadullista tietoa partikkelien pinnanmuodoista. Analyysi soveltuu erityisesti epäsäännöllisen muotoisille ja muille kuin pyöreille hiukkasille, jotka ovat muodoltaan esimerkiksi kuitumaisia, sauvamaisia tai kristallimaisia. Perinteisemmillä menetelmillä (LD, DLS) ei saada luotettavaa tietoa vastaavien hiukkasten kokojakaumasta. Tuloksena saadaan TEM-kuvat ja hiukkasten kokojakauma joko halkaisijaan tai pituuteen ja leveyteen suhteutettuna. Näytteiden tulee olla täysin kuivia TEM-kuvantamista varten. Kysy lisätietoja näytevalmistelusta, jos näyte vaatii kuivaamista.
1 551–2 111 €
Lue lisää

Hinnat ilmoitettu ilman arvonlisäveroa.

  • Nopeat tulokset
  • Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
  • Kilpailukykyiset hinnat
  • Takuu tulosten oikeellisuudesta

Miten TEM-analyysi toimii?

Läpäisyelektronimikroskoppin perusperiaate on samankaltainen kuin tavallisen optisen mikroskoopin. Valon sijasta TEM käyttää elektronisuihkua, joka läpäisee näytteen. Koska elektronien aallonpituus on pienempi kuin valon, muodostuneella kuvalla on paljon suurempi resoluutio verrattuna perinteiseen optiseen mikroskooppiin. Lopullinen kuva on erittäin yksityiskohtainen ja paljastaa näytteen sisäiset rakenteet. Joissakin tapauksissa on jopa mahdollista erottaa yksittäiset atomit.

Hiilinanoputki - TEM-kuva
TEM-kuva ohuella polymeerikerroksella päällystetyistä hiilinanoputkista.

Käyttökohteet

Elektroniikkateollisuus ja nanoteknologiaa kehittävät yritykset käyttävät TEM-menetelmää ja sen variaatioita, kuten STEM:iä, ohutkalvomateriaalien tutkimiseen. TEM:iä käytetään yleisesti vaurioiden ja virheiden havaitsemiseen.

TEM-analyysia voidaan käyttää myös kiinteiden näytteiden kiderakenteen määrittämiseen elektronidiffraktion avulla.

Soveltuvat näytteet

Koska TEM-kuvauksessa elektronien on läpäistävä näyte, näytteen on oltava riittävän ohut. Tyypillisesti vain alle 100 nm paksuisia näytteitä voidaan kuvata TEM:illä. Tätä paksummat näytteet voidaan ohentaa TEM-kuvattavaan muotoon esimerkiksi hiomalla tai FIB-menetelmällä (focused ion beam).

Hauraita biologisia näytteitä voidaan analysoida kryo-TEM-menetelmällä, jossa näyte pikajäädytetään ennen kuvantamista.

Tarvitsetko TEM-analyysejä?

Measurlabs tarjoaa korkealaatuisia kuvantamispalveluita TEM-, poikkileikkaus-TEM-, kryo-TEM- ja STEM-tekniikoilla. Meidän avullamme saat analyysit nopeilla toimitusajoilla myös suurille näytemäärille, mikä mahdollistaa projektiesi etenemisen ilman tarpeettomia viivästyksiä. Laajan kumppaniverkostomme ansiosta saat kaikki tarvitsemasi analyysit helposti yhdellä tilauksella, ja asiantuntijamme ovat aina valmiina tukemaan sinua menetelmän valinnassa. Ota meihin yhteyttä alla olevan lomakkeen kautta pyytääksesi tarjouksen.

Soveltuvat näytematriisit

  • Nanomittakaavan materiaalit
  • Nanopartikkelit
  • Virukset ja mikrobit
  • Puolijohteiden osat
  • Hiilinanoputket, grafeenit ja muut hiilenanomateriaalit
  • Ohutkalvopinnoitteet
  • Selluloosan nanokuidut

TEM-analyysin tyypillisiä käyttökohteita

  • Mikrobien ja virusten sisäosien tutkiminen.
  • Vika-analyysit elektroniikan valmistuksessa
  • Nanopartikkeleiden muodon ja koon määrittäminen
  • Katalyyttipartikkelien sijainnin määrittäminen kantaja-aineessa
  • Selluloosan nanokuitujen kuvantaminen
  • Hiilinanoputkien, grafeenien ja muiden hiilen nanomateriaalien kuvantaminen

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Seuraaviin kysymyksiin vastaaminen auttaa meitä laatimaan sinulle tarjouksen nopeammin:

  • Montako näytettä sinulla on ja mitä materiaalia ne ovat?

  • Onko tämä toistuva testaustarve? Jos kyllä, kuinka usein näytteitä saapuisi ja monenko näytteen erissä?

  • Vaatiiko kuvaus poikkileikenäytteiden valmistamisen? Jos kyllä, anna tähän tarkat ohjeet.

  • Millaista tietoa kuvista halutaan? Esim. partikkelikoko, morfologia, koostumus...

  • Onko näyte valmiiksi kuiva tai helposti kuivattava?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita myyjillemme.

Usein kysytyt kysymykset

Mihin TEM-analyysia yleensä käytetään?

TEM-analyysia käytetään pääasiassa elektroniikan ja nanoteknologian aloilla, mutta myös mikrobitutkimuksessa.

TEM tuottaa korkearesoluutioisia kuvia laadunvalvonnan ja vianetsinnän tarpeisiin. Laitteistoon voidaan myös yhdistää lisädetektoreja (esim. EDX tai EELS), jotka mahdollistavat alkuainekoostumuksen määrityksen kuvantamisen yhteydessä.

Mitkä ovat TEM:in rajoitteet?

Jotkut materiaalit eivät kestä suuren energian elektronisuihkua, johon TEM-analyysi perustuu. Hauraita materiaaleja voi kuitenkin olla mahdollista analysoida pikajäädytyksen jälkeen kryo-TEM-tekniikalla.

TEM-säde kulkee vain alle 100 nm paksuisten näytteiden läpi. Paksummat näytteet tulee ohentaa sopiviksi esimerkiksi FIB-tekniikalla tai mikrotomilla, mikä tekee menetelmästä näytettä vahingoittavan. Kokonaisia näytteitä voidaan analysoida esimerkiksi SAM- ja mikro-CT-tekniikoilla.

Mikä Measurlabs on?

Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.

Miten palvelu toimii?

Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.

Kuinka lähetän näytteeni?

Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.