Läpäisyelektronimikroskopia
Läpäisyelektronimikroskooppi (TEM) käyttää korkean energian elektronisuihkua korkearesoluutioisten kuvien muodostamiseksi jopa alle nanometrin kokoisista kohteista. Jos säde kulkee näytteen läpi, TEM tuottaa erittäin yksityiskohtaisia kuvia niiden sisärakenteista. Menetelmää käytetään laajalti materiaalitieteessä, mikrobiologiassa ja nanoteknologiassa.
- Nopeat tulokset
- Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
- Kilpailukykyiset hinnat
- Takuu tulosten oikeellisuudesta
Läpäisyelektronimikroskoppin perusperiaate on samanlainen kuin tavallisen optisen mikroskoopin. Valon sijasta TEM käyttää elektronisuihkua, joka läpäisee näytteen. Koska elektronien aallonpituus on pienempi kuin valon, muodostuneella kuvalla on paljon suurempi resoluutio verrattuna perinteiseen optiseen mikroskooppiin. Lopullinen kuva on erittäin yksityiskohtainen ja se paljastaa näytteen sisäiset rakenteet. Joissakin tapauksissa on jopa mahdollista erottaa yksittäiset atomit.
Elektroniikkateollisuus ja nanoteknologiaa kehittävät yrityksetkäyttävät TEM palveluita ohutkalvomateriaalien tutkimiseen. TEMiä käytetään yleisesti vaurioiden, virheiden ja epäpuhtauksien havaitsemiseen
TEMiä voidaan käyttää myös kiinteiden näytteiden kiderakenteen määrittämiseen elektronidiffraktion avulla.
Koska TEM kuvauksessa elktronien on läpäistävä näyte, näytteen on oltava riittävän ohut. Tyypillisesti alle 100nm paksut näytteet voidaan kuvata TEMillä. Tätä paksummat näytteet voidaan ohentaa TEM kuvattavaan muotoon esimerkiksi hiomalla tai FIBillä (focused ion beam).
Soveltuvat näytematriisit
- Nanomittakaavan materiaalit
- Nanopartikkelit
- Virukset ja mikrobit
- Puolijohteiden osat
- Hiilinanoputket, grafeenit ja muut hiilenanomateriaalit
- Ohutkalvopinnoitteet
- Selluloosan nanokuidut
TEMin tyypillisiä käyttökohteita
- Elektroniikan valmistuksessa vika-analyysit.
- Mikrobien ja virusten sisäosien tutkiminen.
- Nanopartikkeleiden muodon ja koon määrittäminen.
- Katalyyttipartikkeleiden sijainnin määrittäminen kantaja-aineessa.
- Selluloosan nanokuitujen kuvantaminen.
- Hiilinanoputkien, grafeenien ja muiden hiilen nanomateriaalien kuvantaminen.
Yksinkertainen ja läpinäkyvä hinnoittelu
TEM-kuvantaminen
Poikkileikkeen HR-TEM kuvaus + EDX + FIB
Hinnat ilmoitettu ilman arvonlisäveroa (24 %).
Ota yhteyttä
Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille numeroon +358 40 735 4843.
Usein kysytyt kysymykset
TEM on pääasiassa käytössä elektroniikan ja nanoteknologian aloilla, sitä käytetään myös mikrobitutkimuksessa.
Menetelmä tuottaa korkearesoluutioisia kuvia joita käytetään ohutkalvojen laadunvalvontaan ja vianetsintään.
Jotta näytettä voidaan tutkia enimmäispaksuus voi olla 100nm. Tästä johtuen näytteitä joudutaan usein käsittelemään ennen kuvantamista.
Elektronisuihku saattaa vaurioittaa joitakin materiaaleja.
Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.
Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.
Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.
Measur tarjoaa tarkat TEM-kuvantamispalvelut kaikenlaisille materiaaleille. TEM on erinomainen työkalu esimerkiksi puolijohteiden ja nanorakenteiden kuvaamiseen. TEM on hyvä menetelmä vikojen ja vaurioiden löytämiseen monenlaisista materiaaleista.