TEM-analyysi
Läpäisyelektronimikroskooppi (TEM) käyttää korkean energian elektronisuihkua korkearesoluutioisten kuvien muodostamiseksi jopa alle nanometrin kokoisista kohteista. Jos säde kulkee näytteen läpi, TEM tuottaa erittäin yksityiskohtaisia kuvia sen sisärakenteista. TEM-menetelmää käytetään laajalti materiaalitieteessä, mikrobiologiassa ja nanoteknologiassa.
- Nopeat tulokset
- Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
- Kilpailukykyiset hinnat
- Takuu tulosten oikeellisuudesta
Miten TEM-analyysi toimii?
Läpäisyelektronimikroskoppin perusperiaate on samanlainen kuin tavallisen optisen mikroskoopin. Valon sijasta TEM käyttää elektronisuihkua, joka läpäisee näytteen. Koska elektronien aallonpituus on pienempi kuin valon, muodostuneella kuvalla on paljon suurempi resoluutio verrattuna perinteiseen optiseen mikroskooppiin. Lopullinen kuva on erittäin yksityiskohtainen ja paljastaa näytteen sisäiset rakenteet. Joissakin tapauksissa on jopa mahdollista erottaa yksittäiset atomit.
Käyttökohteet
Elektroniikkateollisuus ja nanoteknologiaa kehittävät yritykset käyttävät TEM-menetelmää ohutkalvomateriaalien tutkimiseen. TEM:iä käytetään yleisesti vaurioiden, virheiden ja epäpuhtauksien havaitsemiseen
TEM-analyysia voidaan käyttää myös kiinteiden näytteiden kiderakenteen määrittämiseen elektronidiffraktion avulla.
Soveltuvat näytteet
Koska TEM-kuvauksessa elektronien on läpäistävä näyte, näytteen on oltava riittävän ohut. Tyypillisesti alle 100 nm paksuiset näytteet voidaan kuvata TEM:illä. Tätä paksummat näytteet voidaan ohentaa TEM-kuvattavaan muotoon esimerkiksi hiomalla tai FIB-menetelmällä (focused ion beam).
Soveltuvat näytematriisit
- Nanomittakaavan materiaalit
- Nanopartikkelit
- Virukset ja mikrobit
- Puolijohteiden osat
- Hiilinanoputket, grafeenit ja muut hiilenanomateriaalit
- Ohutkalvopinnoitteet
- Selluloosan nanokuidut
TEM-analyysin tyypillisiä käyttökohteita
- Mikrobien ja virusten sisäosien tutkiminen.
- Vika-analyysit elektroniikan valmistuksessa
- Nanopartikkeleiden muodon ja koon määrittäminen
- Katalyyttipartikkelien sijainnin määritt äminen kantaja-aineessa
- Selluloosan nanokuitujen kuvantaminen
- Hiilinanoputkien, grafeenien ja muiden hiilen nanomateriaalien kuvantaminen
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille +358 50 336 6128.
Usein kysytyt kysymykset
TEM-analyysia käytetään pääasiassa elektroniikan ja nanoteknologian aloilla, mutta myös mikrobitutkimuksessa.
TEM tuottaa korkearesoluutioisia kuvia laadunvalvonnan ja vianetsinnän tarpeisiin.
Jotkut materiaalit eivät kestä suuren energian elektronisuihkua, johon TEM-analyysi perustuu.
Vaikka TEM-kuvia voidaan ottaa hiukkasista, joiden koko on useita mikrometrejä, säde kulkee vain alle 100 nm paksuisten näytteiden läpi. Tätä suurempien kappaleiden sisärakennetta ei pystytä kuvaamaan.
Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.
Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.
Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.