STEM-analyysi
Pyyhkäisy-läpäisyelektronimikroskopia eli STEM mahdollistaa äärimmäisen pienten näytteiden kuvantamisen nano- tai jopa atomitasolla. Menetelmää voidaan hyödyntää esimerkiksi uusien nanomateriaalien kehityksessä.

Mihin STEM-analyysia käytetään?
STEM-menetelmää käytetään äärimmäisten pienten rakenteiden kuvantamiseen ja karakterisointiin uutta nanoteknologiaa kehitettäessä. Spektroskopiseen EELS-menetelmään yhdistettynä tietoa saadaan myös näytteen sisältämistä alkuaineista.
STEM:in avulla voidaan analysoida muun muassa puolijohdemateriaaleja, katalyyttejä ja akkumateriaaleja. Menetelmää voidaan hyödyntää myös molekyylibiologiassa.
Miten pyyhkäisy-läpivalaisuelektronimikroskopia toimii?
STEM toimii yhdistämällä kahden analyysitekniikan – läpäisyelektronimikroskopian (TEM) ja pyyhkäisyelektronimikroskopian (SEM) – periaatteet. Analyysin aikana ultraohueen näytteeseen kohdennetaan elektronisäde, joka skannaa näytteen pintaa rasterimuodostelmassa. Detektori havaitsee näytteen läpäisevät elektronit, ja laite muodostaa havaittujen elektronien perusteella kuvan näytteestä.
Sopivat näytteet ja näytteiden valmistelu
STEM-näytteiden tulee olla alle 100 nanometrin paksuisia, sillä elektronien on pystyttävä läpäisemään näyte. Tarvittaessa näytemateriaalia voidaan ohentaa sopivaksi esimerkiksi FIB-tekniikalla. Näytevalmistelun aikana on parhaan mukaan vältettävä epäpuhtauksien päätymistä näytteeseen.
STEM-tekniikan edut ja rajoitteet
STEM:in mahdollistama skannaus antaa paremman kokonaiskuvan näytteestä perinteiseen TEM:iin verrattuna. Myös äärimmäisen korkea resoluution lukeutuu STEM:in vahvuuksiin: laitteesta riippuen resoluutio voi olla noin 0,2 nanometriä tai parhaimmillaan jopa noin 50 pikometriä.
Haasteita ovat riittävän ohuen näytteen valmistelu ja näytteen yhteensopivuuden varmistaminen tyhjiöolosuhteiden kanssa. STEM-analyysissa käytetty elektronisäde voi myös vahingoittaa joitain näytetyyppejä.
Tarvitsetko STEM-analyysejä?
Measurlabs tarjoaa laboratorioanalytiikkaa STEM:llä ja perinteisillä TEM-tekniikoilla. Toimitamme laadukkaat tulokset lyhyillä toimitusajoilla, myös suurille näyte-erille. Asiakasportaalissa tilaat mittaukset ja seuraat projektien edistymistä helposti, ja asiantuntijamme auttavat tarvittaessa testisuunnitelmien laatimisessa ja sopivien menetelmien valinnassa. Ota yhteyttä alta löytyvällä lomakkeella, niin laadimme tarpeisiisi sopivan tarjouksen.
Soveltuvat näytematriisit
- Ohutkalvot
- Puolijohteet
- Nanomateriaalit
- Mikrobiologiset näytteet
STEM-analyysin yleisiä käyttötarkoituksia
- Ohutkalvojen kuvantaminen
- Puolijohde- ja nanomateriaalien tuotekehitys ja laadunvalvonta
Ota yhteyttä
Vastaamme viesteihin yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.
Usein kysytyt kysymykset
STEM-tekniikkaa hyödynnetään erityisesti ohutkalvojen ja muiden nanomateriaalien tuotekehityksessä ja laadunvalvonnassa.