STEM-analyysi

Pyyhkäisy-läpäisyelektronimikroskopia eli STEM mahdollistaa äärimmäisen pienten näytteiden kuvantamisen nano- tai jopa atomitasolla. Menetelmää voidaan hyödyntää esimerkiksi uusien nanomateriaalien kehityksessä.

STEM-analyysi
Kone logoNeste logoFermion logoPlanmeca logoSulapac logoOkmetic logo

Mihin STEM-analyysia käytetään?

STEM-menetelmää käytetään äärimmäisten pienten rakenteiden kuvantamiseen ja karakterisointiin uutta nanoteknologiaa kehitettäessä. Spektroskopiseen EELS-menetelmään yhdistettynä tietoa saadaan myös näytteen sisältämistä alkuaineista.

STEM:in avulla voidaan analysoida muun muassa puolijohdemateriaaleja, katalyyttejä ja akkumateriaaleja. Menetelmää voidaan hyödyntää myös molekyylibiologiassa.

Miten pyyhkäisy-läpivalaisuelektronimikroskopia toimii?

STEM toimii yhdistämällä kahden analyysitekniikan – läpäisyelektronimikroskopian (TEM) ja pyyhkäisyelektronimikroskopian (SEM) – periaatteet. Analyysin aikana ultraohueen näytteeseen kohdennetaan elektronisäde, joka skannaa näytteen pintaa rasterimuodostelmassa. Detektori havaitsee näytteen läpäisevät elektronit, ja laite muodostaa havaittujen elektronien perusteella kuvan näytteestä.

Sopivat näytteet ja näytteiden valmistelu

STEM-näytteiden tulee olla alle 100 nanometrin paksuisia, sillä elektronien on pystyttävä läpäisemään näyte. Tarvittaessa näytemateriaalia voidaan ohentaa sopivaksi esimerkiksi FIB-tekniikalla. Näytevalmistelun aikana on parhaan mukaan vältettävä epäpuhtauksien päätymistä näytteeseen.

STEM-tekniikan edut ja rajoitteet

STEM:in mahdollistama skannaus antaa paremman kokonaiskuvan näytteestä perinteiseen TEM:iin verrattuna. Myös äärimmäisen korkea resoluution lukeutuu STEM:in vahvuuksiin: laitteesta riippuen resoluutio voi olla noin 0,2 nanometriä tai parhaimmillaan jopa noin 50 pikometriä.

Haasteita ovat riittävän ohuen näytteen valmistelu ja näytteen yhteensopivuuden varmistaminen tyhjiöolosuhteiden kanssa. STEM-analyysissa käytetty elektronisäde voi myös vahingoittaa joitain näytetyyppejä.

Tarvitsetko STEM-analyysejä?

Measurlabs tarjoaa laboratorioanalytiikkaa STEM:llä ja perinteisillä TEM-tekniikoilla. Toimitamme laadukkaat tulokset lyhyillä toimitusajoilla, myös suurille näyte-erille. Asiakasportaalissa tilaat mittaukset ja seuraat projektien edistymistä helposti, ja asiantuntijamme auttavat tarvittaessa testisuunnitelmien laatimisessa ja sopivien menetelmien valinnassa. Ota yhteyttä alta löytyvällä lomakkeella, niin laadimme tarpeisiisi sopivan tarjouksen.

Soveltuvat näytematriisit

  • Ohutkalvot
  • Puolijohteet
  • Nanomateriaalit
  • Mikrobiologiset näytteet

STEM-analyysin yleisiä käyttötarkoituksia

  • Ohutkalvojen kuvantaminen
  • Puolijohde- ja nanomateriaalien tuotekehitys ja laadunvalvonta

Ota yhteyttä

Vastaamme viesteihin yhdessä arkipäivässä.

Seuraaviin kysymyksiin vastaaminen auttaa meitä laatimaan sinulle tarjouksen nopeammin:

  • Vaatiiko kuvaus poikkileikenäytteiden valmistamisen? Jos kyllä, anna tähän tarkat ohjeet.

  • Millaista tietoa kuvista halutaan?

  • Onko näyte valmiiksi kuiva tai helposti kuivattava?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita myyjillemme.

Usein kysytyt kysymykset

Mihin STEM-tekniikkaa käytetään?

STEM-tekniikkaa hyödynnetään erityisesti ohutkalvojen ja muiden nanomateriaalien tuotekehityksessä ja laadunvalvonnassa.