Testauspalvelut

Tältä sivulta löydät valikoiman Measurlabsin suosituimpia testauspalveluita. Voit suodattaa testivalikoimaa toimialan tai materiaalin, testityypin ja mittauslaitteen mukaan. Otathan meihin yhteyttä, jos et löydä etsimääsi analyysiä.

Pintojen SEM-kuvantaminen

SEM-kuvantamisen aikana näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Resoluutio on huomattavasti korkeampi kuin optisella mikroskoopilla. Lue lisää

Pintojen SEM-EDX kuvaus

Pintojen kuvaaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX, EDS). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lue lisää

AFM - pinnankarheuden määrittäminen

Analyysissa näytteen pinnankarheus (RMS) määritetään atomivoimamikroskoopilla (AFM). Hintaan kuuluu mittaus kolmesta pisteestä. Mittausalueena käytetään 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita. Testiraportti sisältää RMS-arvon lisäksi 2D kuvan, 3D … Lue lisää

Partikkelien koon ja muodon määrittäminen kuva-analysaattorilla

Partikkelikokojakauman (PSD) ja partikkelien muodon määritys kuva-analysaattorilla. Kuva-analyysin avulla voidaan karakterisoida mm. kuitumaisten, sauvamaisten ja kristallimaisten partikkelien kokoa ja … Lue lisää

Poikkileikkeen HR-TEM-kuvaus + EDX + FIB

Poikkileikkeen korkean resoluution TEM-EDX-kuvaus FIB-näytteenvalmistelulla koostuu seuraavista vaiheista: Näytteestä valmistellaan poikkileike kohdennetun ionisuihkun (FIB) avulla. , Poikkileike kuvataan korkean resoluution … Lue lisää

Poikkileikkeiden korkean resoluution TEM-kuvaus ja näytteen valmistus FIB:llä

Poikkileikkeiden kuvaaminen korkearesoluutioisella läpäisyelektronimikroskoopilla (HR-TEM). Näyte valmistetaan kohdennetulla ionisuihkulla (FIB). Tuloksena saadaan hyvin tarkkoja … Lue lisää

TEM-kuvantaminen

Näytteen kuvaaminen läpivalaisuelektronimikroskoopilla (TEM). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lue lisää

Partikkelikokojakauman määritys SEM:lla

Partikkelikokojakauman (PSD) määritys pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) otetuista kuvista. Menetelmässä lasketaan joko partikkelien halkaisija- tai leveys- ja pituusjakauma (riippuu partikkelien muodosta) 300:sta partikkelista. Koon … Lue lisää

Etkö löydä etsimääsi?

Vain pieni osa mittauspalveluistamme on listattu nettisivuilla. Jos et löydä etsimääsi, älä epäröi ottaa yhteyttä!

Poikkileike-SEM leveällä ionisäteellä (BIB)

Analyysi sisältää poikkileikenäytteen valmistelun BIB-tekniikalla (Broad Ion Beam) ja näytteen pinnan kuvantamisen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Lue lisää

TEM-kuvantaminen + EDX

Näytteen kuvaaminen läpivalaisuelektronimikroskoopilla (TEM). Lisäksi näytteen alkuainekoostumus tunnistetaan energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lue lisää

AFM-kuvantaminen sileille pinnoille

Analyysin aikana näytteen pinta kuvannetaan atomivoimamikroskoopilla (AFM). Tyypillisesti näytteestä otetaan topologisia kuvia useasta eri kohdasta. Mittausalue on 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita. Lue lisää

Optinen mikoskopia (valomikroskooppi)

Näytteen kuvaaminen optisella mikroskoopilla (valomikroskoopilla). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lue lisää

Poikkileike-SEM jäädytyslohkaistusta näytteestä

Poikkileikenäyte valmistellaan jäädytyslohkaisun avulla: ensin näyte jäädytetään nestetypessä (-195 C°), minkä jälkeen jäädytetty näyte halkaistaan kahtia. Murrettu poikkipinta kuvataan pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). … Lue lisää

Poikkileike-SEM kohdennetulla ionisäteellä (FIB)

Analyysin aluksi poikkileikenäyte valmistellaan kohdennetulla ionisäteellä (Focused Ion Beam, FIB). Tämän jälkeen poikkileikkeen pinta kuvataan pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Lue lisää

Pintojen skriinaus SEM-kuvantamisella

Tässä analyysissa näytteestä skriinataan SEM-laitteella laajempi alue tarkempaa tutkimusta edellyttävän alueen löytämiseksi. Tarkoituksena on yleensä löytää kohta tai kohtia, joissa esiintyy naarmuja tai epäpuhtauksia. Tällaisten kohtien … Lue lisää

Poikkileike-SEM-EDX leveällä ionisäteellä (BIB)

Analyysiin sisältyy poikkileikkeen valmistelu BIB-tekniikalla, poikkileikkeen pinnan kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja alkuaineiden määritys EDX-tekniikalla. Poikkileikkeen leveys on noin 1 mm. Lue lisää

Halkaisijan pituuspainotetun geometrisen keskiarvon (LWGMD) analyysi

Kuitujen halkaisijan pituuspainotetun geometrisen keskiarvon (LWGMD) analyysi suoritetaan SEM:llä mukaillen EU-komission asetusta (EC) No 761/2009. Hinta sisältää näytteen murskaamisen 10 MPa:n … Lue lisää

Poikkileikkeen valmistus BIB-tekniikalla

Poikkileikkeen valmistus suuremmasta näytekappaleesta BIB-menetelmällä (eng. Broad Ion Beam). Lue lisää

Alveolijakeinen pöly huoneilmassa

Mittauksessa määritetään alveolijakeisen pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua, jotka toimitetaan asiakkaalle näytteenottoa varten. Alveolijakeisella pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, joiden aerodynaaminen halkaisija on < 4 µm. … Lue lisää

Hengittyvä ja alveolijakeinen pöly huoneilmassa (EN 481:1993 ja ISO 7708:1995)

Mittauksessa määritetään sekä hengittyvän että alveolijakeisen pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua. Alveolijakeisella pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, … Lue lisää

Hengittyvä pöly huoneilmassa

Mittauksessa määritetään hengittyvän pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua, jotka toimitetaan asiakkaalle tilauksen yhteydessä. Hengitettävällä pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, joiden aerodynaaminen halkaisija on <100 µm. … Lue lisää

Jauheen ominaispinta-ala suhteessa tilavuuteen

Tilavuuteen suhteutettu ominaispinta-ala (eng. volume specific surface area, VSSA) voidaan laskea N2-adsorption ja BET-menetelmän avulla määritetyn ominaispinta-alan ja He-pyknometrillä määritetyn tiheyden perusteella. Mittaus on … Lue lisää

Testaustyyppi

Ala tai materiaali

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Seuraaviin kysymyksiin vastaaminen auttaa meitä laatimaan sinulle tarjouksen nopeammin:

  • Montako näytettä sinulla on ja mitä materiaalia ne ovat?
  • Onko tämä toistuva testaustarve? Jos on, niin kuinka usein näytteitä saapuisi ja monenko näytteen erissä?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita +358 50 336 6128.