Testauspalvelut
Tältä sivulta löydät valikoiman Measurlabsin suosituimpia testauspalveluita. Voit suodattaa testivalikoimaa toimialan tai materiaalin, testityypin ja mittauslaitteen mukaan. Otathan meihin yhteyttä, jos et löydä etsimääsi analyysiä.Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Pintojen SEM-kuvantaminen
SEM-kuvantamisen aikana näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Resoluutio on huomattavasti korkeampi kuin optisella mikroskoopilla. Lue lisää
Pintojen SEM-EDX kuvaus
Pintojen kuvaaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX, EDS). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lue lisää
Partikkelien koon ja muodon määrittäminen kuva-analysaattorilla
Partikkelikokojakauman (PSD) ja partikkelien muodon määritys kuva-analysaattorilla. Kuva-analyysin avulla voidaan karakterisoida mm. kuitumaisten, sauvamaisten ja kristallimaisten partikkelien kokoa ja … Lue lisää
AFM - pinnankarheuden määrittäminen
Analyysissa näytteen pinnankarheus (RMS) määritetään atomivoimamikroskoopilla (AFM). Hintaan kuuluu mittaus kolmesta pisteestä. Mittausalueena käytetään 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita. Testiraportti sisältää RMS-arvon lisäksi 2D kuvan, 3D … Lue lisää
Poikkileikkeen HR-TEM-kuvaus + EDX + FIB
Poikkileikkeen korkean resoluution TEM-EDX-kuvaus FIB-näytteenvalmistelulla koostuu seuraavista vaiheista: Näytteestä valmistellaan poikkileike kohdennetun ionisuihkun (FIB) avulla. , Poikkileike kuvataan korkean resoluution … Lue lisää
Poikkileikkeiden korkean resoluution TEM-kuvaus ja näytteen valmistus FIB:llä
Poikkileikkeiden kuvaaminen korkearesoluutioisella läpäisyelektronimikroskoopilla (HR-TEM). Näyte valmistetaan kohdennetulla ionisuihkulla (FIB). Tuloksena saadaan hyvin tarkkoja … Lue lisää
TEM-kuvantaminen
Näytteen kuvaaminen läpivalaisuelektronimikroskoopilla (TEM). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lue lisää
TEM-kuvantaminen + EDX
Näytteen kuvaaminen läpivalaisuelektronimikroskoopilla (TEM). Lisäksi näytteen alkuainekoostumus tunnistetaan energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lue lisää
AFM-kuvantaminen sileille pinnoille
Analyysin aikana näytteen pinta kuvannetaan atomivoimamikroskoopilla (AFM). Tyypillisesti näytteestä otetaan topologisia kuvia useasta eri kohdasta. Mittausalue on 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita. Lue lisää
Partikkelikokojakauman määritys SEM:lla
Partikkelikokojakauman (PSD) määritys pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) otetuista kuvista. Menetelmä on optimaalisin partikkeleille, joiden koko on 200 nm - 200 µm välillä. Menetelmässä lasketaan joko partikkelien halkaisija- tai … Lue lisää
Poikkileike-SEM kohdennetulla ionisäteellä (FIB)
Analyysin aluksi poikkileikenäyte valmistellaan kohdennetulla ionisäteellä (Focused Ion Beam, FIB). Tämän jälkeen poikkileikkeen pinta kuvataan pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Lue lisää
Halkaisijan pituuspainotetun geometrisen keskiarvon (LWGMD) analyysi
Kuitujen halkaisijan pituuspainotetun geometrisen keskiarvon (LWGMD) analyysi suoritetaan SEM:llä mukaillen EU-komission asetusta (EC) No 761/2009. Hinta sisältää näytteen murskaamisen 10 MPa:n … Lue lisää
Kvalitatiivinen SEM-nanopartikkelianalyysi EFSA:n ohjeen mukaisesti
Kvalitatiivinen nanopartikkelien analyysi SEM-menetelmällä kertoo, sisältääkö näyte partikkeleja, joiden koko on < 500 nm. Tulokset sisältävät useita SEM kuvia (yleiskuvia sekä kuvia pienimmistä … Lue lisää
Kvantitatiivinen SEM nanopartikkelianalyysi EFSA:n ohjeen mukaisesti
Tämä analyysi on jatkoa analyysille "Kvalitatiivinen SEM nanopartikkelianalyysi EFSA:n ohjeen mukaisesti". Kvalitatiivinen analyysi määrittää, sisältääkö näyte partikkeleita, joiden koko on < 500 … Lue lisää
Poikkileike-SEM jäädytyslohkaistusta näytteestä
Poikkileikenäyte valmistellaan jäädytyslohkaisun avulla: ensin näyte jäädytetään nestetypessä (-195 C°), minkä jälkeen jäädytetty näyte halkaistaan kahtia. Murrettu poikkipinta kuvataan pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). … Lue lisää
Poikkileike-SEM leveällä ionisäteellä (BIB)
Analyysi sisältää poikkileikenäytteen valmistelun BIB-tekniikalla (Broad Ion Beam) ja näytteen pinnan kuvantamisen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Lue lisää
Alveolijakeinen pöly huoneilmassa
Mittauksessa määritetään alveolijakeisen pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua, jotka toimitetaan asiakkaalle näytteenottoa varten.
Alveolijakeisella pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, joiden aerodynaaminen halkaisija on < 4 µm. … Lue lisää
Hengittyvä ja alveolijakeinen pöly huoneilmassa (EN 481:1993 ja ISO 7708:1995)
Mittauksessa määritetään sekä hengittyvän että alveolijakeisen pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua.
Alveolijakeisella pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, … Lue lisää
Hengittyvä pöly huoneilmassa
Mittauksessa määritetään hengittyvän pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua, jotka toimitetaan asiakkaalle tilauksen yhteydessä.
Hengitettävällä pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, joiden aerodynaaminen halkaisija on <100 µm. … Lue lisää
Nanopartikkelien kristallisuus XRD:llä EFSA:n ohjeen mukaisesti
Partikkelien kristallisuuden (kristallinen, amorfinen) määritys XRD:n avulla. Lisäksi määritetään < 500 nm suuruisten partikkelien osuus. Analyysi tehdään EFSA:n ohjeen mukaisesti. XRD-analyysin tekemistä … Lue lisää
Poikkileike-SEM-EDX leveällä ionisäteellä (BIB)
Analyysiin sisältyy poikkileikkeen valmistelu BIB-tekniikalla, poikkileikkeen pinnan kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja alkuaineiden määritys EDX-tekniikalla. Poikkileikkeen leveys on noin 1 mm. Lue lisää
Pintojen skriinaus SEM-kuvantamisella
Tässä analyysissa näytteestä skriinataan SEM-laitteella laajempi alue tarkempaa tutkimusta edellyttävän alueen löytämiseksi. Tarkoituksena on yleensä löytää kohta tai kohtia, joissa esiintyy naarmuja tai epäpuhtauksia. Tällaisten kohtien … Lue lisää
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita +358 50 336 6128.