Testauspalvelut

Näytteen kuvaaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX, EDS). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Tuloksena saadaan myös …

Näytteen kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Näytteestä otetaan yleensä useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella analyysiä varten päällystämällä ne ohuella metallikerroksella. Näytteestä …

Analyysissa näytteen pinnankarheus (RMS) määritetään atomivoimamikroskoopilla (AFM). Hintaan kuuluu mittaus kolmesta pisteestä. Mittausalueena käytetään 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita. Testiraportti sisältää RMS-arvon lisäksi 2D kuvan, 3D …

Partikkelikokojakauman (PSD) ja partikkelien muodon määritys kuva-analysaattorilla. Kuva-analyysin avulla voidaan karakterisoida mm. kuitumaisten, sauvamaisten ja kristallimaisten partikkelien kokoa ja …

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX tai EDS). Tyypillisessä analyysissä näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lisäksi …

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. TEM:in resoluutio on nanometrin luokkaa. TEM-kuvantaminen edellyttää usein esikäsittelyä FIB-menetelmällä. Käsittely …

BIB-menetelmällä (engl. Broad Ion Beam) voidaan siloittaa näytteen pintaa tai valmistaa laadukkaita poikkileikkeitä SEM-kuvantamista varten.

Analyysin aikana näytteen pinta kuvannetaan atomivoimamikroskoopilla (AFM). Tyypillisesti näytteestä otetaan topologisia kuvia useasta eri kohdasta. Mittausalue on 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita.

Näytteen kuvaaminen optisella mikroskoopilla (valomikroskoopilla). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi.

Tilavuuteen suhteutettu ominaispinta-ala (engl. volume specific surface area, VSSA) voidaan laskea N2-adsorption ja BET-menetelmän avulla määritetyn ominaispinta-alan ja He-pyknometrillä määritetyn tiheyden perusteella. Mittaus on …

Näytteen sisäisten rakenteiden 3D-kuvantaminen mikrotietokonetomografialla (mikro-CT), joka ei vahingoita näytettä. Menetelmällä saadaan tietoa kiinteiden rakenteiden tiheydestä, sisäisistä halkeamista, tyhjiöistä ja faasijakaumista. Analyysi soveltuu parhaiten jauhemaisille …

Näytteen valmistelu elektronimikroskopiaa varten kohdennetulla ionisuihkulla (FIB, Focused Ion Beam). Menetelmä on eritäin tarkka, ja sillä voidaan valmistaa hyvin ohuita näytekappaleita SEM- tai TEM-kuvantamista varten. Hintaan kuuluu vain …

Partikkelikokojakauma määritetään läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) otetuista kuvista. Menetelmä soveltuu parhaiten alle 50 nm kokoisille hiukkasille. Hiukkasten muodosta riippuen analyysi sisältää joko halkaisijan tai pituuksien ja …

Mittauksessa määritetään alveolijakeisen pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua, jotka toimitetaan asiakkaalle näytteenottoa varten. Alveolijakeisella pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, joiden aerodynaaminen halkaisija on < 4 µm. …

Mittauksessa määritetään sekä hengittyvän että alveolijakeisen pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua. Alveolijakeisella pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, joiden aerodynaaminen …

Mittauksessa määritetään hengittyvän pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua, jotka toimitetaan asiakkaalle tilauksen yhteydessä. Hengitettävällä pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, joiden aerodynaaminen halkaisija on <100 µm. …