Testauspalvelut
Tältä sivulta löydät valikoiman Measurlabsin suosituimpia testauspalveluita. Voit suodattaa testivalikoimaa toimialan tai materiaalin, testityypin ja mittauslaitteen mukaan. Otathan meihin yhteyttä, jos et löydä etsimääsi analyysiä.Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Pintojen SEM-kuvantaminen
SEM-kuvantamisen aikana näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Resoluutio on huomattavasti korkeampi kuin optisella mikroskoopilla. Lue lisää
Mikromuovien analysointi vedestä tai maasta (µRaman)
Mikromuovien määritys vesi- tai maanäytteistä Raman-spektroskopialla.
Analyysin tuloksena saadaan erityyppiset polymeerit koon mukaan lajiteltuina, esimerkiksi: 1–10 µm, 10–100 µm ja 100–1000 µm. Lue lisää
Pintojen SEM-EDX kuvaus
Pintojen kuvaaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX, EDS). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lue lisää
Partikkelien kokojakauman määritys laserdiffraktiolla dispersioista
ISO 13320
Partikkelikokojakauman (PSD) määritys laserdiffraktiolla (LD). Analyysi voidaan tehdä joko dispersioista tai kiinteistä aineista, jotka voidaan dispergoida veteen tai orgaanisiin … Lue lisää
Partikkelien kokojakauman määritys laserdiffraktiolla kiinteistä näytteistä
ISO 13320
Partikkelikokojakauman (PSD) määritys laserdiffraktiolla (LD). Analyysi tehdään kiinteistä näytteistä. Menetelmä soveltuu 0,4–2000 µm kokoisille partikkeleille. … Lue lisää
Partikkelien koon ja muodon määrittäminen kuva-analysaattorilla
Partikkelikokojakauman (PSD) ja partikkelien muodon määritys kuva-analysaattorilla. Kuva-analyysin avulla voidaan karakterisoida mm. kuitumaisten, sauvamaisten ja kristallimaisten partikkelien kokoa ja … Lue lisää
Mikromuovit py-GC/MS -menetelmällä, tavanomaiset jätevedet
Analyysissä määritetään kymmenen yleisen muovityypin (PE, PP, PS, ABS, PVC, PET, PC, PMMA, PA66) pitoisuus pyrolyysi-GC/MS menetelmällä. Menetelmässä mikromuovit suodatetaan näytteestä ja tulokset raportoidaan … Lue lisää
Partikkelikokojakauman määritys SEM:lla
Partikkelikokojakauman (PSD) määritys pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) otetuista kuvista. Menetelmä on optimaalisin partikkeleille, joiden koko on 200 nm - 200 µm välillä. Menetelmässä lasketaan joko partikkelien halkaisija- tai … Lue lisää
Mikromuovit filtteristä
Mikromuovien määritys Raman-spektroskopialla suoraan soveltuvalta filtteriltä.
Analyysin tuloksena saadaan erityyppiset polymeerit koon mukaan lajiteltuina, esimerkiksi: 1–10 µm, 10–100 µm ja 100–1000 µm. Lue lisää
Poikkileike-SEM kohdennetulla ionisäteellä (FIB)
Analyysin aluksi poikkileikenäyte valmistellaan kohdennetulla ionisäteellä (Focused Ion Beam, FIB). Tämän jälkeen poikkileikkeen pinta kuvataan pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Lue lisää
Zeta-potentiaalin määritys
Zeta-potentiaalin määritys partikkelin ja liuottimen välillä. Lue lisää
Halkaisijan pituuspainotetun geometrisen keskiarvon (LWGMD) analyysi
Kuitujen halkaisijan pituuspainotetun geometrisen keskiarvon (LWGMD) analyysi suoritetaan SEM:llä mukaillen EU-komission asetusta (EC) No 761/2009. Hinta sisältää näytteen murskaamisen 10 MPa:n … Lue lisää
Jauheen valuvuuden määritys
Jauhemaisen kiinteän materiaalin valuvuusominaisuuksien määritys ASTM D6393 -standardin mukaisesti. Mittaus sisältää mm. seuraavat määritykset: Valumiskulma, Irtotiheys, Tärytiheys, Puristuvuus, Koheesio. Lue lisää
Kvalitatiivinen SEM-nanopartikkelianalyysi EFSA:n ohjeen mukaisesti
Kvalitatiivinen nanopartikkelien analyysi SEM-menetelmällä kertoo, sisältääkö näyte partikkeleja, joiden koko on < 500 nm. Tulokset sisältävät useita SEM kuvia (yleiskuvia sekä kuvia pienimmistä … Lue lisää
Kvantitatiivinen SEM nanopartikkelianalyysi EFSA:n ohjeen mukaisesti
Tämä analyysi on jatkoa analyysille "Kvalitatiivinen SEM nanopartikkelianalyysi EFSA:n ohjeen mukaisesti". Kvalitatiivinen analyysi määrittää, sisältääkö näyte partikkeleita, joiden koko on < 500 … Lue lisää
Ominaispinta-ala ja huokoskoko BET-menetelmällä
BET (Brunauer–Emmett–Teller) -analyysi kiinteiden materiaalien ominaispinta-alan ja huokoskokojakauman määrittämiseen. Lue lisää
Poikkileike-SEM jäädytyslohkaistusta näytteestä
Poikkileikenäyte valmistellaan jäädytyslohkaisun avulla: ensin näyte jäädytetään nestetypessä (-195 C°), minkä jälkeen jäädytetty näyte halkaistaan kahtia. Murrettu poikkipinta kuvataan pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). … Lue lisää
Poikkileike-SEM leveällä ionisäteellä (BIB)
Analyysi sisältää poikkileikenäytteen valmistelun BIB-tekniikalla (Broad Ion Beam) ja näytteen pinnan kuvantamisen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Lue lisää
Alveolijakeinen pöly huoneilmassa
Mittauksessa määritetään alveolijakeisen pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua, jotka toimitetaan asiakkaalle näytteenottoa varten.
Alveolijakeisella pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, joiden aerodynaaminen halkaisija on < 4 µm. … Lue lisää
Hengittyvä ja alveolijakeinen pöly huoneilmassa (EN 481:1993 ja ISO 7708:1995)
Mittauksessa määritetään sekä hengittyvän että alveolijakeisen pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua.
Alveolijakeisella pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, … Lue lisää
Hengittyvä pöly huoneilmassa
Mittauksessa määritetään hengittyvän pölyn määrä sisäilmasta käyttämällä näytekeräintä ja pumppua, jotka toimitetaan asiakkaalle tilauksen yhteydessä.
Hengitettävällä pölyllä tarkoitetaan hiukkasia, joiden aerodynaaminen halkaisija on <100 µm. … Lue lisää
Mikromuovit py-GC/MS -menetelmällä, puhtaat vedet
Analyysissä määritetään kymmenen yleisen muovityypin (PE, PP, PS, ABS, PVC, PET, PC, PMMA, PA66) pitoisuus pyrolyysi-GC/MS menetelmällä. Menetelmässä mikromuovit suodatetaan näytteestä ja tulokset raportoidaan µg/l muodossa … Lue lisää
Nanopartikkelien kristallisuus XRD:llä EFSA:n ohjeen mukaisesti
Partikkelien kristallisuuden (kristallinen, amorfinen) määritys XRD:n avulla. Lisäksi määritetään < 500 nm suuruisten partikkelien osuus. Analyysi tehdään EFSA:n ohjeen mukaisesti. XRD-analyysin tekemistä … Lue lisää
Poikkileike-SEM-EDX leveällä ionisäteellä (BIB)
Analyysiin sisältyy poikkileikkeen valmistelu BIB-tekniikalla, poikkileikkeen pinnan kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja alkuaineiden määritys EDX-tekniikalla. Poikkileikkeen leveys on noin 1 mm. Lue lisää
Pintojen skriinaus SEM-kuvantamisella
Tässä analyysissa näytteestä skriinataan SEM-laitteella laajempi alue tarkempaa tutkimusta edellyttävän alueen löytämiseksi. Tarkoituksena on yleensä löytää kohta tai kohtia, joissa esiintyy naarmuja tai epäpuhtauksia. Tällaisten kohtien … Lue lisää
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita +358 50 336 6128.