Pinnan AFM-kuvantaminen

Pintojen kuvaaminen atomivoimamikroskoopilla. Tyypillisesti näytteestä otetaan topologisia kuvia useasta eri kohdasta. Mittausalueena käytetään 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita.

Soveltuvat näytematriisit
Sileät, kovat pinnat kuten piikiekko tai lasi.
Näytteiden minimimäärä
1 x 1 cm
Tyypillinen läpimenoaika
4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Määritysraja
0,1 nm
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Kia Bertula
Kia Bertula

Kiinnostaako tämä mittaus?

Tämän mittauksen voi ostaa verkkokaupassa. Täytä vain muutama kenttä alla:

354 €
Ensimmäinen näyte: 354 €
Seuraavat näytteet: 162 € per näyte

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

ringing phone

Tilaaminen on helppoa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1.Tilaa mittauspalvelu tai kysy neuvoa.
Laatikkoon pakattu lähetys
2.Lähetä näytteesi meille.
Laborantti suorittamassa mittauksia
3.Mittaamme raaka-aineesi tai tuotteesi.
Analyysiraportti kirjekuoren sisällä
4.Saat mittausraportin ja tulokset sähköpostiisi.