Pinnan AFM-kuvantaminen

Pintojen kuvaaminen atomivoimamikroskoopilla. Tyypillisesti näytteestä otetaan topologisia kuvia useasta eri kohdasta. Mittausalueena käytetään 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita.

Soveltuvat näytematriisit
Sileät, kovat pinnat kuten piikiekko tai lasi.
Näytteiden minimimäärä
1 x 1 cm
Tyypillinen läpimenoaika
4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Määritysraja
0,1 nm
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Kia Bertula
Kia Bertula

Kiinnostaako tämä mittaus?

Tämän mittauksen voi ostaa verkkokaupassa. Täytä vain muutama kenttä alla:

396 €
Ensimmäinen näyte: 396 €
Seuraavat näytteet: 181 € per näyte

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1
Valitse tarvittavat testit
tilausvahvistus
2
Vastaanota tilausvahvistus
Näytelähetys
3
Lähetä näytteesi meille
Henkilö saa sähköpostin puhelimeensa
4
Saat tulokset sähköpostiisi