Atomivoimamikroskopia

Atomivoimamikroskopiaa (AFM) käytetään pintojen topologian analysointiin. AFM:lla saadaan korkean resoluution kuvia, joista voidaan analysoida pinnan muotoja ja karheutta.

  • Nopeat tulokset
  • Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
  • Kilpailukykyiset hinnat
  • Takuu tulosten oikeellisuudesta

Atomivoimamikroskopia

Atomivoimamikroskopiaa (atomic force microscopy, AFM) käytetään pinnan topografian analysoimiseen. AFM:lla saadaan korkearesoluutioisia kuvia pinnoista, joita voidaan käyttää myös pinnan muotojen ja karheuden analysoimiseen

AFM:ssä näyte skannataan taipuisalla “tukivarrella”, jonka päässä on erittäin pieni mittapää. Tukivartta liikutetaan pystysuunnassa takaisinkytkentäsilmukan avulla, jotta kärjen ja näytteen välinen vuorovaikutus pysyy vakiona. Näytteen pintatopografia muodostetaan analysoimalla tukivarren pystysuuntaisia liikkeitä. Tukivarteen on kohdistettu lasersäde, jonka liikettä seurataan fotodiodin (PSPD) avulla.

Vuorovaikutusvoimat

AFM perustuu mittapään kärjen ja näytteen pinnan välisiin vuorovaikutusvoimiin. Mitä lähempänä kärki on näytteen pintaan, sitä suuremmat ovat kärjen ja näytteen väliset hylkivät vuorovaikutukset, jotka syntyvät atomiorbitaalien lähentymisestä. Palautesilmukan toiminta perustuu kärjen ja näytteen välisiin vuorovaikutuksiin.

Kontaktimoodi

Kontaktimoodissa anturin kärki on jatkuvassa fyysisessä kosketuksessa näytteen pinnan kanssa ja tukivarren pystysuuntainen taipuma pidetään vakiona skannauksen ajan kontaktimoodilla saadaan usein aikaiseksi parhain resoluution, mutta kärjen liikkuminen saattaa vahingoittaa näytettä.

Kosketusmoodi

Kosketusmoodi skannaa pinnan värähtelevän kärjen avulla. Kosketusmoodi käyttää tukivarren värähtelyn amplitudia havaitsemaan muutokset kärjen ja näytteen välisissä vuorovaikutuksissa. Kosketusmoodilla saadaan lähes yhtä hyvän resoluution kuvia kuin kontaktimoodissa, mutta näyte ei vahingoitu yhtä helposti, sillä kärki vain hipaisee näytteen pintaa skannauksen aikana.

Ei-kosketusmoodi

Ei-kontaktimoodissa kärki ei ole ollenkaan kosketuksissa näytteen kanssa, vaan mittaus perustuu näytteen ja kärjen välisiin vetovoimiin. Näyte skannataan värähtelevän kärjen avulla, jonka amplitudin ja resonanssitaajuuden muutokset detektoidaan.

Soveltuvat näytematriisit

  • Ohutkalvot
  • Keramiikka
  • Lasi
  • Metallit
  • Polymeerit

AFM:n tyypillisiä käyttökohteita

  • Kiinteiden pintojen topologian karakterisointiin.
  • Pinnan kuvaaminen korkealla resoluutiolla.
  • 3D-kuvia pinnan karheudesta ja tekstuurista.
Tarjouspyyntö

Ota yhteyttä

Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille numeroon +358 40 735 4843.

Vastaamme aina vuorokauden sisällä.
UKK

Usein kysytyt kysymykset

Mihin AFM:ää yleensä käytetään?

Tasaisten pintojen topografian määrittäminen.

Korkean resoluution 3D-kuvia näytteen pinnasta.

Pinnan muotojen ja karheuden analysoiminen.

Mitkä ovat AFM:n rajoitteet?

Kontaktimoodi voi vahingoittaa näytettä sillä kärki on jatkuvassa kosketuksessa näytteen pinnan kanssa.

Millaisia näytteitä AFM:llä voi analysoida?

Usean tyyppisiä pintoja, mukaan lukien polymeerit, keramiikka, komposiitit, lasi, ohutkalvot ja pinnoitteet.

Mikä Measurlabs on?

Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.

Miten palvelu toimii?

Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.

Kuinka lähetän näytteeni?

Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.

Atomivoimamikroskopia on tekniikka, jolla kuvataan pintojen topolografiaa. Sillä voidaan tuottaa 3D-kuvia, jotkolla voidaan analysoidanäytteen pinnan karheutta ja tekstuuria. Measur tekee yhteistyötä parhaiden AFM-laboratorioiden kanssa tarjotakseen asiakkailleen korkealaatuisia AFM-palveluita.