AFM-analyysi

AFM-analyysia (atomivoimamikroskopia - atomic force microscopy) käytetään pintojen topologian analysointiin. AFM:llä saadaan korkean resoluution kuvia, joista voidaan analysoida pinnan muotoja ja karheutta. Menetelmää voidaan hyödyntää esimerkiksi keramiikan, lasin ja metallien tutkimiseen.

  • Nopeat tulokset
  • Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
  • Kilpailukykyiset hinnat
  • Takuu tulosten oikeellisuudesta

Atomivoimamikroskopian toimintaperiaate

AFM-analyysissa näyte skannataan taipuisalla “tukivarrella”, jonka päässä on erittäin pieni mittapää. Tukivartta liikutetaan pystysuunnassa takaisinkytkentäsilmukan avulla, jotta kärjen ja näytteen välinen vuorovaikutus pysyy vakiona. Näytteen pintatopografia muodostetaan analysoimalla tukivarren pystysuuntaisia liikkeitä. Tukivarteen on kohdistettu lasersäde, jonka liikettä seurataan fotodiodin (PSPD) avulla.

Vuorovaikutusvoimat

AFM perustuu mittapään kärjen ja näytteen pinnan välisiin vuorovaikutusvoimiin. Mitä lähempänä kärki on näytteen pintaan, sitä suuremmat ovat kärjen ja näytteen väliset hylkivät vuorovaikutukset, jotka syntyvät atomiorbitaalien lähentymisestä. Palautesilmukan toiminta perustuu kärjen ja näytteen välisiin vuorovaikutuksiin.

Kontaktimoodi

Kontaktimoodissa anturin kärki on jatkuvassa fyysisessä kosketuksessa näytteen pinnan kanssa ja tukivarren pystysuuntainen taipuma pidetään vakiona skannauksen ajan kontaktimoodilla saadaan usein aikaiseksi parhain resoluution, mutta kärjen liikkuminen saattaa vahingoittaa näytettä.

Kosketusmoodi

Kosketusmoodi skannaa pinnan värähtelevän kärjen avulla. Kosketusmoodi käyttää tukivarren värähtelyn amplitudia havaitsemaan muutokset kärjen ja näytteen välisissä vuorovaikutuksissa. Kosketusmoodilla saadaan lähes yhtä hyvän resoluution kuvia kuin kontaktimoodissa, mutta näyte ei vahingoitu yhtä helposti, sillä kärki vain hipaisee näytteen pintaa skannauksen aikana.

Ei-kosketusmoodi

Ei-kontaktimoodissa kärki ei ole ollenkaan kosketuksissa näytteen kanssa, vaan mittaus perustuu näytteen ja kärjen välisiin vetovoimiin. Näyte skannataan värähtelevän kärjen avulla, jonka amplitudin ja resonanssitaajuuden muutokset detektoidaan.

Soveltuvat näytematriisit

  • Ohutkalvot
  • Keramiikka
  • Lasi
  • Metallit
  • Polymeerit

AFM-analyysin tyypillisiä käyttökohteita

  • Kiinteiden pintojen topologian karakterisointi
  • Pinnan kuvaaminen korkealla resoluutiolla
  • 3D-kuvat pinnan karheudesta ja tekstuurista

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Vastaamme aina yhdessä arkipäivässä.

Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille +358 50 336 6128.

Usein kysytyt kysymykset

Mihin AFM-menetelmää yleensä käytetään?

AFM-menetelmän käyttötarkoituksia ovat tasaisten pintojen topografian määrittäminen, korkean resoluution 3D-kuvantaminen sekä pinnan muotojen ja karheuden analysoiminen.

Mitkä ovat AFM:n rajoitteet?

AFM-analyysin kontaktimoodi voi vahingoittaa näytettä, sillä kärki on jatkuvassa kosketuksessa näytteen pinnan kanssa.

Millaisia näytteitä AFM-menetelmällä voi analysoida?

AFM sopii usean tyyppisille pinnoille, mukaan lukien polymeerit, keramiikka, komposiitit, lasi, ohutkalvot ja pinnoitteet.

Mikä Measurlabs on?

Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.

Miten palvelu toimii?

Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.

Kuinka lähetän näytteeni?

Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.