AFM-analyysi
AFM-analyysia eli atomivoimamikroskopiaa (eng. atomic force microscopy) käytetään pintojen topologian analysointiin. AFM:llä saadaan korkean resoluution kuvia, joista voidaan analysoida pinnan muotoja ja karheutta. Menetelmää voidaan hyödyntää esimerkiksi keramiikan, lasin ja metallien tutkimiseen.
Tutustu AFM-mittauksiin
Hinnat ilmoitettu ilman arvonlisäveroa (24 %).
- Nopeat tulokset
- Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
- Kilpailukykyiset hinnat
- Takuu tulosten oikeellisuudesta
Atomivoimamikroskoopin toimintaperiaate
AFM-analyysissa näyte skannataan taipuisalla “tukivarrella”, jonka päässä on erittäin pieni mittapää. Tukivartta liikutetaan pystysuunnassa takaisinkytkentäsilmukan avulla, jotta kärjen ja näytteen välinen vuorovaikutus pysyy vakiona. Näytteen pintatopografia muodostetaan analysoimalla tukivarren pystysuuntaisia liikkeitä. Tukivarteen on kohdistettu lasersäde, jonka liikettä seurataan fotodiodin (PSPD) avulla.
Vuorovaikutusvoimat
AFM perustuu mittapään kärjen ja näytteen pinnan välisiin vuorovaikutusvoimiin. Mitä lähempänä kärki on näytteen pintaan, sitä suuremmat ovat kärjen ja näytteen väliset hylkivät vuorovaikutukset, jotka syntyvät atomiorbitaalien lähentymisestä. Palautesilmukan toiminta perustuu kärjen ja näytteen välisiin vuorovaikutuksiin.
Kontaktimoodi
Kontaktimoodissa anturin kärki on jatkuvassa fyysisessä kosketuksessa näytteen pinnan kanssa ja tukivarren pystysuuntainen taipuma pidetään vakiona skannauksen ajan kontaktimoodilla saadaan usein aikaiseksi parhain resoluution, mutta kärjen liikkuminen saattaa vahingoittaa näytettä.
Kosketusmoodi
Kosketusmoodi skannaa pinnan värähtelevän kärjen avulla. Kosketusmoodi käyttää tukivarren värähtelyn amplitudia havaitsemaan muutokset kärjen ja näytteen välisissä vuorovaikutuksissa. Kosketusmoodilla saadaan lähes yhtä hyvän resoluution kuvia kuin kontaktimoodissa, mutta näyte ei vahingoitu yhtä helposti, sillä kärki vain hipaisee näytteen pintaa skannauksen aikana.
Ei-kosketusmoodi
Ei-kontaktimoodissa kärki ei ole ollenkaan kosketuksissa näytteen kanssa, vaan mittaus perustuu näytteen ja kärjen välisiin vetovoimiin. Näyte skannataan värähtelevän kärjen avulla, jonka amplitudin ja resonanssitaajuuden muutokset detektoidaan.
Soveltuvat näytematriisit
- Ohutkalvot
- Keramiikka
- Lasi
- Metallit
- Polymeerit
AFM-analyysin tyypillisiä käyttökohteita
- Pinnan kuvaaminen korkealla resoluutiolla
- 3D-kuvat pinnan karheudesta ja tekstuurista
- Kiinteiden pintojen topografian karakterisointi
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita +358 50 336 6128.
Usein kysytyt kysymykset
AFM-menetelmän käyttötarkoituksia ovat tasaisten pintojen topografian määrittäminen, korkean resoluution 3D-kuvantaminen sekä pinnan muotojen ja karheuden analysoiminen.
AFM-analyysin kontaktimoodi voi vahingoittaa näytettä, sillä kärki on jatkuvassa kosketuksessa näytteen pinnan kanssa.
AFM sopii usean tyyppisille pinnoille, mukaan lukien polymeerit, keramiikka, komposiitit, lasi, ohutkalvot ja pinnoitteet.
Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.
Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.
Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.