VPD ICP-MS
VPD ICP-MS-menetelmällä voidaan havaita häviävän pienet metalliset epäpuhtaudet piikiekkojen ja ohutkalvojen pinnoilta.
Analyysi perustuu näytteen pintakerroksen (~2 nm) liuottamiseen, jonka jälkeen metallien pitoisuudet mitataan liuoksesta.
Perusanalyysi sisältää seuraavien alkuaineiden määrityksen: Li, B, Na, Mg, Al, K, Ca, Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ge, As, Mo, Sn, Ba, W ja Pb.
Jalometallien analyysi sisältää seuraavien alkuaineiden määrityksen: Pd, Ag, Pt ja Au.
ICP-MS-tekniikalla ei voida havaita monia kevyitä alkuaineita (mm. H, C, N, F ja O).
Mittaus on suunniteltu 100, 150, 200 ja 300 mm paksuisten kiekkojen analysointiin. Kysy lisätietoja, jos tarvitset mittausta muun kokoisille kiekoille tai eri alkuaineille.
Määritysraja: ppm - ppb (107-109at/cm2)
Lisätietoja menetelmäperheestä:
VPD-ICP-MS-analyysi (VPD-ICP-MS)- Soveltuvat näytematriisit
- Ohutkalvot, päällysteet, piikiekot
- Näytteiden minimimäärä
- Kokonainen piikiekko tai ohutkalvo
- Tyypillinen läpimenoaika
- 3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Laatujärjestelmä
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
- Charlotte Zborowski
Paljon näytteitä tai muita erikoisvaatimuksia?
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita +358 50 336 6128.