Lentoaikaerotteinen sekundäärinen ionimassaspektrometri (TOF-SIMS)

Lentoaikaerotteinen sekundäärinen ionimassaspektrometri (TOF-SIMS) on menetelmä, jolla voidaan analysoida kiinteiden materiaalien pintoja. Menetelmällä voidaan analysoida sekä alkuaineita että molekyylejä useista eri materiaaleista. Tof-SIMS pystyy usein analysoimaan < 2 nm näytteen pinnasta.

Soveltuvat näytematriisit
Kiinteä
Näytteiden minimimäärä
Näytteen koko: 1 cm2
Tyypillinen läpimenoaika
4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Laatujärjestelmä
Akkreditoitu testauslaboratorio
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Shima Moosakhani
Shima Moosakhani

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1
Valitse tarvittavat testit
tilausvahvistus
2
Vastaanota tilausvahvistus
Näytelähetys
3
Lähetä näytteesi meille
Henkilö saa sähköpostin puhelimeensa
4
Saat tulokset sähköpostiisi

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Vastaamme aina yhdessä arkipäivässä.

Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille +358 50 336 6128.