ToF-SIMS-analyysi

ToF-SIMS (lentoaikaerotteinen sekundäärinen ionimassaspektrometria) on analyyttinen tekniikka, joka tarjoaa tietoa kiinteiden materiaalien pinnoista. Sitä voidaan käyttää alkuaine- ja molekyylianalyysiin sekä monenlaisten kiinteiden näytteiden pintakartoitukseen. ToF-SIMS on ihanteellinen tekniikka muun muassa orgaanisten, epäorgaanisten, polymeeristen ja biologisten materiaalien pintojen tutkimiseen.

Yksinkertainen ja läpinäkyvä hinnoittelu

Hinnat ilmoitettu ilman arvonlisäveroa (24 %).

  • Nopeat tulokset
  • Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
  • Kilpailukykyiset hinnat
  • Takuu tulosten oikeellisuudesta

Mikä on ToF-SIMS-analyysi?

ToF-SIMS (time-of-flight secondary ion mass-spectrometry) on analyyttinen tekniikka, joka mahdollistaa kiinteän pinnan komponenttien analysoimisen. Analyysi aloitetaan laukaisemalla fokusoitu ionisäde kohti kiinteän näytteen pintaa. Kun ionisäde törmää pintaan, se irrottaa siitä sekundäärisiä ioneja ja ioniryppäitä. Nämä sekundääriset ionit johdetaan massaspektrometriin. Spektrometrissä ionit kiihdytetään tietylle lentoradalle, jota ympäröi tyhjiö häiriöiden ehkäisemiseksi. Yksittäisen ionin massa vaikuttaa aikaan, joka kyseiseltä ionilta kuluu lentokammion läpi kulkemiseen. Näin ollen prosessi erottaa ionit toisistaan ja mahdollistaa niiden havaitsemisen yksittäin. Kun ionit saavuttavat spektrometrin pään, ilmaisin rekisteröi ne ja lentoajasta saadut tiedot kirjataan ylös. Tällä analyysillä saadaan tietoa näytteen pinnassa olevista alkuaineista ja yhdisteistä. Myös niiden suhteelliset sijainnit voidaan selvittää.

Mihin ToF-SIMS:iä käytetään?

ToF-SIMS on monipuolinen tekniikka, jonka avulla voidaan kerätä monenlaista tietoa analysoitavasta pinnasta. Sitä voidaan käyttää pinnassa olevien alkuaineiden, molekyylien ja yhdisteiden tunnistamiseen. Tämän vuoksi ToF-SIMS:iä voidaan soveltaa eri aloilla orgaanisista ohutkalvoista biologiseen testaukseen, materiaalitieteeseen ja moneen muuhun. Yksi ToF-SIMS:n houkuttelevimmista ominaisuuksista on sen kyky tallentaa takautuvasti havaittujen ionien sijainnit ja kartoittaa ne digitaalisesti. Tätä voidaan käyttää yleiskatsauksen luomiseen näytteen pinnasta, jolloin saadaan aikaan visuaalinen esitys näytteestä erittäin pienessä mittakaavassa.

Mikä on ToF-SIMS- ja SIMS-analyysien ero?

SIMS viittaa yleisemmin prosessiin, jossa ionisädettä käytetään virittämään ja irrottamaan sekundäärisiä ioneja kiinteän näytteen pinnalta, jonka jälkeen tietyntyyppistä massaspektrometriaa hyödynnetään näiden ionien analysoimiseksi. ToF (Time of Flight, lentoaika) on yksi näistä massaspektrometriatyypeistä, ja se erottaa ionit sen perusteella, kuinka kauan niiden kulkeminen lentokammion läpi kestää. ToF:n lisäksi SIMS voidaan yhdistää myös muuntyyppisiin massaspektrometreihin, kuten kvadrupoliin tai sektorikenttään. Nämä tarjoavat keskenään erilaista informaatiota, ja niitä voidaan käyttää pinnan analysoimiseen hieman eri tavoilla.

ToF-SIMS vai XPS - mitä eroa on menetelmillä ja niiden käyttötarkoituksilla?

Fotoelektronispektrometria (XPS) on toinen analyyttinen menetelmä jota käytetään kiinteän näytteen alkuainekoostumuksen tunnistamiseen. Siinä näytettä säteilytetään röntgensäteellä, mikä saa näytteen pinnan elektronit virittymään ja irtoamaan. Nämä elektronit poimitaan detektorilla, joka rekisteröi niiden energian. Tätä energiaa voidaan analysoida, ja sen avulla saadaan käsitys pinnan alkuainekoostumuksesta. Suurin ero XPS:stä ja ToF-SIMS:stä saatujen tulosten välillä on se, että XPS:ää käytetään ensisijaisesti pinnan muodostavien alkuaineiden määrittämiseen, kun taas ToF-SIMS pystyy tarjoamaan enemmän tietoa pinnalla olevista molekyyleistä ja atomiryppäistä. Lisäksi XPS:ää voidaan käyttää näytteen syvyysprofilointiin, kun taas ToF-SIMS sopii paremmin itse pinnan analysoimiseen.

Näytevaatimukset ja esikäsittely

ToF-SIMS:iä voidaan käyttää useimmille kiinteän olomuodon näytetyypeille. Suuremmat kiinteät näytteet voidaan analysoida sellaisenaan ja jauhemaiset näytteet voidaan puristaa indiumlevylle ennen analyysiä. Yleisesti ottaen kaikkia ToF-SIMS -näytteitä tulee käsitellä erittäin varovasti kontaminaation välttämiseksi. Samasta syystä muovisia astioita ja työkaluja tulee välttää näytteiden käsittelyn aikana.

Tarvitsetko ToF-SIMS-analyysin?

Measurlabs tarjoaa korkealaatuisia ToF-SIMS -analyysipalveluita nopein tuloksin ja edullisin hinnoin. Jos sinulla on kysyttävää näytteestäsi tai sen soveltuvuudesta tähän menetelmään, asiantuntijamme auttavat aina mielellään. Voit ottaa meihin yhteyttä alla olevalla lomakkeella tai sähköpostitse info@measurlabs.com.

Soveltuvat näytematriisit

  • Epäorgaaniset materiaalit
  • Metallit
  • Orgaaniset kalvot
  • Polymeerit

Tyypilliset käyttökohteet

  • Yleiskatsauksen esittäminen alkuainekoostumuksesta
  • Pintojen epäpuhtauksien tunnistaminen
  • Pintakarttojen luominen materiaaleista
  • Pinnoissa olevien molekyylien ja yhdisteiden tunnistaminen

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille numeroon +358 50 336 6128

Vastaamme aina yhdessä arkipäivässä.

Usein kysytyt kysymykset

Mihin ToF-SIMS-menetelmää käytetään?

ToF-SIMS menetelmää käytetään kiinteiden näytteiden pinnan analysointiin.

Mitkä ovat ToF-SIMS:n rajoitteet?

ToF-SIMS:n suurin rajoite on se, että saadut tulokset ovat yleensä kvalitatiivisia. Tämä tarkoittaa, että ToF-SIMS antaa kuvauksen näytteen pinnasta tavalla, joka ei ole helposti kvantitoitavissa. Näin ollen ToF-SIMS on erinomainen valinta visuaalisten karttojen tuottamiseen pinnoista, mutta kvantitatiivisten tietojen keräämiseen muut tekniikat voivat olla sopivampia.

Millaisia näytteitä ToF-SIMS:llä voidaan analysoida?

ToF-SIMS on erinomainen tekniikka kiinteiden orgaanisten, inorgaanisten, polymeeristen ja biologisten näytteiden analysointiin.

Mikä Measurlabs on?

Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.

Miten palvelu toimii?

Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.

Kuinka lähetän näytteeni?

Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.