Ellipsometria
Spektroskooppinen ellipsometria (SE) on optinen tekniikka, joka karakterisoi polarisoituneen valon heijastumista näytteen pinnasta. SE:tä käytetään ohutkalvojen ja perusmateriaalien karakterisointiin. Kalvo voi olla yksi- tai monikerroksinen ja paksuudeltaan noin 1 nm – 1 000 nm (eli 1 μm).
Lisätietoja menetelmäperheestä:
Ellipsometria- Soveltuvat näytematriisit
- Läpinäkyvät ja puoliläpinäkyvät näytteet, ohutkalvot, puolijohteet, eristeet, polymeerit, orgaaniset pinnoitteet, metallikerrokset
- Tyypillinen läpimenoaika
- 2 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Laatujärjestelmä
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
- Hinta (ALV 0)
- Ensimmäinen näyte: 452 €
Seuraavat näytteet: 314 € per näyte
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa
1
Valitse tarvittavat testit2
Vastaanota tilausvahvistus3
Lähetä näytteesi meille4
Saat tulokset sähköpostiisiOta yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Vastaamme aina yhdessä arkipäivässä.
Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille +358 50 336 6128.