Ellipsometria

Spektroskooppinen ellipsometria (SE) on optinen tekniikka, joka karakterisoi polarisoituneen valon heijastumista näytteen pinnasta. SE:tä käytetään ohutkalvojen ja perusmateriaalien karakterisointiin. Kalvo voi olla yksi- tai monikerroksinen ja paksuuden noin 1 nm – 1 000 nm (eli 1 μm).

Soveltuvat näytematriisit
Läpinäkyvät ja puoliläpinäkyvät näytteet, Ohutkalvot, Puolijohteet, Eristeet, Polymeerit, Orgaaniset pinnoitteet, Metallikerrokset
Tyypillinen läpimenoaika
2 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Shima Moosakhani
Shima Moosakhani
Hinta (ALV 0)
Ensimmäinen näyte: 452 €
Seuraavat näytteet: 314 € per näyte

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1
Valitse tarvittavat testit
tilausvahvistus
2
Vastaanota tilausvahvistus
Näytelähetys
3
Lähetä näytteesi meille
Henkilö saa sähköpostin puhelimeensa
4
Saat tulokset sähköpostiisi

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Vastaamme aina yhdessä arkipäivässä.

Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille +358 50 336 6128.