Ohutkalvonäytteiden GI-XRD + XRR

Ohutkalvonäytteiden röntgendiffraktio (GI-XRD) + röntgenheijastavuus (XRR).

Tuloksena saadaan kalvojen tiheys (g/cm3), paksuus (nm) ja karheus (nm).

XRR-paksuusmittausta varten kalvon paksuuden tulisi olla alle 100 nm ja ainakin yhtä suuruusluokkaa suurempi kuin karheuden. Karheusmääritystä varten optimaalinen paksuus on alle 250 nm.

Huomioithan, että materiaali vaikuttaa siihen, miten paksu näyte soveltuu analysoitavaksi. Jos tarvitset lisätietoja, älä epäröi olla yhteydessä menetelmän asiantuntijaan.

Soveltuvat näytematriisit
Ohutkalvonäytteet, ALD-näytteet, pinnoitteet, kalvot
Näytteiden minimimäärä
Optimaalinen koko 5 x 4 cm, miniminäytekoko 2 x 2 cm
Tyypillinen läpimenoaika
3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Saatavilla olevat laatujärjestelmät
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet

Tilaa verkossa

Ensimmäinen näyte (ALV 0):
570 €
Seuraavat näytteet (ALV 0):
450 €per näyte
Jos sinulla on paljon näytteitä, voit saada alennusta. Ota yhteyttä.

Näytteet syötetään seuraavassa vaiheessa.

Asiantuntijamme tarkastavat kaikki tilaukset ja varmistavat, että testi vastaa tarpeisiisi ja sopii näytteillesi.

Paljon näytteitä tai muita erikoisvaatimuksia?

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Seuraaviin kysymyksiin vastaaminen auttaa meitä laatimaan sinulle tarjouksen nopeammin:

  • Montako näytettä sinulla on ja mitä materiaalia ne ovat?
  • Onko tämä toistuva testaustarve? Jos on, niin kuinka usein näytteitä saapuisi ja monenko näytteen erissä?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita +358 50 336 6128.