Naarmuuntumistesti (nano scratch) ohutkalvonäytteille
Naarmuuntumistesti (nano scratch) ohutkalvonäytteille. Tyypillinen mittaus sisältää valokuvan naarmuuntumisjäljestä sekä critical load -arvojen (Lc1, Lc2, Lc3) määrityksen.
- Soveltuvat näytematriisit
- Ohutkalvonäytteet, ALD-kalvot
- Tyypillinen läpimenoaika
- 4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Laatujärjestelmä
- Akkreditoitu testauslaboratorio
- Menetelmän asiantuntija
- Hinta (ALV 0)
- Ensimmäinen näyte: 566 €
Seuraavat näytteet: 429 € per näyte
Kiinnostaako tämä mittaus?
Tämän mittauksen voi ostaa verkkokaupassa. Täytä vain muutama kenttä alla:
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Tilaaminen on helppoa
1.Tilaa mittauspalvelu tai kysy neuvoa.
2.Lähetä näytteesi meille.
3.Mittaamme raaka-aineesi tai tuotteesi.
4.Saat mittausraportin ja tulokset sähköpostiisi.