Naarmuuntumistesti (nano scratch) ohutkalvonäytteille
Naarmuuntumistesti (nano scratch) ohutkalvonäytteille. Tyypillinen mittaus sisältää valokuvan naarmuuntumisjäljestä sekä critical load -arvojen määrityksen.
Puolijohteet
Mekaaninen testaus
Pintatestaus- Soveltuvat näytematriisit
- Ohutkalvonäytteet, ALD-kalvot
- Tyypillinen läpimenoaika
- 4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Laatujärjestelmä
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa
1
Valitse tarvittavat testit
2
Vastaanota tilausvahvistus
3
Lähetä näytteesi meille
4
Saat tulokset sähköpostiisi