Testauspalvelut

Näytteen kuvaaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX, EDS). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Tuloksena saadaan myös …

Tof-ERDA-mittaus soveltuu kiinteiden näytemateriaalien alkuainekoostumuksen kvantitatiiviseen määritykseen ja syvyysprofilointiin. ToF-ERDA havaitsee kaikki alkuaineet ja vedyn eri isotoopit. Menetelmää käytetään erityisesti kevyiden alkuaineiden analytiikassa, sillä se …

Näytteen kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Näytteestä otetaan yleensä useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella analyysiä varten päällystämällä ne ohuella metallikerroksella. Näytteestä …

Röntgenheijastuvuuden mittaus eli XRR-analyysi, jolla voidaan määrittää kalvon tiheys, paksuus ja karheus. Paksuusmittauksissa paksuuden tulisi lähtökohtaisesti olla alle 300 nm (materiaalista riippuen) ja karheuden matala (<5 nm). Jos tarvitset lisätietoja …

BET (Brunauer–Emmett–Teller) -analyysi kiinteiden materiaalien ominaispinta-alan määrittämiseksi.

Analyysissa näytteen pinnankarheus (RMS) määritetään atomivoimamikroskoopilla (AFM). Hintaan kuuluu mittaus kolmesta pisteestä. Mittausalueena käytetään 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita. Testiraportti sisältää RMS-arvon lisäksi 2D kuvan, 3D …

VPD ICP-MS-menetelmällä voidaan havaita häviävän pienet metalliset epäpuhtaudet piikiekkojen ja ohutkalvojen pinnoilta. Analyysi perustuu näytteen pintakerroksen (~2 nm) liuottamiseen, minkä jälkeen metallien pitoisuudet mitataan liuoksesta. Perusanalyysi sisältää seuraavien …

Ohutkalvonäytteiden analysoiminen röntgendiffraktion (GI-XRD) avulla.

Ohutkalvonäytteiden röntgendiffraktio (GI-XRD) + röntgenheijastavuus (XRR). Tuloksena saadaan kalvojen tiheys (g/cm³), paksuus (nm) ja karheus (nm). XRR-paksuusmittausta varten kalvon paksuuden tulisi olla alle 100 nm ja ainakin yhtä suuruusluokkaa …

Ellipsometria on optinen tekniikka, jolla karakterisoidaan polarisoituneen valon heijastumista näytteen pinnasta. Menetelmällä voidaan määrittää näytteen taitekerroin tai paksuus. Ellipsometriaa käytetään ohutkalvojen ja perusmateriaalien karakterisointiin. Näyte voi olla yksi- …

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX tai EDS). Tyypillisessä analyysissä näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lisäksi …

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. TEM:in resoluutio on nanometrin luokkaa. TEM-kuvantaminen edellyttää usein esikäsittelyä FIB-menetelmällä. Käsittely …

XPS on semikvantitatiivinen tekniikka, joka mahdollistaa materiaalien pinnan alkuainekoostumuksen määrityksen. Lisäksi menetelmällä voidaan määrittää atomien sitoutumis- ja elektronitilat. XPS on pintaherkkä tekniikka. Tyypillinen tutkimussyvyys on 3-10 nm ja havaitsemisrajat noin …

N2-adsorptio-analyysi kiinteiden materiaalien ominaispinta-alan ja huokoskokojakauman määrittämiseen.

XPS-syvyysprofiilointi vuorottelee etsausjaksojen ja XPS-analyysijaksojen välillä. Menetelmä antaa semikvantitatiivista tietoa alkuainekoostumuksesta (at. %) syvyyden funktiona. Atomien sitoutumis- ja elektronitilat voidaan myös määrittää syvyyden funktiona. Kyseessä …

BIB-menetelmällä (engl. Broad Ion Beam) voidaan siloittaa näytteen pintaa tai valmistaa laadukkaita poikkileikkeitä SEM-kuvantamista varten.

Tämä testi noudattaa TAPPI T559 menetelmää. Menetelmällä testataan pinnoitteilla käsitellyn paperin sekä öljyn (organofobinen) että veden (hydrofobinen) hylkimisominaisuuksia. Testi on suunniteltu auttamaan …

Lentoaikaerotteinen sekundäärinen ionimassaspektrometria (ToF-SIMS) on menetelmä, jolla voidaan analysoida kiinteiden materiaalien pintoja. Tekniikalla voidaan määrittää sekä alkuaine- että molekyylikoostumus näytteen pinnasta. Pinta-analyysi yltää < 2 nm syvyyteen. …

XPS on pintaherkkä tekniikka, jolla voidaan määrittää näytteen alkuainekoostumus ja alkuaineiden kemialliset sidostilat. Mittaussyvyys on tyypillisesti 3-10 nm ja määritysraja 0.1-1 atomiprosenttia. XPS …

Analyysin aikana näytteen pinta kuvannetaan atomivoimamikroskoopilla (AFM). Tyypillisesti näytteestä otetaan topologisia kuvia useasta eri kohdasta. Mittausalue on 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita.

Kontaktikulman määritys valitulla nesteellä. Analyysin hintaan sisältyy kolme mittausta. Periaatteessa mitä tahansa nestettä voidaan käyttää, jos neste ei vaikuta pinnan ominaisuuksiin ja nesteen pintajännitys tunnetaan.

Naarmuuntumistesti (nano scratch) ohutkalvonäytteille. Tyypillinen mittaus sisältää valokuvan naarmuuntumisjäljestä sekä critical load -arvojen määrityksen.

Näytteen valmistelu elektronimikroskopiaa varten kohdennetulla ionisuihkulla (FIB, Focused Ion Beam). Menetelmä on eritäin tarkka, ja sillä voidaan valmistaa hyvin ohuita näytekappaleita SEM- tai TEM-kuvantamista varten. Hintaan kuuluu vain …

Kristallijauheiden kvalitatiivinen tai vertaileva analyysi röntgendiffraktiolla (XRD). Analyysi soveltuu ainoastaan materiaaleille, joilla on ainakin yksi kiteinen faasi.

Pinnan karheuden tai reunan terävyyden määritys optisella profilometrillä.

Menetelmällä mitataan sinisen valon reflektanssia paperista tai kartongista ISO 2470-1 -standardin mukaisesti. Testi soveltuu vain valkoisille tai lähes valkoisille materiaaleille.

Pintaenergian määritys kontaktikulmamittausten avulla.

Metallipitoisuuksien määritys LA-ICP-MS-tekniikalla. Mittaus sisältää seuraavien alkuaineiden määrityksen: Ag, Al, As, Au, B, Ba, Be, Bi, Br, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Dy, Er, Eu Fe, Ga, Gd, Ge, Hf, Hg, Ho, I, In, Ir, K, La, …

Paperin tai kartongin sileyttä voidaan mitata usealla eri menetelmällä. Saatavilla olevat testimenetelmät ovat: - Bendtsen-karheus (ISO 8791-2) - joka soveltuu lähes kaikille papereille ja kartongeille, pois lukien paljon ilmaa läpäisevät …

Tällä ISO 2471 -standardin mukaisella menetelmällä määritetään paperin opasiteetti sen diffuusiheijastuskyvyn perusteella. Mittausta voidaan käyttää fluoresoivia valkaisuaineita sisältävien paperien tai kartonkien opasiteetin …

Paperin ja kartongin rasvankestävyyttä arvioidaan määrittämällä aika, joka kuluu simuloidun rasvan (palmuöljyn) kulkeutumiseen paperin, kuten elintarvikekartongin tai rasvankestävän arkin läpi. Testi …

Alkuainesuhteiden määritys RBS-menetelmällä (Rutherfordin takaisinsirontaspektrometria). Mittaus soveltuu syvyysprofilointiin. RBS antaa tietoa raskaampien alkuaineiden pitoisuuksista. Kevyistä alkuaineista saadaan tietoa, jos menetelmä yhdistetään ToF-ERDA-mittaukseen.

Auger-elektronispektroskopia (AES) on yleinen menetelmä kiinteiden pintojen analysointiin. AES-mittauksen avulla voidaan selvittää näytteen alkuainekoostumus pinnalta ja eri syvyyksistä sekä tuottaa pintakuvia erityyppisistä sähköä johtavista ja …

Boorin (B) ja fosforin (P) akkreditoitu määritys BPSG-kiekoista.

Metallipitoisuuksien määritys LA-ICP-MS-tekniikalla. Standardianalyysi sisältää seuraavien alkuaineiden määrityksen: Ca, Cr, Cu, Co, Er, Fe, Ge, Pb, Mn, Mo, Ni, K, Na, Sn, Ti, Ta, Zn, Bi, Au, Sn, V, Sr ja Y. Tulokset …

Tällä ISO 8254-1 -standardin mukaisella menetelmällä mitataan paperin kiilto 75° kulmassa paperin pinnan normaaliin nähden. Testi on tarkoitettu pääasiassa päällystetyille papereille, mutta sitä voidaan käyttää myös …

Ryhmäviiveen dispersion (GDD, group delay dispersion) ja ryhmänopeuden dispersion (GVD, group velocity dispersion) määritys optisesta materiaalista valkoisen valon interferometrillä.

Metallipitoisuuden määritys LA-ICP-MS-tekniikalla. Mittaus sisältää yhden alkuaineen määrityksen. Tulokset ilmoitetaan yksikössä ppm (µg / g).

Menetelmällä mitataan alku- ja liukumiskitkakertoimet muovikalvoista, kun niitä liutetaan saman tai toisen materiaalin yli. Tulosta voidaan käyttää esimerksi laadunvarmistukseen. Mittaus sisältää neljä rinnakkaismittausta per näyte.

ATD-GC-MS (kaasukromatografia-massaspektrometria ATD-keräimellä) on hyvin herkkä analyysimenetelmä piikiekkojen pinnalta löytyvien orgaanisten vierasaineiden analysointiin. …

Bekk-menetelmä soveltuu erittäin sileiden paperien ja kartonkien sileyden mittaamiseen. Ei sovellu yli 0,5 mm paksuille tai hyvin huokoisille lajeille. Tulos ilmoitetaan sekunneissa (s).

Menetelmä mittaa paperin tai kartongin vaaleutta CIE D65 päivänvalostandardilla. Mittauksella saadaan tieto näytteen reflektanssista koko näkyvän valon alueella (VIS). Menetelmä ei sovellu värillisille näytteille, joissa on käytetty fluoresoivia …

Lämpötilan, kemiallisten reaktioiden ja säteilyn vaikutuksesta valkoisista tai värittömistä materiaaleista kuten taidemateriaaleista, paperista tai maaleista voi tulla keltaisia. Keltaisuusluku ilmaisee näytteen keltaisuuden arvon …

Tämä testi arvioi elintarvikkeista usein löytyvien rasvojen ja öljyjen tunkeutumista paperi- tai kartonkinäytteeseen antaen arviota tuotteen rasvankestosta. Testin avulla voidaan arvioida ja …

Tämä menetelmä mahdollistaa paperin ja kartongin värin mittaamisen diffuusiheijastus-menetelmällä, jolloin vältetään peilikiiltoilmiö. Testi ei sovellu värillisille papereille tai kartongeille, jotka …