Testauspalvelut

Jauhemaisen materiaalin kiteisten faasien tunnistaminen ja kvantitointi (Rietveld-analyysi) röntgendiffraktiolla (XRD). Analyysi soveltuu ainoastaan kiteisille materiaaleille tai materiaaleille, joilla on ainakin yksi kiteinen faasi. Mittauksen tarkkuus vaihtelee hieman matriisista ja tarkastelun alla olevasta faasista riippuen, mutta yleensä määritysraja on noin 0.1 %. Saatavilla oleva lämpötila-alue XRD-mittauksille on 25–1100 °C, ja kiteisyyttä voidaan tutkia lämpötilan funktiona. Mittaukset voidaan suorittaa normaalissa ilmassa, inertin kaasun alla tai tyhjiössä. Ota yhteyttä asiantuntijoihimme keskustellaksesi saatavilla olevista lämpötila- ja atmosfäärivaihtoehdoista. Ilmoitathan mahdollisuuksien mukaan, mitä kidefaaseja näyte sisältää tilausta tehdessäsi, sillä tieto parantaa analyysin tarkkuutta. Menetelmä soveltuu kuitenkin myös tuntemattomien faasien tunnistukseen. Mittaukset voidaan suorittaa joko laboratorio-XRD:llä tai synkrotroni-XRD:llä.

XRF on kvantitatiivinen ja kvalitatiivinen analyysimenetelmä, jota voidaan käyttää nesteiden ja kiinteiden aineiden alkuaineanalyysin tekemiseen. Tämä analyysi soveltuu näytteille, jotka eivät vaadi monimutkaista esikäsittelyä, varotoimia tai muita erityistoimenpiteitä. Mittaukseen käytetään lähtökohtaisesti aallonpituusdispersiivistä XRF-spektrometriä (WDXRF). Ilmoitathan tilauksen yhteydessä, jos haluat mittauksen energiadispersiivisellä XRF-spektrometrillä (EDXRF).

Näytteen kuvaaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX, EDS). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Tuloksena saadaan myös analysoidun alueen alkuainekoostumus, joka voidaan esittää esimerkiksi alkuainekarttana. Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella kuvausta varten metallipäällysteellä. Tarjoamme pyynnöstä myös poikkileikenäytteen valmistuksen. Tähän voidaan hyödyntää esimerkiksi FIB- tai BIB-menetelmiä.

Näytteen kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Näytteestä otetaan yleensä useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella analyysiä varten päällystämällä ne ohuella metallikerroksella. Näytteestä voidaan myös tarvittaessa valmistella poikkileike esimerkiksi FIB- tai BIB-menetelmällä. Jos tarvitset tietoa myös alkuainekoostumuksesta, voit tilata SEM-EDX-kuvauksen.

Röntgenheijastuvuuden mittaus eli XRR-analyysi, jolla voidaan määrittää ohutkalvon tiheys (g/cm3), paksuus (nm) ja karheus (nm). Menetelmä soveltuu yksittäisten tai monikerroksisten ohutkalvojen karakterisointiin, sillä se tarjoaa tietoa näytteen yksittäisten kerrosten paksuudesta ja tiheydestä sekä rajapintojen karheudesta. Suurin mittaustarkkuus paksuuden määrityksessä saavutetaan näytteille, joissa kalvon tai kalvopinon yhteenlaskettu paksuus on enintään 150 nm ja pinnan karheus on alhainen (<5 nm). Paksumpia kalvoja ja pinnoitteita (jopa ~5 µm) sekä karkeampia pintoja voidaan myös karakterisoida, mutta kalvon tai kalvopinon paksuuden ja karheuden kasvaessa paksuuden määrityksen tarkkuus heikkenee tai siitä tulee mahdotonta XRR:lla. >150 mm kiekot leikataan yleensä paloiksi XRR mittausta varten. Kerrothan tarjouspyynnön yhteydessä, jos näytteesi on kasvatettu yli 150 mm kiekoille, joita et halua leikattavan. Saatavilla oleva lämpötila-alue XRR-mittauksille on 25–1100 °C, ja kiteisyyttä voidaan tutkia lämpötilan funktiona. Mittaukset voidaan suorittaa normaalissa ilmassa, inertin kaasun alla tai tyhjiössä. Käytettävissä ovat seuraavat laitteet: Rigaku SmartLab, Panalytical X'Pert Pro MRD, Bruker D8 Discover.

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX tai EDS). Tyypillisessä analyysissä näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lisäksi saadaan alkuainekoostumus joko atomi- tai massaprosentteina. Tulokset voidaan ilmaista alkuainekarttana tai analysoitavan alueen tai pisteen alkuainespektrinä. Näytteet täytyy usein valmistella kuvantamista varten esimerkiksi FIB-menetelmällä. Näytevalmistelusta peritään lisämaksu. Tarjoamme myös korkean resoluution HR-TEM-kuvauksia. Voit pyytää lisätietoja analyysivaihtoehdoista tarjouspyynnön yhteydessä.

Metallien seulontanalyysi kattaa 70 alkuaineen semi-kvantitatiivisen määrittämisen. Menetelmä soveluu mm. ympäristönäytteiden taustapitoisuuksien määrittämiseen ja tuntemattomien näytteiden alkuainejakauman tutkimiseen. Menetelmän avulla voidaan arvioida, mitä metalleja näytteestä kannattaa analysoida tavallisella, kvantitatiivisella menetelmällä. Mittaus suoritetaan korkean resoluution ICP-MS-tekniikalla (ICP-SFMS), jolla pystytään tunnistamaan erityisen alhaisia alkuainepitoisuuksia. Menetelmä sisältää seuraavien alkuaineiden semi-kvantitatiivisen määrittämisen: Ag, Al, As, Au, B, Ba, Be, Bi, Br, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Dy, Er, Eu, Fe, Ga, Gd, Ge, Hf, Hg, Ho, I, Ir, K, La, Lu, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Nd, Ni, Os, P, Pb, Pd, Pr, Pt, Rb, Re, Rh, Ru, S, Sb, Sc, Se, Si, Sm, Sn, Sr, Ta, Tb, Te, Th, Ti, Tl, Tm, U, V, W, Y, Yb, Zn ja Zr. Huomattehan kuitenkin, että joitain alkuaineita ei välttämättä voida määrittää matriisihäiriöistä johtuen. Tämän puolikvantitatiivisen analyysin aikana instrumentti kalibroidaan noin 30 alkuaineelle. Kvantitatiivinen analyysi on myös saatavilla lisämaksusta. Tämän analyysin aikana kaikki elementit kalibroidaan (pois lukien halogeenit ja Os). Pyydäthän tarjouksen tästä palvelusta.

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. TEM:in resoluutio on nanometrin luokkaa. TEM-kuvantaminen edellyttää usein esikäsittelyä FIB-menetelmällä. Käsittely laskutetaan erikseen. Tarjoamme myös korkean resoluution HR-TEM-analyysejä. Pyydä lisätietoja asiantuntijoiltamme alta löytyvällä lomakkeella.

Metallien vetokokeella määritetään materiaalin lujuusominaisuuksia, kuten vetolujuus, myötölujuus ja kimmomoduuli. Vetokoe on yleisimpiä ja luotettavimpia tapoja kerätä tietoa materiaalin mekaanisesta kestävyydestä. Koetta varten tarvitaan yleensä vähintään 75 mm pitkä ja halkaisijaltaan 5 mm kokoinen koekappale, mutta myös pienempiä kappaleita voidaan testata pyynnöstä. Koekappaleiden valmistus suuremmista kappaleista voidaan sisällyttää testisuunnitelmaan. ASTM E8- ja ISO 6892-1 -standardien mukaiset vetokokeet suoritetaan huoneenlämmössä. Tarjoamme lisäksi korkeammissa lämpötiloissa toteutettavia vetokokeita standardien ASTM E21 ja ISO 6892-2 mukaisesti.

Kristallijauheiden kvalitatiivinen tai vertaileva analyysi röntgendiffraktiolla (XRD). Analyysi soveltuu ainoastaan materiaaleille, joilla on ainakin yksi kiteinen faasi.

Mittauksessa määritetään ksantaattien pitoisuus näytteissä käyttäen 1H NMR -mittausta sekä referenssiyhdisteitä. Samalla mittauksessa voidaan määrittää hajoamistuotteita. Olethan yhteydessä Measulabsin asiantuntijoihin saadaksesi lisätietoja.

Hiilen pysyvän isotoopin (13C) analyysi IRMS-tekniikalla. Tulokset raportoidaan yksikössä VPDB, ‰. Menetelmä soveltuu useille erilaisille materiaaleille. Ole yhteydessä Measurlabsin asiantuntijoihin analyysin yksityiskohdista.

Dilatometrillä määritetään kiinteän näytteen dimensionaalinen muutos lämpötilan funktiona. Mittauksen lämpötila-alue on 25 °C–1 600 °C, mutta mittaus voidaan suorittaa myös kryogeenisissä olosuhteissa, jolloin lämpötila-alue on -175 °C–300 °C. Mittauksen tuloksena saadaan materiaalin lämpölaajenemiskerroin sekä näytekappaleen pituuden muutos, molemmat lämpötilan funktiona. Mittaus on mahdollista suorittaa ilma-atmosfäärin lisäksi Ar-, CO₂-, N₂- tai O₂-atmosfäärissä. Voit tehdä tarjouspyynnön alta löytyvällä lomakkeella. Analyysin hinta riippuu testiolosuhteista, joten kuvailethan niitä mahdollisimman tarkasti.

ICP-MS-alkuainemääritys geologisille näytteille (kivet, malmi, kaivosnäytteet), sisältäen uuton kuningasveteen. Analyysi sisältää seuraavat alkuaineet: Ag, Al, As, Au, B, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Fe, Ga, Ge, Hf, Hg, In, K, La, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Ni, P, Pb, Pd, Pt, Rb, Re, S, Sb, Sc, Se, Sn, Sr, Ta, Te, Th, Ti, Tl, U, V, W, Y, Zn ja Zr. Sisältää myös harvinaisten maametallien (REE) analyysin: Dy, Er, Eu, Gd, Ho, Lu, Nd, Pr, Sm, Tb, Tm ja Yb. Kullan määritys tällä menetelmällä on semikvantitatiivinen analyysissa käytettävän pienen näytemäärän vuoksi. Hintaan ei sisälly esikäsittely, kuten murskaus tai seulonta. Hintoihin sisältyy lähtyskulut 5 kg asti, suuremmista lähetyksistä peritään lisämaksu.

ICP-MS-alkuainemääritys geologisille näytteille (kivet, malmi, kaivosnäytteet), sisältäen neljän hapon uuton. Analyysi sisältää seuraavat alkuaineet: Ag, Al, As, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Fe, Ga, Ge, Ge, Hf, In, K, La, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Ni, P, Pb, Rb, Re, S, Sb, Sc, Se, Sn, Sr, Ta, Te, Th, Ti, Tl, U, V, W, Y, Zn and Zr Sisältää myös harvinaisten maametallien (REE) analyysin: Dy, Er, Eu, Gd, Ho, Lu, Nd, Pr, Sm, Tb, Tm ja Yb. Lyijyn (Pb) isotooppianalyysi saatavilla pakettiin 20 € lisähinnalla. Hintaan ei sisälly esikäsittely, kuten murskaus tai seulonta. Yli 5 kg painavista lähetyksistä peritään käsittelymaksu.

Materiaalien magneettisten ominaisuuksien määritys magneettikentän funktiona. Mittaukseen käytetään värähtelevän näytteen magnetometriä (vibrating-sample magnetometer, VSM), jota kutsutaan myös Foner-magnetometriksi. Mittaus perustuu Faradayn induktiolakiin, jonka mukaan muuttuva magneettikenttä tuottaa sähkökentän. Tämän sähkökentän ominaisuuksia voidaan mitata, jolloin saadaan tietoa magneettikentän muutoksista. Magnetometrillä voidaan mitata mm. magneettista momenttia ja koersitiviteettiä sekä hystereesisilmukkaa. Sopivia näytteitä ovat esimerkiksi ohutkalvot, nesteet ja jauheet. Projektit hinnoitellaan tapauskohtaisesti, ja hintahaarukan alempaa päätä sovelletaan suurille näytemäärille. Saat tarkan hinta-arvion ottamalla yhteyttä asiantuntijoihimme.

Metallin kovuudella tarkoitetaan sen kykyä vastustaa plastista eli pysyvää muodonmuutosta. Tarjoamme kolme eri testimenetelmää metallien kovuuden määritykseen: Brinell-kovuus (ISO 6506-1), Vickers-kovuus (ISO 6507-1), Rockwell-kovuus (ISO 6508-1). Testeissä standardinmukainen testipää painetaan näytteeseen ja muodostuneen loven halkaisija ja/tai syvyys mitataan. Kaikki menetelmät soveltuvat kaikentyyppisille metalleille ja metalliseoksille.

Spark-OES-menetelmällä voidaan määrittää metallien ja metalliseosten alkuainekoostumus nopeasti ja tarkasti. Mittaus on nopeampi ja määritysrajat monesti matalammat kuin muilla vastaavilla menetelmillä (mm. ICP-OES, ICP-MS, XRF). Menetelmällä voidaan havaita kaikki metalliset alkuaineet sekä useita epämetalleja, kuten C, N ja S. Määritysrajat liikkuvat ppm-luokassa. Spark-OES soveltuu kiinteille metallikappaleille, joiden koko on vähintään 1 x 1 cm. Näytevalmistelu sisältyy analyysin hintaan.

Kvantitatiivinen mineraloginen analyysi bentoniittinäytteille materiaalissa esiintyvien mineraalien pitoisuuksien tunnistamiseksi ja kvantifioimiseksi. Analyysi suoritetaan XRD-tekniikalla standardin EN 13925 mukaisesti. Analyysin tulokset esitetään prosenttiosuuksina, esimerkiksi seuraavasti: Smektiitti %, Kvartsi %, Kalsiitti %, Opaali %, Maasälpä %. Analyysin mittausepävarmuus on 10–20 %.

Augerin elektronispektroskopia (AES) on yleinen menetelmä kiinteiden pintojen analysointiin. AES-mittauksen avulla voidaan selvittää näytteen alkuainekoostumus pinnalta ja eri syvyyksistä sekä tuottaa pintakuvia erityyppisistä sähköä johtavista ja puolijohtavista materiaaleista.

Metallisen materiaalin iskulujuuden määritys standardiin ISO 148-1 perustuvalla Charpy-menetelmällä. Mittaus voidaan toteuttaa eri lämpötiloissa -193 °C:n lämpötilasta alkaen. Testissä näytekappaleeseen tehdään V- tai U-kirjaimen mallinen lovi, minkä jälkeen kappale rikotaan heilurilla. Näytteen hajottamiseen vaaditun energian perusteella voidaan arvioida metallin kestävyyttä olosuhteissa, joissa se altistuu äkillisille iskuille.

Standardien ASTM E21 ja ISO 6892-2 mukaisilla vetokokeilla arvioidaan metallisten materiaalien mekaanisia ominaisuuksia huoneenlämpötilaa korkeammissa lämpötiloissa. Tuloksena saadaan mm. vetolujuus, myötölujuus ja kimmomoduuli. Kerrothan tilauksen yhteydessä, kumpaa standardia haluat käytettävän. Lisäksi tarvitsemme tiedot halutusta testauslämpötilasta (1 000 °C asti) sekä rasitusmäärästä (strain rate). Koekappaleiden tulisi olla pituudeltaan vähintään 75 mm ja halkaisijaltaan 5 mm. Sopivien näytekappaleiden valmistus voidaan sisällyttää analyysiin. Saat meiltä myös huoneenlämpötilassa suoritetut vetokokeet standardien ASTM E8 ja ISO 6892-1 mukaisesti.

Standardien ISO 204 ja ASTM E139 mukaisilla virumiskokeilla ja jännitysmurtumakokeilla arvioidaan metallien muodonmuutosta, kun ne altistetaan vakiovoimalle korkeassa lämpötilassa. Testeillä voidaan mitata materiaalin virumista eli venymää jatkuvasti tai tietyin aikavälein. Lisäksi voidaan määrittää aika jännitysmurtumaan, eli materiaalin murtumiseen valituissa testiolosuhteissa. Testien hinnoittelu määräytyy muun muassa lämpötilan ja keston perusteella. Voit pyytää tarjouksen asiantuntijoiltamme alta löytyvällä lomakkeella.