Puolijohteiden testaus

Measurlabs tarjoaa kattavan valikoiman testimenetelmiä puolijohdemateriaalien kehityksen ja laadunvalvonnan tueksi. Saatavilla on niin elektronimikroskopiaa, ohutkalvojen paksuus- ja karheusmittauksia kuin alkuainekoostumuksen määritystä materiaalien pinnoilta ja eri syvyyksistä.

Puolijohteiden testaus
...ja yli 400 muuta tyytyväistä asiakasta
  • Nopeat tulokset
  • Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
  • Kilpailukykyiset hinnat
  • Takuu tulosten oikeellisuudesta

Puolijohdemateriaalien kuvantaminen

Tarjoamme korkean resoluution kuvantamista elektronimikroskoopeilla (SEM & TEM) sekä atomivoimamikroskoopilla (AFM). SEM- ja TEM-laitteistoja voidaan täydentää lisäosilla, kuten alkuaineanalyysin mahdollistavalla EDS-detektorilla tai lisätietoa näytteen kiderakenteesta tarjoavalla EBSD-detektorilla. Suuremmista näytekappaleista voidaan tarvittaessa valmistella poikkileikkeet BIB- tai FIB-menetelmillä.

Puolijohdemateriaalien alkuainekoostumuksen määritys

Alkuainekoostumuksen määritys

Ohutkalvojen ja muiden puolijohdemateriaalien alkuainekoostumus voidaan määrittää näytteen pinnalta sekä eri syvyyksistä. Measurlabs tarjoaa mittauksia muun muassa seuraavilla analyysitekniikoilla:

  • ToF-ERDA – menetelmällä voidaan määrittää  näytteen koostumus kaikkien alkuaineiden sekä vedyn eri isotooppien osalta 0,5 atomiprosentin tarkkuudella.

  • SIMS – menetelmällä voidaan havaita häviävän pieniä epäpuhtauksia (miljoonas- ja jopa miljardisosia) niin näytteen pinnalta kuin eri syvyyksistä noin 10 mikrometriin asti.

  • GD-OES – tekniikka soveltuu nopeaan kvantitatiiviseen syvyysprofilointiin ja pystyy havaitsemaan myös kevyitä alkuaineita.

  • VPD-ICP-MS – soveltuu häviävän pienten metallipitoisuuksien havaitsemiseen piikiekkojen ja ohutkalvojen pinnoilta.

Fysikaaliset ominaisuudet

Ohutkalvojen, mikrosirujen ja muiden puolijohdemateriaalien paksuutta, tiheyttä ja karheutta voidaan mitata useilla analyysitekniikoilla. Measurlabs tarjoaa muun muassa karheusmittauksia AFM-menetelmällä, paksuusmittauksia XRR-menetelmällä ja kiderakenteen määritystä GI-XRD- tekniikalla.

Charlotte Zborowski

Kysyttävää?

Asiantuntijamme Charlotte Zborowski vastaa materiaalitestausta koskeviin kyselyihin englanniksi.

Asiantuntevaa asiakaspalvelua

Kun tilaat tarvitsemasi puolijohteiden testauspalvelut Measurlabsilta, saat käyttöösi laajan analyysivalikoiman helposti yhdestä paikasta, selkeät testiraportit sekä tukea sopivimman mittaustekniikan valintaan testausalan asiantuntijoilta. Tee tarjouspyyntö tai kysy lisätietoja alta löytyvällä lomakkeella.

Tarjouspyyntö

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Seuraaviin kysymyksiin vastaaminen auttaa meitä laatimaan sinulle tarjouksen nopeammin:

  • Montako näytettä sinulla on ja mitä materiaalia ne ovat?
  • Onko tämä toistuva testaustarve? Jos on, niin kuinka usein näytteitä saapuisi ja monenko näytteen erissä?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita +358 50 336 6128.