SEM-kuvantaminen
Näytteen kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Näytteestä otetaan yleensä useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi.
Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella analyysiä varten päällystämällä ne ohuella metallikerroksella.
Näytteestä voidaan myös tarvittaessa valmistella poikkileike esimerkiksi FIB- tai BIB-menetelmällä lisämaksua vastaan.
Jos tarvitset tietoa myös alkuainekoostumuksesta, voit tilata SEM-EDX-kuvauksen.
- Soveltuvat näytematriisit
- Kuivat ja kiinteät materiaalit, jauheet, ohutkalvot ja pinnoitteet
- Näytteiden minimimäärä
- 1x1 cm tai 1 g
- Tyypillinen läpimenoaika
- 2 – 3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Määritysraja
- 10 nm
- Saatavilla olevat laatujärjestelmät
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Kemikaalit
Kosmetiikka
Lääkinnälliset laitteet
Metallit ja kaivosteollisuus
Pakkausmateriaalit
Paperi ja kartonki
Lääketeollisuus
Polymeerit ja muovit
Puolijohteet
Tekstiilit ja kalusteet
Mikroskopia
Partikkelianalyysit
PintatestausHeräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.