Kaikki ohutkalvomittaukset yhdestä paikasta
- Nopeat tulokset
- Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
- Kilpailukykyiset hinnat
- Takuu tulosten oikeellisuudesta
Koostumusanalyysit
Meiltä saat kaikki ohutkalvojen koostumus- ja puhtausanalyysit yhdestä paikasta. Teemme mittauksia esimerkiksi seuraavilla menetelmillä: SIMS, ToF-ERDA, EDX ja MALDI-ToF. Pinta-analyysien lisäkis mittaamme myös esimerkiksi happipitoisuusanalyysejä syvyysprofiililla.
VPD-ICP-MS mittaukset
Tarjoamme laajan valikoiman korkealaatuisia höyryfaasihajoamisen ICP-MS-analyysejä piikiekkojen ja ohutkalvojen metallisten epäpuhtauksien määrittämiseen. Analyysi mahdollistaa epäpuhtauksien kvantifioinnin materiaalin pinnasta erittäin pienillä tasoilla ja on siten erinomainen tekniikka puolijohdeteollisuuden laadunvalvontaan.
Karkeusanalyysit
Ohutkalvojen karkeus voidaan mitata visuaalisesti pyyhkäisyelektronimikroskopialla tai numeerisesti AFM-tekniikalla. AFM-tekniikka on todella tarkka menetelmä ohutkalvojen karkeusanalyyseihin, ja pystyy mittaamaan myös todella sileät pinnat kuten kiillotetut silikonikiekot.
Hinnat ilmoitettu ilman arvonlisäveroa (24 %).
Paksuusmittaukset
Saat meiltä ohutkalvojen paksuusmittaukset ellipsometrialla, röntgenheijastavuudella (XRR) tai elektronimikroskoopilla mitattuna.
Miksi valita Measurlabs?
Laajin valikoima testausmenetelmiä – saat kaikki testisi samasta paikasta.
Parhaat laboratoriot – olemme valinneet jokaista testiä varten parhaan laboratorion kullekin menetelmälle. Näin saat kaikista tarkimmat tulokset ja parhaat hinnat.
Henkilökohtainen palvelu – kysy apua menetelmäasiantuntijoilta, jos olet epävarma standardeista, testaustarpeistasi tai näytteiden soveltuvuudesta.
Kerro lisää tarpeistasi ja pyydä tarjous
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita +358 50 336 6128.