TEM-kuvantaminen
Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM).
Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. TEM:in resoluutio on nanometrin luokkaa.
TEM-kuvantaminen edellyttää usein esikäsittelyä FIB-menetelmällä. Käsittely laskutetaan erikseen.
Tarjoamme myös korkean resoluution HR-TEM-analyysejä. Pyydä lisätietoja asiantuntijoiltamme alta löytyvällä lomakkeella.
- Soveltuvat näytematriisit
- Kuivat, kiinteät materiaalit, jauheet, ohutkalvot ja päällysteet
- Näytteiden minimimäärä
- 1x1 cm tai muutama milligramma.
- Tyypillinen läpimenoaika
- 2 – 3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Määritysraja
- - nm
- Saatavilla olevat laatujärjestelmät
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Hinta
Tyypillinen hintataso (ALV 0):
532–1 410 €per näyte
Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.
Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Vastaamme viesteihin yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.