Näytevalmistelu FIB-tekniikalla
Näytteen valmistelu elektronimikroskopiaa varten kohdennetulla ionisuihkulla (FIB, Focused Ion Beam).
Menetelmä on eritäin tarkka, ja sillä voidaan valmistaa hyvin ohuita näytekappaleita SEM- tai TEM-kuvantamista varten.
Saat pyynnöstä tarkan hinnan joko pelkälle FIB-näytevalmistelulle tai FIB-SEM- ja FIB-TEM-analyyseille.
Lisätietoja menetelmästä:
FIB-tekniikka (FIB)- Soveltuvat näytematriisit
- Kuivat ja kiinteät materiaalit (esim. ohutkalvot)
- Tyypillinen läpimenoaika
- 2 – 3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Saatavilla olevat laatujärjestelmät
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Hinta
Tyypillinen hintataso (ALV 0):
589–1 228 €per näyte
Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.
Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Vastaamme viesteihin yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.