Näytevalmistelu FIB-tekniikalla

Näytteen valmistelu elektronimikroskopiaa varten kohdennetulla ionisuihkulla (FIB, Focused Ion Beam).

Menetelmä on eritäin tarkka, ja sillä voidaan valmistaa hyvin ohuita näytekappaleita SEM- tai TEM-kuvantamista varten.

Saat pyynnöstä tarkan hinnan joko pelkälle FIB-näytevalmistelulle tai FIB-SEM- ja FIB-TEM-analyyseille.

Soveltuvat näytematriisit
Kuivat ja kiinteät materiaalit (esim. ohutkalvot)
Tyypillinen läpimenoaika
2 – 3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Saatavilla olevat laatujärjestelmät
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet

Hinta

Tyypillinen hintataso (ALV 0):
589–1 228 €per näyte

Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.

Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone
Kone logoNeste logoFermion logoPlanmeca logoSulapac logoOkmetic logo

Ota yhteyttä

Vastaamme viesteihin yhdessä arkipäivässä.

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita myyjillemme.