AFM - pinnankarheuden määrittäminen
Analyysissa näytteen pinnankarheus (RMS) määritetään atomivoimamikroskoopilla (AFM). Useimmiten käytetään Bruker Dimension Icon -laitteistoa.
Tyypillinen analyysi kattaa kolme mittauspistettä. Mittausalueena käytetään 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita. Testiraportti sisältää RMS-arvon lisäksi 2D kuvan, 3D kuvan ja raakadatan.
Lisätietoja menetelmästä:
AFM-analyysi (AFM)- Soveltuvat näytematriisit
- Sileät, kovat pinnat kuten piikiekko tai lasi.
- Näytteiden minimimäärä
- 1 x 1 cm
- Tyypillinen läpimenoaika
- 2 – 3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Määritysraja
- 0,1 nm
- Saatavilla olevat laatujärjestelmät
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Hinta
Tyypillinen hintataso (ALV 0):
220–349 €per näyte
Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.
Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Vastaamme viesteihin yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.