XPS-spektrin piikkien dekonvoluutio - alkuaineiden sidostilat

XPS on pintaherkkä tekniikka, jolla voidaan määrittää näytteen alkuainekoostumus ja alkuaineiden kemialliset sidostilat.

Mittaussyvyys on tyypillisesti 3-10 nm ja määritysraja 0.1-1 atomiprosenttia. XPS tunnistaa alkuaineet litiumista uraaniin.

Soveltuvat näytematriisit
Kuiva näyte (kiinteä, jauhe jne.)
Näytteiden minimimäärä
1x1cm or 1 tablespoon
Tyypillinen läpimenoaika
3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Määritysraja
0,1 - 1 at.%
Saatavilla olevat laatujärjestelmät
Measurlabsin validoima menetelmä

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Seuraaviin kysymyksiin vastaaminen auttaa meitä laatimaan sinulle tarjouksen nopeammin:

  • Montako näytettä sinulla on ja mitä materiaalia ne ovat?
  • Onko tämä toistuva testaustarve? Jos on, niin kuinka usein näytteitä saapuisi ja monenko näytteen erissä?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita +358 50 336 6128.