AFM-kuvantaminen sileille pinnoille

Analyysin aikana näytteen pinta kuvannetaan Bruker Dimension Icon -atomivoimamikroskoopilla (AFM).

Tyypillisesti näytteestä otetaan topologisia kuvia useasta eri kohdasta. Mittausalue on 5 x 5 mikrometriä, ellei toisin sovita.

Soveltuvat näytematriisit
Sileät, kovat pinnat kuten piikiekko tai lasi.
Näytteiden minimimäärä
1 x 1 cm
Tyypillinen läpimenoaika
2 – 3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Määritysraja
0,1 nm
Saatavilla olevat laatujärjestelmät
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet

Hinta

Tyypillinen hintataso (ALV 0):
220–349 €per näyte

Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.

Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone
Kone logoNeste logoFermion logoPlanmeca logoSulapac logoOkmetic logo

Ota yhteyttä

Vastaamme viesteihin yhdessä arkipäivässä.

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita myyjillemme.