Synkrotroni-XRD: kvantitatiivinen analyysi
Korkean resoluution synkrotroni-XRD-mittaus, jolla saadaan kvantitatiivista dataa jauhemaisen näytteen kiderakenteesta. Palveluun sisältyy:
Kiteisten faasien kvantifiointi painoprosentteina
Amorfisen aineen kokonaispitoisuuden määritys
Data jauhediffraktiomittauksesta ja sen pohjalta luotu diffraktogrammi
Yksityiskohtainen testiraportti
Tarjoamme tarvittaessa myös PDF-analyysit (engl. pair distribution function) amorfisten tai nanorakenteisten materiaalien paikallisten atomirakenteiden tarkasteluun.
Lisätietoja menetelmästä:
Röntgendiffraktio (XRD)- Soveltuvat näytematriisit
- Jauhemaiset aineet, monikiteiset tai amorfiset kiinteät aineet, geelit, vahat, vaahdot yms. Kysy nesteiden analyysimahdollisuuksista asiantuntijoiltamme.
- Näytteiden minimimäärä
- 100 mg
- Tyypillinen läpimenoaika
- 3 – 4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Määritysraja
- 0,1–0,001 p-%
- Saatavilla olevat laatujärjestelmät
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Hinta
Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.
Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.