Synkrotroni-XRD: kvantitatiivinen analyysi
Korkean resoluution synkrotroni-XRD-mittaus, jolla saadaan kvantitatiivista dataa jauhemaisen näytteen kiderakenteesta. Palveluun sisältyy:
Kiteisten faasien kvantifiointi painoprosentteina
Amorfisen aineen kokonaispitoisuuden määritys
Data jauhediffraktiomittauksesta ja sen pohjalta luotu diffraktogrammi
Yksityiskohtainen testiraportti
Tarjoamme tarvittaessa myös PDF-analyysit (engl. pair distribution function) amorfisten tai nanorakenteisten materiaalien paikallisten atomirakenteiden tarkasteluun.
Lisätietoja menetelmästä:
Röntgendiffraktio (XRD)- Soveltuvat näytematriisit
- Jauhemaiset aineet, monikiteiset tai amorfiset kiinteät aineet, geelit, vahat, vaahdot yms. Kysy nesteiden analyysimahdollisuuksista asiantuntijoiltamme.
- Näytteiden minimimäärä
- 100 mg
- Tyypillinen läpimenoaika
- 3 – 4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Määritysraja
- 0,1–0,001 p-%
- Saatavilla olevat laatujärjestelmät
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Hinta
Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.
Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Vastaamme viesteihin yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.