Korkean lämpötilan mikroskopia

Korkean lämpötilan mikroskopia (engl. hot-stage microscopy, HSM) yhdistää mikroskooppikuvauksen termiseen analyysiin. Kun näytettä kuvataan mikroskoopilla eri lämpötiloissa, saadaan tietoa mm. seuraavista:

• Morfologia ja hiukkasten ominaisuudet

• Faasimuutokset (esim. sulaminen, sublimoituminen, höyrystyminen)

• Kemialliset reaktiot

• Kiteytymisen eteneminen

Analyysin tuloksena saadaan mikroskooppikuvia ja -videoita, jotka havainnollistavat näytteessä lämpötilan muutoksen seurauksena tapahtuneita muutoksia.

Mittauslämpötilat voidaan valita 25–375 °C väliltä ja suhteellinen kosteus 5–90 %:n väliltä.