Ellipsometria

Ellipsometria on optinen tekniikka, jolla karakterisoidaan polarisoituneen valon heijastumista näytteen pinnasta.

Menetelmällä voidaan määrittää näytteen taitekerroin tai paksuus.

Ellipsometriaa käytetään ohutkalvojen ja perusmateriaalien karakterisointiin. Näyte voi olla yksi- tai monikerroksinen kalvo. Mittaukseen sopiva näytteen paksuus riippuu materiaalista - kysy tarvittaessa lisätietoja asiantuntijoiltamme.

Soveltuvat näytematriisit
Ohutkalvot, puolijohteet, eristeet, polymeerit, orgaaniset pinnoitteet, metallikerrokset
Tyypillinen läpimenoaika
2 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Saatavilla olevat laatujärjestelmät
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet

Hinta

Tyypillinen hintataso (ALV 0):
229–359 €per näyte

Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.

Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone
Kone logoNeste logoFermion logoPlanmeca logoSulapac logoOkmetic logo

Ota yhteyttä

Vastaamme viesteihin yhdessä arkipäivässä.

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita myyjillemme.