Ellipsometria
Ellipsometria on optinen tekniikka, jolla karakterisoidaan polarisoituneen valon heijastumista näytteen pinnasta.
Menetelmällä voidaan määrittää näytteen taitekerroin tai paksuus.
Ellipsometriaa käytetään ohutkalvojen ja perusmateriaalien karakterisointiin. Näyte voi olla yksi- tai monikerroksinen kalvo. Mittaukseen sopiva näytteen paksuus riippuu materiaalista, kysy tarvittaessa lisätietoja menetelmän asiantuntijalta.
Lisätietoja menetelmästä:
Ellipsometria- Soveltuvat näytematriisit
- Ohutkalvot, puolijohteet, eristeet, polymeerit, orgaaniset pinnoitteet, metallikerrokset
- Tyypillinen läpimenoaika
- 2 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Saatavilla olevat laatujärjestelmät
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Puolijohteet
PintatestausHinta
Alkaen (ALV 0):
340 €per näyte
Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.
Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.