Pinta-analyysit
Pinta-analyysit kaikentyyppisille materiaaleille. Meillä on laaja valikoima menetelmiä jotka soveltuvat analyyseihin kaikilla teollisuudenaloilla: puolijohteet, metalliteollisuus, paperi ja kartonki, muovit, polymeerit, komposiitit, tekstiilit ja monet muut.- Nopeat tulokset
- Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
- Kilpailukykyiset hinnat
- Takuu tulosten oikeellisuudesta
Pintojen kuvantamiset ja karheusanalyysit
Tarjoamme pinnan kuvantamista ja karheusanalyysejä SEM-, SEM-EDX-, TEM-, AFM- ja AES- (Auger-elektronispektroskopia) -menetelmillä kaikentyyppisille kiinteille materiaaleille. Myös poikkileikkauskuvaus on mahdollista. Kuvat antavat tietoa pinnan topologiasta, morfologiasta, karheudesta ja mikroskooppisista rakenteista. Tilaa tarvitsemasi analyysit suoraan alta tai ota meihin yhteyttä sivun alaosasta löytyvän lomakkeen kautta.
Pintojen SEM-kuvantaminen
Pintojen SEM-EDX kuvaus
TEM-kuvantaminen
TEM-kuvantaminen + EDX
Poikkileikkeen HR-TEM kuvaus + EDX + FIB
Poikkileikkeiden korkean resoluution TEM-kuvaus ja näytteen valmistus FIB:llä
Pinnan AFM-kuvantaminen
AFM pinnankarheuden määrittäminen
Auger-elektronispektroskopia (AES)
Naarmuuntumis- ja kovuustestit
Pinnoitteiden, kalvojen, metallien ja muiden materiaalien naarmuuntumis- ja kovuustestit. Asiantuntijamme auttavat mielellään kaikissa näytemateriaaleja ja sopivia menetelmiä koskevissa kysymyksissä. Katso alla määritellyt testit tai ota meihin yhteyttä sivun alaosasta löytyvän yhteydenottolomakkeen kautta ja kerro meille lisää testaustarpeistasi niin teemme sinulle tarjouksen.
Alkuaine- ja koostumusanalyysit
Pintojen alkuaine- ja koostumusanalyysit SEM-EDX, TEM-EDX, AES (Auger-elektronispektroskopia), RBS (Rutherfordin takaisinsironta), LA-ICP-MS, VPD-ICP-MS, SIMS, ToF-SIMS, ToF-ERDA ja XPS-menetelmillä. Asiantuntijamme auttavat mielellään valitsemaan näytteillesi sopivimman menetelmän jotta saat tarvitsemasi tiedot analyysistä. Voit tilata mittaukset suoraan sivuiltamme tai ottaa meihin yhteyttä sivun alaosasta löytyvällä lomakkeella ja pyytää tarjouksen tarvitsemastasi analyysipaketista.
Pintojen SEM-EDX kuvaus
TEM-kuvantaminen + EDX
ToF-ERDA-mittaus
Lentoaikaerotteinen sekundäärinen ionimassaspektrometri (TOF-SIMS)
Sekundäärinen ionimassaspektrometria (SIMS)
Röntgenfotoelektronispektroskopia
Auger-elektronispektroskopia (AES)
LA-ICP-MS ohutkalvonäytteille (70 alkuainetta)
LA-ICP-MS ohutkalvonäytteille (standardialkuaineet)
VPD-ICP-MS
Mikä Measurlabs on?
Measurlabs on laboratoriotestien tarjoaja tuotekehittäjille ja laatupäälliköille, jotka ostavat laboratoriomittauspalveluita ulkoisilta kumppaneilta. Oman Helsingissä sijaitsevan laboratoriomme lisäksi meillä on kansainvälinen yli 600 kumppanilaboratorion verkosto, jonka avulla pystymme tarjoamaan asiakkaillemme tuhansia eri testausmenetelmiä.
Miksi valita Measurlabs?
Laajin valikoima testausmenetelmiä – saat kaikki mittauksesi samasta paikasta.
Parhaat laboratoriot – olemme valinneet jokaista testiä varten parhaan laboratorion kullekin menetelmälle. Näin saat kaikista tarkimmat tulokset ja parhaat hinnat.
Henkilökohtainen palvelu – kysy apua menetelmäasiantuntijoilta, jos olet epävarma standardeista, mittaustarpeistasi tai näytteiden soveltuvuudesta.
Joitakin tyytyväisiä asiakkaitamme
Ota yhteyttä ja pyydä tarjous
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille numeroon +358 50 336 6128