UV-Vis-NIR transmittanssi ja reflektanssi (kiinteät näytteet)

UV-Vis-NIR on tekniikka, jota käytetään materiaalien optisten ominaisuuksien analysointiin laajalla aallonpituusalueella. Tyypilliset aallonpituusalueet ovat 200 nm - 2500 nm.

Tämä mittaus määrittää kiinteän näytteen spektrin transmittanssin ja reflektanssin. UV-Vis-NIR spektroskopiaa käytetään määrittämään kiinteiden materiaalien optisia ominaisuuksia UV, näkyvän valon ja NIR alueen aallonpituuksilla.

Mittaus sisältää transmittanssi ja reflektanssi mittaukset kiinteille näytteille aallonpituusalueella 200 nm - 2500 nm. Jos toivomasi mittaukset ovat tämän alueen ulkopuolella, ota meihin yhteyttä saadaksesi lisätietoja.