LA-ICP-MS ohutkalvonäytteille (70 alkuainetta)

Metallipitoisuuksien määritys LA-ICP-MS-tekniikalla. Mittaus sisältää seuraavien alkuaineiden määrityksen: Ag, Al, As, Au, B, Ba, Be, Bi, Br, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Dy, Er, Eu Fe, Ga, Gd, Ge, Hf, Hg, Ho, I, In, Ir, K, La, Li, Lu, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Nd, Ni, Os, P, Pb, Pd, Pr, Pt, Rb, Re, Rh, Ru, Sb, Sc, Se, Sm, Sn, Sr, Ta, Tb, Te, Th, Ti, Tl, Tm, U, V, W, Y, Yb, Zn ja Zr. Tulokset ilmoitetaan ppm-yksikössä (µg/g).

Soveltuvat näytematriisit

Ohutkalvonäytteet, ALD kalvot

Tyypillinen läpimenoaika

4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta

Laatujärjestelmä

Akkreditoitu testauslaboratorio

Mittauslaitteet

LA-ICP-MS

Menetelmän asiantuntija

Kia Bertula

kia.bertula@measurlabs.com+358 40 827 5851

PuolijohteetAlkuaineet ja ionitPintatestaus