Näytteen valmistelu BIB-tekniikalla

Laaja-ionisuihku (engl. Broad Ion Beam, BIB) näytteenvalmistus mahdollistaa poikkileikenäytteiden valmistamisen tai pintojen siloittamisen SEM-kuvantamista varten. Tämä menetelmä käyttää tarkasti kohdistettua, korkeaenergistä ionisuihkua näytteen jyrsimiseen.

Tyypilliset käyttötarkoitukset

• Poikkileikenäytteiden valmistus ohutkalvoista, pinnoitteista ja kerroksellisista rakenteista SEM kuvantamista varten.

• Näytteiden pintojen silotus tai artefaktien tai kerrosrajapintojen esiinjyrsiminen SEM-kuvantamista varten

Sopivat näytteet

• Erilaisille substraateille kasvatetut ohutkalvot

• Bulkkimateriaalit, mukaan lukien metallit, keraamit, polymeerit ja komposiitit.

Rajoitukset

• Ei sovellu materiaaleille, jotka ovat erittäin herkkiä ionipommitukselle.

• Erittäin suuret näytteet eivät mahdu laitteistoon.

• Mahdollisuus lieviin ionisuihkun aiheuttamiin muutoksiin erittäin herkissä materiaaleissa.

Liittyvät menetelmät

• Näytteen paikalliseen ohentamiseen tai valmistamiseen läpäisyelektronimikroskopiaa (TEM) varten käytetään kohdennettua ionisuihkunäytteenvalmistusta (FIB).

• Jäädytysmurtamista voidaan käyttää usein ohuiden orgaanisten näytteiden kohdalla BIB:n sijasta kustannusten säästämiseksi.