Mikromuovit verestä ja muista ihmisperäisistä näytteistä

Näytteen kryo-SEM-kuvantaminen ja EDX-alkuainekartoitus. Menetelmä soveltuu erityisesti hauraille biologisille näytteille, jotka vaurioituvat helposti elektronisuihkun tai tyhjiön vaikutuksesta. Analyysin aluksi näyte pikajäädytetään, minkä jälkeen se kuvataan pyyhkäisyelektronimikroskoopilla. Lisäksi alkuainekoostumus kartoitetaan EDX-detektorilla. Tuloksena toimitetaan 10–20 SEM-kuvaa, 1–2 EDX-karttaa sekä sanallinen selostus havainnoista.

Näytteen kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Näytteestä otetaan yleensä useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella analyysiä varten päällystämällä ne ohuella metallikerroksella. Näytteestä voidaan myös tarvittaessa valmistella poikkileike esimerkiksi FIB- tai BIB-menetelmällä. Lisäksi helposti vahingoittuvat näytemateriaalit voidaan valmistella pikajäädytyksellä (kryo-SEM). Jos tarvitset tietoa myös alkuainekoostumuksesta, voit tilata SEM-EDX-kuvauksen. Tarjoamme myös korkean lämpötilan SEM-kuvaukset jopa 1400 °C lämpötilassa. Voit pyytää tarjouksen täyttämällä alta löytyvän lomakkeen.

ESEM-menetelmä (engl. environmental scanning electron microscopy) mahdollistaa biologisten näytteiden SEM-kuvantamisen ilman mittavaa esikäsittelyä. Kuvaus suoritetaan näytekammiossa, jonka lämpötilaa, painetta ja suhteellista ilmankosteutta (maks. 90 %) voidaan muokata herkille näytemateriaaleille sopiviksi. Tyypillisessä mittauksessa näytealustalle kiinnitetty näyte jäähdytetään huoneenlämpöä matalampaan lämpötilaan, minkä jälkeen näytekammion painetta kasvatetaan asteittain ja näytteestä otetaan SEM-kuvia useissa eri paineissa. Suurin mahdollinen näytekoko riippuu näytealustasta: Lasialustan halkaisija maks. 2 cm, Sähköä johtavan alustan halkaisija maks. 6 mm. Mittausolosuhteet voidaan räätälöidä näytetyypin ja analyysin tavoitteiden mukaan. Pyydä lisätietoja asiantuntijoiltamme täyttämällä alta löytyvä lomake.

Näytteen kuvaaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX, EDS). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Tuloksena saadaan myös analysoidun alueen alkuainekoostumus, joka voidaan esittää esimerkiksi alkuainekarttana. Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella kuvausta varten metallipäällysteellä. Tarjoamme pyynnöstä myös poikkileikenäytteen valmistuksen. Tähän voidaan hyödyntää esimerkiksi FIB- tai BIB-menetelmiä.

Tämä analyysi sisältää dioksiinien ja furaanien (PCDD/F) määrityksen pakkauksista (esim. elintarvike- ja kosmetiikkapakkaukset) sekä niiden raaka-aineista. Testi soveltuu paperia, muovia ja/tai kumia sisältäville materiaaleille. Dioksiinit ja furaanit ovat klooria sisältäviä kemikaaleja, joita pidetään biokertyvinä, pysyvinä orgaanisina yhdisteinä (POP), jotka voivat olla myrkyllisiä jopa pieninä annoksina. Vaikka pitoisuusrajoituksia on asetettu pääasiassa elintarvikkeille ja rehuille, erityisesti kierrätetyistä materiaaleista valmistetut pakkausmateriaalit voivat olla epäsuoran altistuksen lähde, riippuen raaka-aineen laadusta ja puhdistusprosessien tehokkuudesta. Testipaketti sisältää seuraavien yhdisteiden määrityksen: Dibentso-p-dioksiinit (PCDD-aineet) Polyklooratut dibentsofuraanit (PCDF-aineet) 2,3,7,8-TCDD. 2,3,7,8-TCDF. 1,2,3,7,8-PeCDD. 1,2,3,7,8-PeCDF. 1,2,3,4,7,8-HxCDD. 2,3,4,7,8-PeCDF. 1,2,3,6,7,8-HxCDD. 1,2,3,4,7,8-HxCDF. 1,2,3,7,8,9-HxCDD. 1,2,3,6,7,8-HxCDF. 1,2,3,4,6,7,8-HpCDD. 1,2,3,7,8,9-HxCDF. OCDD. 2,3,4,6,7,8-HxCDF. 1,2,3,4,6,7,8-HpCDF. 1,2,3,4,7,8,9-HpCDF. OCDF. Testipaketti soveltuu mm. seuraaviin tarkoituksiin: Kosmetiikkapakkauksiin tarkoitetun kierrätetyn PE:n, PP:n ja LDPE:n analysointi CosPaToxin ohjeiden mukaisesti, Paperista valmistetun kontaktimateriaalin vaatimustenmukaisuuden arviointi Temanord 2008:515 -ohjeiden mukaisesti (vaatimus koskee kloorilla valkaistua paperia).

Vinyylikloridin (kloorieteeni, CAS 75-01-4) pitoisuuden määritys muovimateriaalista. Euroopan kemikaalivirasto ECHA on määritellyt vinyylikloridin karsinogeeniksi, ja sen pitoisuudelle ja siirtymälle kontaktimateriaaleista ruokaan on asetettu ylärajat asetuksessa (EU) N:o 10/2011.

Metallien seulontanalyysi kattaa 70 alkuaineen semi-kvantitatiivisen määrityksen. Mittaus soveluu mm. ympäristönäytteiden taustapitoisuuksien määrittämiseen ja tuntemattomien näytteiden alkuainejakauman tutkimiseen. Menetelmän avulla voidaan arvioida, mitä metalleja näytteestä kannattaa analysoida tavallisella, kvantitatiivisella menetelmällä. Mittaus suoritetaan korkean resoluution ICP-MS-tekniikalla (ICP-SFMS), jolla pystytään tunnistamaan erityisen alhaisia alkuainepitoisuuksia. Menetelmä sisältää seuraavien alkuaineiden semi-kvantitatiivisen määrittämisen: Ag, Al, As, Au, B, Ba, Be, Bi, Br, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Dy, Er, Eu, Fe, Ga, Gd, Ge, Hf, Hg, Ho, I, Ir, K, La, Lu, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Nd, Ni, Os, P, Pb, Pd, Pr, Pt, Rb, Re, Rh, Ru, S, Sb, Sc, Se, Si, Sm, Sn, Sr, Ta, Tb, Te, Th, Ti, Tl, Tm, U, V, W, Y, Yb, Zn ja Zr. Huomaattehan kuitenkin, että joitain alkuaineita ei välttämättä voida määrittää matriisihäiriöistä johtuen. Tämän puolikvantitatiivisen analyysin aikana instrumentti kalibroidaan noin 30 alkuaineelle. Kvantitatiivinen analyysi on saatavilla lisämaksusta. Tämän analyysin aikana kaikki elementit kalibroidaan (pois lukien halogeenit ja Os). Pyydäthän tarjouksen tästä palvelusta.

Orgaanisen fluorin kokonaismäärän (TOF) määritys palavista materiaaleista poltto-IC-menetelmällä (CIC). Määritys perustuu lähtökohtaisesti kokonaisfluorin (TF) määritykseen. Jos näyte kuitenkin sisältää epäorgaanista fluoria merkittävinä pitoisuuksina, voidaan myös epäorgaanisen fluorin kokonaismäärä (TIF) mitata ja TOF-pitoisuus laskea TF:n ja TIF:n erotuksena. TOF-analyysi antaa tietoa orgaanisten fluoriyhdisteiden kokonaismäärästä. Analyysia voidaan käyttää myös arvioitaessa PFAS-yhdisteiden esiintymistä näytteessä, vaikka TOF-menetelmällä ei saadakaan analysoitua yksittäisiä PFAS-yhdisteitä. Menetelmä soveltuu useille erilaisille materiaaleille. Kun kuvailet näytemateriaalia tarkasti tarjouspyynnön yhteydessä, voimme laatia tarjouksen mahdollisimman nopeasti.

XPS on semikvantitatiivinen tekniikka, joka mahdollistaa materiaalien pinnan alkuainekoostumuksen määrityksen. Lisäksi menetelmällä voidaan määrittää atomien sitoutumis- ja elektronitilat. XPS on pintaherkkä tekniikka. Tyypillinen tutkimussyvyys on 3-10 nm ja havaitsemisrajat noin 0,1-1 atomiprosenttia. XPS-menetelmällä voidaan tunnistaa alkuaineet litiumista uraaniin (Li-U). Mittaus sisältää alkuainekoostumuksen määrityksen halkaisijaltaan usean sadan mikrometrin kokoiselta alueelta. Tulokset ilmaistaan atomiprosenteissa (at.%). Pyynnöstä mittaus voidaan kohdistaa pienemmälle alueelle. Myös syvyysprofilointi ja atomien sidostilojen määritys ovat mahdollisia. Mittaus toteutetaan yleensä jollain seuraavista laitteista: PHI Genesis, Thermo Fisher ESCALAB 250Xi, PHI Quantum 2000. Mittaukset voidaan suorittaa myös synkrotroni XPS laitteistolla. Pyydä lisätietoja ja hinta-arvio asiatuntijoiltamme.

Kemiallisten ryhmien tunnistaminen kiinteistä aineista ATR-FTIR-spektroskopialla. Tulokset toimitetaan FTIR-spektrinä sekä spektrin vertailuna kirjastoon. Menetelmä ei ole kvantitatiivinen, mutta sen avulla voidaan tunnistaa näytteen funktionaalisia ryhmiä.