Akustinen mikroskopia (C-SAM)
C-SAM on näytettä vahingoittamaton analyysimenetelmä, jota käytetään erityisesti elektroniikkateollisuuden vika-analyyseissä. Menetelmä soveltuu esimerkiksi puolijohdekiekkojen välisten liitosten eheyden tutkimiseen sekä materiaalin sisäisten halkeamien ja tyhjiöiden havaitsemiseen. Tarvittaessa voidaan käyttää GHz-SAM -laitteistoa, joka tarjoaa tavallista akustista mikroskooppia korkeamman resoluution.
Max. näytekoko: 300 mm x 300 mm – 350 mm x 350 mm (perinteinen C-SAM), 100 µm – 1500 µm (GHz-SAM)
Saat lisätietoja analyysimahdollisuuksista ja tarkan hinta-arvion ottamalla yhteyttä asiantuntijoihimme alta löytyvällä lomakkeella.
Lisätietoja menetelmästä:
Akustinen mikroskopia (SAM)- Soveltuvat näytematriisit
- Piirilevyt, mikroelektroniikan komponentit, piikiekot, kivet
- Saatavilla olevat laatujärjestelmät
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Hinta
Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.
Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.