REACH-asetuksen mukainen nanohiukkasanalyysi

Partikkelikokojakauma määritetään läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) otetuista kuvista. Menetelmä soveltuu parhaiten alle 50 nm kokoisille hiukkasille. Hiukkasten muodosta riippuen analyysi sisältää joko halkaisijan tai pituuksien ja leveyksien määrityksen. Koon lisäksi TEM antaa laadullista tietoa partikkelien pinnanmuodoista. Analyysi soveltuu erityisesti epäsäännöllisen muotoisille ja muille kuin pyöreille hiukkasille, jotka ovat muodoltaan esimerkiksi kuitumaisia, sauvamaisia tai kristallimaisia. Perinteisemmillä menetelmillä (LD, DLS) ei saada luotettavaa tietoa vastaavien hiukkasten kokojakaumasta. Tuloksena saadaan TEM-kuvat ja hiukkasten kokojakauma joko halkaisijaan tai pituuteen ja leveyteen suhteutettuna. Näytteiden tulee olla täysin kuivia TEM-kuvantamista varten. Kysy lisätietoja näytevalmistelusta, jos näyte vaatii kuivaamista.

Metallien seulontanalyysi kattaa 70 alkuaineen semi-kvantitatiivisen määrittämisen. Menetelmä soveluu mm. ympäristönäytteiden taustapitoisuuksien määrittämiseen ja tuntemattomien näytteiden alkuainejakauman tutkimiseen. Menetelmän avulla voidaan arvioida, mitä metalleja näytteestä kannattaa analysoida tavallisella, kvantitatiivisella menetelmällä. Mittaus suoritetaan korkean resoluution ICP-MS-tekniikalla (ICP-SFMS), jolla pystytään tunnistamaan erityisen alhaisia alkuainepitoisuuksia. Menetelmä sisältää seuraavien alkuaineiden semi-kvantitatiivisen määrittämisen: Ag, Al, As, Au, B, Ba, Be, Bi, Br, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Dy, Er, Eu, Fe, Ga, Gd, Ge, Hf, Hg, Ho, I, Ir, K, La, Lu, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Nd, Ni, Os, P, Pb, Pd, Pr, Pt, Rb, Re, Rh, Ru, S, Sb, Sc, Se, Si, Sm, Sn, Sr, Ta, Tb, Te, Th, Ti, Tl, Tm, U, V, W, Y, Yb, Zn ja Zr. Huomattehan kuitenkin, että joitain alkuaineita ei välttämättä voida määrittää matriisihäiriöistä johtuen. Tämän puolikvantitatiivisen analyysin aikana instrumentti kalibroidaan noin 30 alkuaineelle. Kvantitatiivinen analyysi on myös saatavilla lisämaksusta. Tämän analyysin aikana kaikki elementit kalibroidaan (pois lukien halogeenit ja Os). Pyydäthän tarjouksen tästä palvelusta.

Näytteen hiili-, vety-, typpi-, rikki-, ja happipitoisuuden määritys. CHNS-analyysi (”LECO-analyysi”) suoritetaan Dumas-polttomenetelmällä, jossa näyte poltetaan 25 kPa happiatmosfäärissä korkeassa lämpötilassa (1000 °C) ja komponentit erotetaan kaasukromatografisesti ennen tunnistusta lämmönjohtavuusdetektorilla. Happi määritetään pelkistämällä happiyhdisteet granulaarisen hiilen kanssa 1480 °C:ssa hiilimonoksidiksi ennen kaasukromatografista erotusta ja tunnistusta lämmönjohtavuusdetektorilla. Näyte voi olla joko kiinteä tai nestemäinen, mutta vesiliuoksissa oleva vesi kuitenkin häiritsee mittausta ja vaikuttaa mittaustulokseen. Vesipitoisen näytteen tapauksessa näyte voidaan kuivata ennen määritystä, mikäli tulos halutaan suhteessa kuivapainoon. Tuhka, kuivaus ja haihdutushäviö mittaukset nostavat miniminäytemäärän mittauksiin 300 mg:aan. Hinta sisältää kaksi rinnakkaista määritystä. Tulokset raportoidaan massaprosentteina alkuperäisestä näytteestä, ja mittauksesta saadaan hiili-, vety-, typpi-, rikki-, ja happipitoisuus näytteessä, mutta se ei ota kantaa kemialliseen rakenteeseen. Mittaus voidaan yhdistää muiden analyysimenetelmien kanssa (mm. GC-MS, 1H ja 13C NMR) yhdisteen rakenteen selvittämiseksi. Mahdollisia alkuainepaketteja: O, CHNS ja CHNOS.

Muovin kokonaisfluoripitoisuuden (F) määritys yhdellä seuraavista menetelmistä: Akkreditoitu EN 14582 -standardiin perustuva analyysi polttoionikromatografilla (CIC). Pohjoismaiden ministerineuvosto suosittelee menetelmää nopeaan fluoripitoisuuden määritykseen mm. pakkausmateriaaleista., EN 15408 mod. -standardiin perustuva analyysi happopommihajotuksella ja ionikromatografilla. Menetelmä soveltuu muovigranulaateille ja -levyille, ja sillä voidaan määrittää myös rikin (S), kloorin (Cl) tai bromin (Br) kokonaispitoisuudet.. Sivulla näkyvä hinta sisältää EN 14582 -standardin mukaisen analyysin sekä näytteen valmistelun (kuivaus ja jauhaminen alle 1 mm partikkeleiksi).

Näytteen kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Näytteestä otetaan yleensä useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella analyysiä varten päällystämällä ne ohuella metallikerroksella. Näytteestä voidaan myös tarvittaessa valmistella poikkileike esimerkiksi FIB- tai BIB-menetelmällä. Jos tarvitset tietoa myös alkuainekoostumuksesta, voit tilata SEM-EDX-kuvauksen.

Kristallijauheiden kvalitatiivinen tai vertaileva analyysi röntgendiffraktiolla (XRD). Analyysi soveltuu ainoastaan materiaaleille, joilla on ainakin yksi kiteinen faasi.

Ftalaatit ovat ryhmä kemikaaleja, joita käytetään yleisesti muovinpehmentiminä muovien joustavuuden ja kestävyyden parantamiseksi. Niitä myös käytetään (tai on käytetty) lisäaineina muissa tuotteissa, kuten kosmetiikassa. Useita ftalaatteja on tunnistettu hormonitoimintaa häiritseviksi tai lisääntymiselle vaarallisiksi aineiksi. Tyypillisiä altistusreittejä ftalaateille ovat: Alistus suun kautta Elintarvikkeet: pakkausmateriaaleista voi siirtyä ftalaatteja ruokaan, Lasten lelut: lapset laittavat leluja usein suuhunsa., Altistus hengitysteitse: esimerkiksi vinyylilattian pölyn tai hajusteiden hengittäminen voi altistaa ftalaateille., Ihokosketus: kosmetiikassa, voiteissa ja saippuoissa olevat ftalaatit voivat imeytyä ihon läpi.. Kaikille muille näytematriiseille kuin kosmetiikalle tämä testipaketti sisältää seuraavien EU:n REACH-asetuksessa rajoitettujen ftalaattien analyysin: Yhdiste Lyhenne CAS-numero Diisobutyyliftalaatti DIBP 84-69-5 Dibutyyliftalaatti DBP 84-74-2 Bentsyylibutyyliftalaatti BBP 85-68-7 Bis(2-etyyliheksyyli)ftalaatti DEHP 117-81-7 Di(n-oktyyli)ftalaatti DNOP 117-84-0 Diisononyyliftalaatti DINP 68515-48-0 Diisodekyyliftalaatti DIDP 26761-40-0 Kosmetiikalle analyysi sisältää seuraavat ftalaatit: Yhdiste Lyhenne CAS-numero Bis(2-etyyliheksyyli)ftalaatti DEHP 117-81-7 Bentsyylibutyyliftalaatti BBP 85-68-7 Dibutyyliftalaatti DBP 84-74-2 Di-isononyyliftalaatti DINP 68515-48-0 Di(n-oktyyli)ftalaatti DNOP 117-84-0 Di-isodekyyliftalaatti DIDP 26761-40-0

Vesinäytteen ICP-MS mittaus sisältää seuraavien alkuaineiden määrityksen: Be, Ba, Co, Al, Mg, Cu, Li, Mn, Ag, Sn, Ti, V, Zn, Tl, B, Hg, Mo, Fe, Ca, K, U, P, Cd, Na, Cr, Ni, Pb, Sb, As ja Se. Näyte homogenisoidaan ja hapotetaan (HNO3), jonka jälkeen analyysi suoritetaan nestefaasista. Analyysi on tarkoitettu puhtaille luonnonvesille eikä se sovellu vesinäytteille, joissa kiintoainemäärä on suuri tai näytematriisi on selvästi luonnonvedestä poikkeava (esim. jäte- ja teollisuusvedet) analyysi tulee suorittaa eri menetelmällä. Kunkin alkuaineen pitoisuus ilmoitetaan tuloksissa yksikössä µg/l.

Valittujen haihtuvien orgaanisten yhdisteiden (VOC) määritys vedestä GC-MS- ja GC-FID-tekniikoilla. Analyysi voidaan suorittaa seuraavien standardimenetelmien mukaisesti: EPA 624, EPA 5021A, EPA 8260, EPA 8015, EN ISO 10301, ISO 11423-1, and EN ISO 15680 Analyysin tulokset ilmoitetaan yksikössä µg/L. Analyysi sisältää seuraavat yhdisteet: Analyytti: Raportointirajat: kloorimetaani 1 µg/l bromimetaani 1 µg/l dikloorimetaani 0.1 µg/l dibromimetaani 1 µg/l bromikloorimetaani 2 µg/l trikloorimetaani (kloroformi) 0.1 µg/l tribromimetaani (bromoformi) 0.2 µg/l bromidikloorimetaani 0.1 µg/l dibromikloorimetaani 0.1 µg/l summa 4 trihalometanit 0.5 µg/l tetrakloorimetaani 0.1 µg/l trikloorifluorimetaani 1 µg/l diklooridifluorimetaani 1 µg/l monokloorietaani 1 µg/l 1,1-dikloorietaani 0.1 µg/l 1,2-dikloorietaani 0.1 µg/l 1,2-dibromietaani 0.5 µg/l 1,1,1-trikloorietaani 0.1 µg/l 1,1,2-trikloorietaani 0.1 µg/l 1,1,1,2-tetrakloorietaani 0.1 µg/l 1,1,2,2-tetrakloorietaani 1 µg/l vinyylikloridi 0.1 µg/l 1,1-dikloorieteeni 0.1 µg/l cis-1,2-dikloorieteeni 0.1 µg/l trans-1,2-dikloorieteeni 0.1 µg/l summa 1,2-dikloorieteenit 0.2 µg/l trikloorieteeni 0.1 µg/l summa 11 klooratut hiilivedyt 1.1 µg/l tetrakloorieteeni 0.1 µg/l Summa trikloorieteeni and tetrakloorieteeni 0.2 µg/l summa 5 klooratut eteenit 0.5 µg/l 1,2-diklooripropaani 1 µg/l 1,3-diklooripropaani 1 µg/l 2,2-diklooripropaani 1 µg/l 1,2,3-triklooripropaani 1 µg/l 1,2-dibromi-3-klooripropaani 1 µg/l 1,1-dikloori-1-propeeni 1 µg/l cis-1,3-dikloori-1-propeeni 1 µg/l trans-1,3-diklooripropeeni 1 µg/l heksaklooributadieeni 1 µg/l 2-klooritolueeni 1 µg/l 4-klooritolueeni 1 µg/l monoklooribentseeni 0.1 µg/l bromibentseeni 1 µg/l 1,2-diklooribentseeni 0.1 µg/l 1,3-diklooribentseeni 0.1 µg/l 1,4-diklooribentseeni 0.1 µg/l summa 3 diklooribentseenit 0.3 µg/l 1,2,3-triklooribentseeni 0.1 µg/l 1,2,4- triklooribentseeni 0.1 µg/l 1,3,5-triklooribentseeni 0.1 µg/l summa 3 triklooribentseenit 0.4 µg/l bentseeni 0.1 µg/l tolueeni 0.5 µg/l etyylibentseeni 0.1 µg/l o-ksyleeni 0.1 µg/l m/p-ksyleeni 0.2 µg/l summa ksyleenit 0.3 µg/l summa BTEX 1 µg/l styreeni 0.2 µg/l isopropyylibentseeni 1 µg/l n-propyylibentseeni 1 µg/l 1,2,4- trimetyylibentseeni 1 µg/l 1,3,5- trimetyylibentseeni 1 µg/l n-butyylibentseeni 1 µg/l sec-butyylibentseeni 1 µg/l tert-butyylibentseeni 1 µg/l p-isopropyylitolueeni 1 µg/l naftaleeni 1 µg/l Di-isopropyylieetteri (DIPE) 0.6 µg/l ETBE (etyyli-tert-butyylieetteri) 0.2 µg/l MTBE (metyyli-tert-butyylieetteri) 0.2 µg/l tert-amyylietyylieetteri (TAEE) 0.2 µg/l TAME 0.2 µg/l tert-butyylialkoholi (TBA) 5 µg/l etanoli 100 µg/l Mikäli näytteestä halutaan analysoida vain tietyt yhdisteet, valmistelemme mielellämme kustomoidun tarjouksen. Analyysiin sopivia näyteastioita voi tilata meidän kauttamme. Measurlabsilta noudetut näyteasiastia kuuluvat analyysin hintaan, mutta näyteastiat voidaan myös postittaa asiakkaalle erillistä palvelumaksua vastaan.

Näytteen sisäisten rakenteiden 3D-kuvantaminen mikro- tai nanotietokonetomografialla (mikro-CT tai nano-CT), joka ei vahingoita näytettä. Menetelmällä saadaan tietoa kiinteiden rakenteiden tiheydestä, sisäisistä halkeamista, tyhjiöistä ja faasijakaumista. Analyysi soveltuu jauhemaisille materiaaleille, kuten lääke- ja kosmetiikkateollisuuden raaka-aineille, sekä kiinteille kappaleille, kuten piikiekoille ja koneiden komponeteille. Menetelmällä voidaan saavuttaa jopa 60 nm:n vokselikoko. Kuvantaminen voidaan toteuttaa mm. seuraavilla laitteistoilla: Bruker SkyScan 1272 CMOS, Bruker SkyScan 2214 CMOS, Zeiss Xradia 515 Versa. Saat lisätietoja näytevaatimuksista sekä menetelmän soveltuvuudesta eri materiaaleille, kun laitat viestiä asiantuntijoillemme alta löytyvällä lomakkeella.