ICP-MS-analyysi geologisille näytteille (uutto kuningasveteen)

ICP-MS-alkuainemääritys geologisille näytteille (kivet, malmi, kaivosnäytteet), sisältäen neljän hapon uuton. Analyysi sisältää seuraavat alkuaineet: Ag, Al, As, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Fe, Ga, Ge, Hf, In, K, La, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Ni, P, Pb, Rb, Re, S, Sb, Sc, Se, Sn, Sr, Ta, Te, Th, Ti, Tl, U, V, W, Y, Zn, ja Zr Sisältää myös harvinaisten maametallien (REE) analyysin: Dy, Er, Eu, Gd, Ho, Lu, Nd, Pr, Sm, Tb, Tm ja Yb. Lyijyn (Pb) isotooppianalyysi saatavilla pakettiin 20 € lisähinnalla. Hintaan ei sisälly esikäsittely, kuten murskaus tai seulonta. Yli 5 kg painavista lähetyksistä peritään käsittelymaksu. Huomioithan, että emme lähtökohtaisesti tarjoa näitä testejä yksittäisille näytteille tai muutaman näytteen erille, ellei kyse ole toistuvasta testitarpeesta.

Spark-OES-menetelmällä voidaan määrittää metallien ja metalliseosten alkuainekoostumus nopeasti ja tarkasti. Mittaus on nopeampi ja määritysrajat monesti matalammat kuin muilla vastaavilla menetelmillä (mm. ICP-OES, ICP-MS, XRF). Menetelmällä voidaan havaita kaikki metalliset alkuaineet sekä useita epämetalleja, kuten C, N ja S. Määritysrajat liikkuvat ppm-luokassa. Spark-OES soveltuu kiinteille metallikappaleille, joiden koko on vähintään 1 x 1 cm. Näytevalmistelu sisältyy analyysin hintaan.

Metallien seulontanalyysi kattaa 70 alkuaineen semi-kvantitatiivisen määrittämisen. Menetelmä soveluu mm. ympäristönäytteiden taustapitoisuuksien määrittämiseen ja tuntemattomien näytteiden alkuainejakauman tutkimiseen. Menetelmän avulla voidaan arvioida, mitä metalleja näytteestä kannattaa analysoida tavallisella, kvantitatiivisella menetelmällä. Mittaus suoritetaan korkean resoluution ICP-MS-tekniikalla (ICP-SFMS), jolla pystytään tunnistamaan erityisen alhaisia alkuainepitoisuuksia. Menetelmä sisältää seuraavien alkuaineiden semi-kvantitatiivisen määrittämisen: Ag, Al, As, Au, B, Ba, Be, Bi, Br, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Dy, Er, Eu, Fe, Ga, Gd, Ge, Hf, Hg, Ho, I, Ir, K, La, Lu, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Nd, Ni, Os, P, Pb, Pd, Pr, Pt, Rb, Re, Rh, Ru, S, Sb, Sc, Se, Si, Sm, Sn, Sr, Ta, Tb, Te, Th, Ti, Tl, Tm, U, V, W, Y, Yb, Zn ja Zr. Huomattehan kuitenkin, että joitain alkuaineita ei välttämättä voida määrittää matriisihäiriöistä johtuen. Tämän puolikvantitatiivisen analyysin aikana instrumentti kalibroidaan noin 30 alkuaineelle. Kvantitatiivinen analyysi on myös saatavilla lisämaksusta. Tämän analyysin aikana kaikki elementit kalibroidaan (pois lukien halogeenit ja Os). Pyydäthän tarjouksen tästä palvelusta.

Korkean resoluution synkrotroni-XRD-mittaus, jolla saadaan kvantitatiivista dataa jauhemaisen näytteen kiderakenteesta. Palveluun sisältyy: Kiteisten faasien kvantifiointi painoprosentteina, Amorfisen aineen kokonaispitoisuuden määritys, Data jauhediffraktiomittauksesta ja sen pohjalta luotu diffraktogrammi, Yksityiskohtainen testiraportti. Tarjoamme tarvittaessa myös PDF-analyysit (engl. pair distribution function) amorfisten tai nanorakenteisten materiaalien paikallisten atomirakenteiden tarkasteluun.

Hiilen pysyvän isotoopin (13C) analyysi IRMS-tekniikalla. Tulokset raportoidaan yksikössä VPDB, ‰. Menetelmä soveltuu useille erilaisille materiaaleille. Ole yhteydessä Measurlabsin asiantuntijoihin analyysin yksityiskohdista.

Jauhemaisen materiaalin kiteisten faasien tunnistaminen ja kvantitointi (Rietveld-analyysi) röntgendiffraktiolla (XRD). Analyysi soveltuu ainoastaan kiteisille materiaaleille tai materiaaleille, joilla on ainakin yksi kiteinen faasi. Mittauksen tarkkuus vaihtelee hieman matriisista ja tarkastelun alla olevasta faasista riippuen, mutta yleensä määritysraja on noin 0.1 %. Saatavilla oleva lämpötila-alue XRD-mittauksille on 25–1100 °C, ja kiteisyyttä voidaan tutkia lämpötilan funktiona. Mittaukset voidaan suorittaa normaalissa ilmassa, inertin kaasun alla tai tyhjiössä. Ota yhteyttä asiantuntijoihimme keskustellaksesi saatavilla olevista lämpötila- ja atmosfäärivaihtoehdoista. Ilmoitathan mahdollisuuksien mukaan, mitä kidefaaseja näyte sisältää tilausta tehdessäsi, sillä tieto parantaa analyysin tarkkuutta. Menetelmä soveltuu kuitenkin myös tuntemattomien faasien tunnistukseen. Mittaukset voidaan suorittaa joko laboratorio-XRD:llä tai synkrotroni-XRD:llä.

XRF on kvantitatiivinen ja kvalitatiivinen analyysimenetelmä, jota voidaan käyttää nesteiden ja kiinteiden aineiden alkuaineanalyysin tekemiseen. Tämä analyysi soveltuu näytteille, jotka eivät vaadi monimutkaista esikäsittelyä, varotoimia tai muita erityistoimenpiteitä. Mittaukseen käytetään lähtökohtaisesti aallonpituusdispersiivistä XRF-spektrometriä (WDXRF). Ilmoitathan tilauksen yhteydessä, jos haluat mittauksen energiadispersiivisellä XRF-spektrometrillä (EDXRF).

Kristallijauheiden kvalitatiivinen tai vertaileva analyysi röntgendiffraktiolla (XRD). Analyysi soveltuu ainoastaan materiaaleille, joilla on ainakin yksi kiteinen faasi.

Bromattujen palonestoaineiden (BFR, PBB, PBDE) määritys rakennusmateriaaleista py-GC-MS laitteistolla. Analyysi perustuu ISO 7270-1 -standardiin. Palonestoaineet voidaan analysoida myös sähköteknisistä laitteista IEC 62321-6 -standardin mukaisesti. Saat lisätietoja asiantuntijoiltamme.

Alkuainesuhteiden määritys RBS-menetelmällä (Rutherfordin takaisinsirontaspektrometria). Mittaus soveltuu syvyysprofilointiin. RBS antaa tietoa raskaampien alkuaineiden pitoisuuksista. Kevyistä alkuaineista saadaan tietoa, jos menetelmä yhdistetään ToF-ERDA-mittaukseen.