SEM-analyysi
Pyyhkäisyelektronimikroskopia (SEM) on tarkka ja nopea tekniikka materiaalin pintojen mikroskooppisten rakenteiden tutkimiseen. SEM-analyysilla on lukuisia sovelluksia tutkimuksessa ja tuotekehityksessä; esimerkiksi hiukkasten tai pinnoitteiden pinnan morfologiaa voidaan kuvantaa menetelmällä. Monipuolisuutensa ansiosta SEM:iä voidaan käyttää apuna monien tuotantoprosessissa ilmenevien ongelmien ratkaisemiseen.
Tilaa SEM-analyysit Measurlabsilta
SEM-EDX-kuvaus
SEM-kuvantaminen
Hiukkaskokojakauma Euroopan komission ohjeistuksen mukaisesti
Partikkelikokojakauman määritys SEM:lla
Kiderakenneanalyysi EBSD-menetelmällä
Hengittyvä ja alveolijakeinen pöly huoneilmassa (EN 481 ja ISO 7708)
Hinnat ilmoitettu ilman arvonlisäveroa.
- Nopeat tulokset
- Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
- Kilpailukykyiset hinnat
- Takuu tulosten oikeellisuudesta
Mihin SEM-analyysia käytetään?
Pyyhkäisyelektronimikroskoopilla näytteen yksityiskohtaiset pintarakenteet voidaan nähdä erinomaisen tarkasti, jolloin näytteen pinnan morfologiasta ja topologiasta saadaan tarkka kuva. Hyvän pyyhkäisyelektronimikroskoopin resoluutio voi olla jopa alle 1 nm, mutta tyypillisemmin resoluutio asettuu 1-20 nanometrin välille.
Erilaisiin käyttötarkoituksiin on saatavilla monia erilaisia SEM-laitteistoja, detektoreita ja tekniikoita. Kun SEM yhdistetään EDS-menetelmään (energiadispersiivinen röntgenspektroskopia), on tuloksena on SEM-EDS-analyysi, jolla voidaan tutkia pintarakenteiden lisäksi näytteen alkuainekoostumusta. Toinen mahdollinen lisäosa on EBSD-detektori, jolla saadaan lisätietoa näytteen kiderakenteesta.
Miten SEM toimii?
SEM-analyysissa elektronisuihku pyyhkii näytteen pintaa systemaattisesti. Elektronit kiihdytetään matkaan elektronilähteestä ja ohjataan useiden elektromagneettisten linssien ja apertuurien läpi ennen osumista näytteeseen. Elektronit vuorovaikuttavat näytteen pinnan kanssa ja tuottavat erilaisia signaaleja poiketessaan alkuperäisestä suunnastaan. Detektori havaitsee elektronien tuottamat signaalit, joiden perusteella laitteeseen yhdistetty tietokone muodostaa kuvan näytteestä.
Näytteet ja näytevalmistelu
SEM-menetelmällä analysoitavien näytteiden tulee olla kuivia ja niiden pintojen sähköä johtavia. Mikäli näin ei ole (esimerkiksi biologisten näytteiden tapauksessa), näytteitä täytyy esikäsitellä ennen SEM-analyysia. Yleensä näytteet, jotka eivät johda sähköä, on pinnoitettava sähköä johtavalla materiaalilla ennen analyysiä. Sopivia pinnoitteita ovat esimerkiksi platina, kulta, palladium ja hiili.
SEM vs. perinteinen mikroskopia
Mikroskoopilla otetun kuvan resoluutio – toisin sanoen pienin etäisyys kahden eri kohteen välillä, jotka voidaan vielä erottaa toisistaan – riippuu käytetyn elektromagneettisen säteilyn (esimerkiksi valon) aallonpituudesta. Koska elektroneilla on lyhyempi aallonpituus kuin fotoneilla, elektroneja voidaan käyttää valon sijasta korkeamman resoluution saavuttamiseksi. Siksi näytteen yksityiskohdat voidaan nähdä tarkemmin elektronimikroskoopilla kuin perinteisellä valomikroskoopilla. Vielä SEM:iä korkeampi resoluutio saavutetaan läpäisyelektronimikroskoopilla eli TEM:illä.
Tarvitsetko SEM-analyysejä?
Measurlabs tarjoaa laboratoriotestejä SEM-menetlemällä useille eri teollisuudenaloille ja erilaisiin analyyttisiin tarkoituksiin. Joitakin suosittuja sovelluksia ovat puolijohteiden vikaantumisanalyysit ja elintarvikkeiden nanopartikkelien määrittäminen, mutta nämä ovat vain esimerkkejä. Oli tarpeesi sitten kymmenille tai sadoille näytteelle, varmistamme, että analyysisi tehdään laadukkaasti ja nopealla toimitusajalla. Ota yhteyttä alla olevan lomakkeen kautta saadaksesi räätälöidyn tarjouksen sinun tarpeesi ja näytemääräsi huomioiden.
Soveltuvat näytematriisit
- Kiinteät näytteet
- Jauheet
- Metallit
- Polymeerit
SEM-analyysin tyypillisiä käyttökohteita
- Tuotekehitys ja laadunvalvonta, esimerkiksi vaurioanalyysit
- Materiaalien tutkiminen, esimerkiksi materiaalin pinnan pienten yksityiskohtaisten rakenteiden havainnoiminen ja mittaaminen sekä murtumismekanismien analysoiminen
- Monimutkaisten ympäristö- ja biologisten näytteiden tutkiminen niiden pinnan mikroskooppisten rakenteiden selvittämiseksi
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.
Usein kysytyt kysymykset
SEM-menetelmän yleisiä käyttötarkoituksia ovat mm. ohutkalvojen ja puolijohteiden kuvantaminen, nanopartikkelianalyysi ja hiukkaskokojakauman määritys. Hiukkasanalyysissa SEM:in vahvuus on sen kyky tarjota tietoa hiukkasten muodoista koon lisäksi.
SEM-EDX -menetelmässä tavalliseen SEM:iin on kytketty EDX-detektori (kutsutaan myös nimellä EDS). SEM-EDX:ää voidaan hyödyntää alkuaineiden tunnistamiseen, sekä niiden jakauman ja pitoisuuksien määrittämiseen näytteestä. Kun elektronit vuorovaikuttavat näytteen pinnan kanssa, ne saavat näytteen tuottamaan röntgensäteitä jotka voidaan havaita EDX-detektorilla. Koska jokaisella alkuaineella on omanlaisensa röntgenspektri, näytteen alkuaineet ja yhdisteet sekä niiden pitoisuudet voidaan selvittää SEM-EDX:llä.
EDX:n lisäksi myös röntgendetektori (X-ray detector, XRF) voi tunnistaa alkuaineita niiden röntgenspektrien perusteella jopa mikrometrin tarkkuudella yhdessä SEM:n kanssa käytettynä.
SEM:llä voidaan tutkia ainoastaan näytteen pinnan rakenteita. Vaikka näytteen poikkileikkauksia voidaan käyttää sisäisten rakenteiden näkemiseen, tämä menetelmä ei ole vaihtoehto, mikäli näyte ja sen sisäosat halutaan pitää yhtenä kappaleena ja vahingoittumattomina (erityisesti biologisia näytteitä tutkittaessa). Sisäisiä rakenteita voidaan kuvantaa näytettä vahingoittamatta mikro-CT-menetelmällä.
Mikäli näyte on liian suuri mikroskooppiin, sitä saatetaan joutua hieman leikkaamaan ennen analyysiä, usein kohdennetun ionisuihkun (FIB) avulla. Muita näytteenvalmistelutekniikoita tarvitaan usein silloin, jos näyte on likainen, märkä tai se ei johda sähköä.
Näytteen pinnassa olevia alkuaineita ei pystytä tunnistamaan pelkällä SEM:llä. Sen sijaan SEM-EDX ja XRF ovat sopivia menetelmiä tähän tarkoitukseen.
SEM-menetelmällä voidaan analysoida kiinteitä näytteitä. Näytteiden tulee olla kuivia ja niiden pintojen sähköä johtavia, jotta suurin osa SEM-tekniikoista toimisi. Mikäli näyte ei täytä näitä vaatimuksia, sitä täytyy käsitellä ennen kuvantamista.
Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.
Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.
Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.