Menetelmät / Poikkileikkaus TEM

Poikkileikkeiden TEM-analyysi

Poikkileikkeiden läpäisyelektronimikroskopia (cross-sectional TEM) on korkean resoluution kuvantamismenetelmä materiaalien poikkileikkauksista. Tutkittava alue voidaan valita suuremmasta kappaleesta, minkä jälkeen alue kuvataan TEM:illä. Menetelmää käytetään laajalti materiaalitieteessä ja nanoteknologiassa.

Measur cross-sectional TEM
...ja yli 700 muuta tyytyväistä asiakasta

Tutustu analyysivaihtoehtoihin

TEM-EDX-kuvantaminen

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX tai EDS). Tyypillisessä analyysissä näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Lisäksi saadaan alkuainekoostumus joko atomi- tai massaprosentteina. Tulokset voidaan ilmaista alkuainekarttana tai analysoitavan alueen tai pisteen alkuainespektrinä. Näytteet täytyy usein valmistella kuvantamista varten esimerkiksi FIB-menetelmällä. Näytevalmistelusta peritään lisämaksu. Tarjoamme myös korkean resoluution HR-TEM-kuvauksia. Voit pyytää lisätietoja analyysivaihtoehdoista tarjouspyynnön yhteydessä.
607–1 477 €
Lue lisää

TEM-kuvantaminen

Näytteen kuvaaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. TEM:in resoluutio on nanometrin luokkaa. TEM-kuvantaminen edellyttää usein esikäsittelyä FIB-menetelmällä. Käsittely laskutetaan erikseen. Tarjoamme myös korkean resoluution HR-TEM-analyysejä. Pyydä lisätietoja asiantuntijoiltamme alta löytyvällä lomakkeella.
532–1 410 €
Lue lisää

Partikkelikokojakauma TEM-menetelmällä

Partikkelikokojakauma määritetään läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) otetuista kuvista. Menetelmä soveltuu parhaiten alle 50 nm kokoisille hiukkasille. Hiukkasten muodosta riippuen analyysi sisältää joko halkaisijan tai pituuksien ja leveyksien määrityksen. Koon lisäksi TEM antaa laadullista tietoa partikkelien pinnanmuodoista. Analyysi soveltuu erityisesti epäsäännöllisen muotoisille ja muille kuin pyöreille hiukkasille, jotka ovat muodoltaan esimerkiksi kuitumaisia, sauvamaisia tai kristallimaisia. Perinteisemmillä menetelmillä (LD, DLS) ei saada luotettavaa tietoa vastaavien hiukkasten kokojakaumasta. Tuloksena saadaan TEM-kuvat ja hiukkasten kokojakauma joko halkaisijaan tai pituuteen ja leveyteen suhteutettuna. Näytteiden tulee olla täysin kuivia TEM-kuvantamista varten. Kysy lisätietoja näytevalmistelusta, jos näyte vaatii kuivaamista.
1 551–2 111 €
Lue lisää

Hinnat ilmoitettu ilman arvonlisäveroa.

  • Nopeat tulokset
  • Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
  • Kilpailukykyiset hinnat
  • Takuu tulosten oikeellisuudesta

Mihin poikkileike-TEM:iä käytetään?

Poikkileike-TEM:issä käytetään normaalia läpäisyelektronimikroskooppia, mutta kuvat otetaan materiaalien poikkileikkauksista. Menetelmää käytetään laajalti materiaalitieteessä, solubiologiassa ja nanoteknologiassa sellaisten materiaalien sisäisten rakenteiden kuvaamiseen, jotka ovat muuten liian suuria TEM-analyysiin.

Jos näytteen sisärakenteesta halutaan tietoa, TEM:issä näytteen paksuus voi olla enintään 100 nm. Joskus haluttu kuvantamisalue on näytteen sisällä esimerkiksi ohutkalvomateriaalien kerrosten välistä rajaa tutkittaessa. Tällaisissa tapauksissa näytteistä täytyy valmistella poikkileikkeet ennen kuvantamista.

Kiinnostaako ohutkalvojen paksuuden mittaaminen? Tilaa ilmainen opas oikean menetelmän valintaan!

Menetelmät poikkileikkeen valmisteluun

Yleisimmät poikkileikkeen valmistelutekniikat ovat FIB ja mikrotomi. FIB eli kohdennettu ionisuihku hyödyntää tarkkaa korkeaenergistä ionisuihkua poikkileikkausnäytteen jyrsimiseksi suuremmasta objektista. FIB- menetelmää voidaan käyttää esimerkiksi ohutkalvopinnoitteen paksuuden ja tasalaatuisuuden määrityksissä.

Toinen menetelmä tehdä poikkileikkeitä TEM:ille on mikrotomi. Mikrotomi on yksinkertainen laite, joka höylää terän avulla näytteestä 30 – 100 nm paksuisia lastuja. Terät on valmistettu lasista, teräksestä tai timantista. Mikrotomia voidaan käyttää näytteiden preparointiin pehmeistä materiaaleista, kuten luista, mineraaleista ja polymeerimateriaaleista, kuten muovista. Joskus näytteet valetaan epoksiin ennen mikrotomikäsittelyä.

Tarvitsetko TEM-analyysejä?

Measurlabs tarjoaa korkealaatuisia laboratorioanalyysejä TEM:llä, poikkileike-TEMillä, sekä muilla elektronimikroskopiamenetelmillä. Tarjoamme nopeita läpimenoaikoja jotta projektisi voivat edetä aikatauluissaan, sekä laajan kattauksen eri menetelmiä jotta saisit kaikki tarvitsemasi analyysit helposti yhdelta kumppanilta. Ota yhteyttä alla olevan lomakkeen kautta saadaksesi sinulle räätälöidyn tarjouksen ja avataksesi keskustelun testausasiantuntijoidemme kanssa.

Soveltuvat näytematriisit

  • Materiaalit, jotka ovat liian suuria normaalille TEMille
  • Ohutkalvot
  • Puolijohteet
  • Metallit
  • Luu
  • Kudokset

Läpileikkaus-TEM:in tyypillisiä käyttökohteita

  • Puolijohteiden poikkileikkauskuvantaminen.
  • Ohutkalvokerrosten kuvantaminen.
  • Korkean resoluution kuvantaminen vika-analyysiä varten.
  • Nanohiukkasten karakterisointi.
  • Puolijohteiden tutkimus.
  • Vianetsintä materiaalitutkimuksissa.
  • Monikerroksiset ohutmateriaalianalyysit.
  • Solukuvantaminen luututkimuksessa.

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Voimme laatia tarjouksen nopeammin, kun sisällytät viestiin seuraavat tiedot:

  • Näytteiden lukumäärä ja näytemateriaalin tarkka kuvaus
  • Testaustarpeen toistuvuus: kuinka usein tarvitsette vastaavia testejä?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita myyjillemme.

Usein kysytyt kysymykset

Mihin läpileikkaus-TEM-analyysiä yleensä käytetään?

Menetelmää käytetään, kun kiinnostava alue on näytteen sisällä tai näyte on liian suuri TEM-kuvantamista varten.

TEM tuottaa korkean resoluution 2D-kuvia.

Mitkä ovat poikkileikkaus-TEM:in rajoitteet?

Jotkut materiaalit voivat olla liian hauraita poikkileikkausten valmistamiseen.

Millaisia näytteitä läpileikkaus-TEM:illä voi analysoida?

TEM:illä voidaan tutkia hyvin laajasti eri materiaaleja ja poikkileikkeiden tekeminen laajentaa soveltuvien käyttökohteiden määrää entisestään. Menetelmällä voidaan tuottaa korkean resoluution kuvia kivistä ja mineraaleista, luista, metalleista, ohutkalvoista ja puolijohdemateriaaleista.

Mikä Measurlabs on?

Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.

Miten palvelu toimii?

Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.

Kuinka lähetän näytteeni?

Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.