Menetelmät / TEM

TEM-analyysi

Läpäisyelektronimikroskooppi (TEM) käyttää korkean energian elektronisuihkua tarkkojen kuvien muodostamiseksi jopa alle nanometrin kokoisista kohteista. TEM-menetelmää käytetään laajalti materiaalitieteessä, mikrobiologiassa ja nanoteknologiassa.

Measur poikkileikkaus TEM
...ja yli 700 muuta tyytyväistä asiakasta

Tilaa TEM-analyysit Measurlabsilta

TEM-EDX-kuvantaminen

1 025 €
Tilaa verkossa

TEM-kuvantaminen

850 €
Lue lisää

Partikkelikokojakauma TEM-menetelmällä

1 900 €
Lue lisää

Hinnat ilmoitettu ilman arvonlisäveroa.

  • Nopeat tulokset
  • Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
  • Kilpailukykyiset hinnat
  • Takuu tulosten oikeellisuudesta

Miten TEM-analyysi toimii?

Läpäisyelektronimikroskoppin perusperiaate on samankaltainen kuin tavallisen optisen mikroskoopin. Valon sijasta TEM käyttää elektronisuihkua, joka läpäisee näytteen. Koska elektronien aallonpituus on pienempi kuin valon, muodostuneella kuvalla on paljon suurempi resoluutio verrattuna perinteiseen optiseen mikroskooppiin. Lopullinen kuva on erittäin yksityiskohtainen ja paljastaa näytteen sisäiset rakenteet. Joissakin tapauksissa on jopa mahdollista erottaa yksittäiset atomit.

Hiilinanoputki - TEM-kuva
TEM-kuva ohuella polymeerikerroksella päällystetyistä hiilinanoputkista.

Käyttökohteet

Elektroniikkateollisuus ja nanoteknologiaa kehittävät yritykset käyttävät TEM-menetelmää ja sen variaatioita, kuten STEM:iä, ohutkalvomateriaalien tutkimiseen. TEM:iä käytetään yleisesti vaurioiden ja virheiden havaitsemiseen.

TEM-analyysia voidaan käyttää myös kiinteiden näytteiden kiderakenteen määrittämiseen elektronidiffraktion avulla.

Soveltuvat näytteet

Koska TEM-kuvauksessa elektronien on läpäistävä näyte, näytteen on oltava riittävän ohut. Tyypillisesti vain alle 100 nm paksuisia näytteitä voidaan kuvata TEM:illä. Tätä paksummat näytteet voidaan ohentaa TEM-kuvattavaan muotoon esimerkiksi hiomalla tai FIB-menetelmällä (focused ion beam).

Hauraita biologisia näytteitä voidaan analysoida kryo-TEM-menetelmällä, jossa näyte pikajäädytetään ennen kuvantamista.

Soveltuvat näytematriisit

  • Nanomittakaavan materiaalit
  • Nanopartikkelit
  • Virukset ja mikrobit
  • Puolijohteiden osat
  • Hiilinanoputket, grafeenit ja muut hiilenanomateriaalit
  • Ohutkalvopinnoitteet
  • Selluloosan nanokuidut

TEM-analyysin tyypillisiä käyttökohteita

  • Mikrobien ja virusten sisäosien tutkiminen.
  • Vika-analyysit elektroniikan valmistuksessa
  • Nanopartikkeleiden muodon ja koon määrittäminen
  • Katalyyttipartikkelien sijainnin määrittäminen kantaja-aineessa
  • Selluloosan nanokuitujen kuvantaminen
  • Hiilinanoputkien, grafeenien ja muiden hiilen nanomateriaalien kuvantaminen

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Seuraaviin kysymyksiin vastaaminen auttaa meitä laatimaan sinulle tarjouksen nopeammin:

  • Montako näytettä sinulla on ja mitä materiaalia ne ovat?

  • Onko tämä toistuva testaustarve? Jos kyllä, kuinka usein näytteitä saapuisi ja monenko näytteen erissä?

  • Vaatiiko kuvaus poikkileikenäytteiden valmistamisen? Jos kyllä, anna tähän tarkat ohjeet.

  • Millaista tietoa kuvista halutaan? Esim. partikkelikoko, morfologia, koostumus...

  • Onko näyte valmiiksi kuiva tai helposti kuivattava?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita myyjillemme.

Usein kysytyt kysymykset

Mihin TEM-analyysia yleensä käytetään?

TEM-analyysia käytetään pääasiassa elektroniikan ja nanoteknologian aloilla, mutta myös mikrobitutkimuksessa.

TEM tuottaa korkearesoluutioisia kuvia laadunvalvonnan ja vianetsinnän tarpeisiin. Laitteistoon voidaan myös yhdistää lisädetektoreja (esim. EDX tai EELS), jotka mahdollistavat alkuainekoostumuksen määrityksen kuvantamisen yhteydessä.

Mitkä ovat TEM:in rajoitteet?

Jotkut materiaalit eivät kestä suuren energian elektronisuihkua, johon TEM-analyysi perustuu. Hauraita materiaaleja voi kuitenkin olla mahdollista analysoida pikajäädytyksen jälkeen kryo-TEM-tekniikalla.

TEM-säde kulkee vain alle 100 nm paksuisten näytteiden läpi. Paksummat näytteet tulee ohentaa sopiviksi esimerkiksi FIB-tekniikalla tai mikrotomilla, mikä tekee menetelmästä näytettä vahingoittavan. Kokonaisia näytteitä voidaan analysoida esimerkiksi SAM- ja mikro-CT-tekniikoilla.

Mikä Measurlabs on?

Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.

Miten palvelu toimii?

Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.

Kuinka lähetän näytteeni?

Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.