Zeta-potentiaalin määritys
Zeta-potentiaalin määritys partikkelin ja liuottimen välillä.
Lisätietoja menetelmästä:
Zetapotentiaali- Soveltuvat näytematriisit
- Dispersiot tai kiinteät näytteet, jotka voidaan dispergoida veteen tai orgaaniseen liuottimeen.
- Näytteiden minimimäärä
- 15 g or 15 mL
- Tyypillinen läpimenoaika
- 4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Saatavilla olevat laatujärjestelmät
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Hinta
Tyypillinen hintataso (ALV 0):
97–309 €per näyte
Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.
Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Palvelemme: ma–pe klo 9–17
Muita testejä valikoimistamme
Ominaispinta-ala (BET-teoria)
ISO 9277
Huokoisten kiinteiden materiaalien ominaispinta-alan määritys BET-teorian (Brunauer–Emmett–Teller) mukaisesti. Analyysi voidaan suorittaa joko N2- tai Kr-kaasulla materiaalin odotetusta pinta-alasta riippuen. Tuloksina raportoidaan BET-käyrä sekä ominaispinta-ala (m2/g). Tarvittava näytemäärä riippuu materiaalin odotetusta ominaispinta-alasta. Nyrkkisääntönä kokonaispinta-alan tulisi olla vähintään 5 m2. Mittaus voidaan suorittaa seuraavilla laitteilla: Micromeritics Gemini VII 2390, Micromeritics ASAP 2020, Micromeritics TriStar II 3020, Anton Paar Nova 800.
141–243 €
Lue lisääPartikkelien kokojakauman määritys laserdiffraktiolla dispersioista
ISO 13320
Partikkelikokojakauman (PSD) määritys laserdiffraktiolla (LD). Analyysi voidaan tehdä joko dispersioista tai kiinteistä aineista, jotka voidaan dispergoida veteen tai orgaanisiin liuottimiin. Menetelmä soveltuu 0,010-2000 µm kokoisille partikkeleille. Testiraportissa esitetetään kuvaaja partikkelikokojakaumasta sekä arvot volumetriselle keskiarvolle = D[4,3] ja seuraaville Dv-arvoille (=prosenttiosuus materiaalista, joka on pienempi kuin tietty partikkelikoko): Dv(10) / D(v,0.1) / 10 % , Dv(25) / D(v,0.25) / 25 % , Dv(50) / D(v,0.5) / 50 % = mediaani, Dv(75) / D(v,0.75) / 75 % , Dv(90) / D(v,0.9) / 90 %.
72–365 €
Lue lisääPartikkelikokojakauman määritys SEM:lla
Partikkelikokojakauman (PSD) määritys pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) otetuista kuvista. Analyysi sisältää 150 partikkelin kuvantamisen. Menetelmässä lasketaan joko partikkelien halkaisija- tai leveys- ja pituusjakauma (riippuu partikkelien muodosta). Koon lisäksi SEM:llä saadaan kvalitatiivista tietoa mm. partikkelien pinnan morfologiasta. SEM on usein hyvä vaihtoehto epäsäännöllisen muotoisille ja muille kuin pyöreille partikkeleille, joista ei saada luotettavasti tietoa perinteisillä laserdiffraktiolla (LD) ja dynaamisella valonsironnalla (DLS). Testiraportti sisältää SEM-kuvat sekä partikkelikokojakauman hiukkasten halkaisijalle (tai Feret'n halkaisijalle). Näytteiden tulee olla täysin kuivia SEM:iä varten. Märkä tai dispergoitu näyte voidaan yleensä kuivata sopivalla näytteenvalmistelutekniikalla - kysy lisätietoja ja hintaa näytteellesi menetelmän asiantuntijalta.
571–921 €
Lue lisääJauheen valuvuuden määritys
Jauhemaisen kiinteän materiaalin valuvuusominaisuuksien määritys ASTM D6393 -standardin mukaisesti. Mittaus sisältää mm. seuraavat määritykset: Valumiskulma, Irtotiheys, Tärytiheys, Puristuvuus, Koheesio.
511–662 €
Lue lisääPölyävyystesti (EN 15051-2)
Standardin EN 15051-2 -mukaisella pölyävyystestillä arvioidaan kuivien ja jauhemaisten materiaalien taipumusta vapauttaa ilmaan pölyä, joka voi vaikuttaa haitallisesti hengitysteihin. Testi suoritetaan pyörivällä pölyrummulla, ja pyörimisen seurauksena syntyvä pöly jaetaan kolmeen eri jakeeseen: Hengittyvä jae (aerodynaaminen halkaisija < 100 µm), Keuhkojae (aerodynaaminen halkaisija < 10 µm), Alveolijae (aerodynaaminen halkaisija < 4,25 µm). Tuloksena raportoidaan kunkin jakeen osuus näytteen kokonaismassasta mg/kg-yksikössä ja tarvittaessa prosentteina. Raporttiin sisällytetään myös näytteen tiheys, kosteus sekä EN 15051-2 -standardin mukainen pölyävyysluokka, joka kuvastaa pölyävyyteen liittyvää riskitasoa (erittäin pieni, pieni, kohtalainen, suuri).
1 397 €
Lue lisääHiukkaskokojakauma Euroopan komission ohjeistuksen mukaisesti
EC Commission recommendation 2022/C 229/01
Hiukkaskokojakauman määritys pyyhkäisyelektronimikroskopialla (SEM). Analyysi suoritetaan Euroopan komission suosituksen (2022/C 229/01) mukaisesti. Suositus määrittelee ehdot sille, milloin materiaali on EU-lainsäädännön näkökulmasta nanomateriaali. Analyysin tuloksena saadaan histogrammi vähintään 300 hiukkasen kokojakaumasta (koko mitataan Feret'n halkaisijana). Lisäksi ilmoitetaan seuraavat arvot: keskiarvo, mediaani (d50), nanohiukkasten prosentuaalinen osuus kaikista hiukkasista. Mittausta voidaan käyttää myös Euroopan elintarviketurvallisuusviranomaisen (EFSA) ohjeistuksen mukaiseen pienten hiukkasten määritykseen, jonka tarkoituksena on arvioida riskiä sille, että jauhemainen elintarvike sisältää nanohiukkasia. Tällöin raporttiin sisällytetään seuraavat arvot: keskiarvo ja mediaani, hiukkaskoko, jonka alle jää 10 % hiukkasista, pienten, eli alle 500 nm hiukkasten prosenttiosuus, alle 250 nm hiukkasten prosenttiosuus pienistä hiukkasista. Kosmetiikkanäytteitä analysoitaessa raportoidaan lähtökohtaisesti seuraavat arvot: keskiarvo ja mediaani, hiukkaskoko, jonka alle jää 10 % hiukkasista, nanopartikkelien prosentuaalinen osuus. Näytemateriaalin kiderakenteesta saadaan tarvittaessa lisätietoja XRD-mittauksella ja tilavuuteen suhteutetusta ominaispinta-alasta VSSA-mittauksella.
1 932–2 562 €
Lue lisääPartikkelien kokojakauman määritys laserdiffraktiolla kuivista näytteistä
ISO 13320
Partikkelikokojakauman (PSD) määritys laserdiffraktiolla (LD) kuivista jauhemaisista näytteistä. Menetelmällä voidaan havaita halkaisijaltaan vähintään 0,4 µm ja enintään 2 000 tai 3 500 µm kokoiset partikkelit. Testiraportti sisältää kuvaajan partikkelikokojakaumasta sekä arvot volumetriselle keskiarvolle = D[4,3] ja seuraaville Dv-arvoille (=prosenttiosuus materiaalista, joka on pienempi kuin tietty partikkelikoko): Dv(10) / D(v,0.1) / 10 %, Dv(25) / D(v,0.25) / 25 %, Dv(50) / D(v,0.5) / 50 % = mediaani, Dv(75) / D(v,0.75) / 75 %, Dv(90) / D(v,0.9) / 90 %. Pyydettäessä raporttiin voidaan sisällyttää myös muita tilastollisia muuttujia. Mittaukseen käytetään seuraavia laitteistoja: Beckman Coulter LS230 , Malvern Mastersizer 2000 and 3000.
72–287 €
Lue lisääPartikkelien koon ja muodon määrittäminen kuva-analysaattorilla
Partikkelikokojakauman (PSD) ja partikkelien muodon määritys kuva-analysaattorilla. Kuva-analyysin avulla voidaan tutkia mm. kuitumaisten, sauvamaisten ja kristallimaisten partikkelien kokoa ja muotoja, joista ei saada luotettavasti tietoa perinteisillä menetelmillä, kuten laserdiffraktiolla (LD) ja dynaamisella valonsironnalla (DLS). Partikkelien muodosta riippuen testiraportista ilmenee kokojakauma kuitujen leveydelle, pituudelle sekä ympyräpinta-alan ekvivalenttihalkaisijalle.
278–399 €
Lue lisääHengitettävän kiteisen piidioksidin (kvartsi) määritys materiaaleista
Kiteinen piidioksidi, eli kvartsi, on yleinen ainesosa rakennusmateriaaleissa sekä tuotteissa, jotka sisältävät kiveä, soraa, savea tai hiekkaa. Altistuminen hengitettävälle piidioksidille voi aiheuttaa silikoosia ja saattaa johtaa keuhkosyövän kehittymiseen. Tämän vuoksi EU-maissa on asetettu sitova raja-arvo työpaikoilla tapahtuvalle altistumiselle. Hengitettävälle kvartsille altistumiseen voidaan vaikuttaa tehokkaimmin materiaalivalinnoilla. EU-maissa kiteinen piidioksidi ja muut luokan 1 syöpää aiheuttavat aineet ovat luokitusvelvollisuuden alaisia, ellei niitä ole materiaaleissa alle 0,1 % (w/w). Aineita sisältävissä tuotteissa tulee olla varoitus "Voi aiheuttaa keuhkosyöpää hengitettynä" ja "Vaurioittaa keuhkoja". Tämä koskee myös kemiallisesti muunneltuja tuotteita, jotka sisältävät kvartsia. EU:n teollisuusmineraalien tuottajat (IMA) ovat määritelleet, että muuntamattomatkin mineraalituotteet tulisi luokitella niiden kiteisen piidioksidipitoisuuden (hieno jae) perusteella, jos pitoisuus ylittää 1,0 %. Merkintävaatimuksia ja tuoteturvallisuutta varten on kehitetty analyysimenetelmä hengitettävän kiteisen piidioksidin (kvartsi) pitoisuuden mittaamiseen. Saat lisätietoja mittauksesta Measurlabsin asiantuntijatiimiltä.
1 127 €
Lue lisääSynkrotroni-XRD: kvantitatiivinen analyysi
Korkean resoluution synkrotroni-XRD-mittaus, jolla saadaan kvantitatiivista dataa jauhemaisen näytteen kiderakenteesta. Palveluun sisältyy: Kiteisten faasien kvantifiointi painoprosentteina, Amorfisen aineen kokonaispitoisuuden määritys, Data jauhediffraktiomittauksesta ja sen pohjalta luotu diffraktogrammi, Yksityiskohtainen testiraportti. Tarjoamme tarvittaessa myös PDF-analyysit (engl. pair distribution function) amorfisten tai nanorakenteisten materiaalien paikallisten atomirakenteiden tarkasteluun.
179–545 €
Lue lisää”Measurlabs on ollut erittäin avulias kaikissa pyynnöissämme viime kuukausina. He käsittelivät pyyntömme nopeasti ja tehokkaasti kun meillä oli kiire analyyttisen tuen saamisessa. Muistamme heidät varmasti myös tulevissa analyysitarpeissamme.”
Erich Seger, H.B. Fuller Deutschland GmbH
Ota yhteyttä
Vastaamme viesteihin yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.