Testauspalvelut / Hiukkaskokojakauma Euroopan komission ohjeistuksen mukaisesti

Hiukkaskokojakauma Euroopan komission ohjeistuksen mukaisesti

Hiukkaskokojakauman määritys pyyhkäisyelektronimikroskopialla (SEM).

Analyysi suoritetaan Euroopan komission suosituksen (2022/C 229/01) mukaisesti. Suositus määrittelee ehdot sille, milloin materiaali on EU-lainsäädännön näkökulmasta nanomateriaali.

Analyysin tuloksena saadaan histogrammi vähintään 300 hiukkasen kokojakaumasta (koko mitataan Feret'n halkaisijana). Lisäksi ilmoitetaan seuraavat arvot:

keskiarvo
mediaani (d50)
nanohiukkasten prosentuaalinen osuus kaikista hiukkasista

Mittausta voidaan käyttää myös Euroopan elintarviketurvallisuusviranomaisen (EFSA) ohjeistuksen mukaiseen pienten hiukkasten määritykseen, jonka tarkoituksena on arvioida riskiä sille, että jauhemainen elintarvike sisältää nanohiukkasia. Tällöin raporttiin sisällytetään seuraavat arvot:

keskiarvo ja mediaani
hiukkaskoko, jonka alle jää 10 % hiukkasista
pienten, eli alle 500 nm hiukkasten prosenttiosuus
alle 250 nm hiukkasten prosenttiosuus pienistä hiukkasista

Kosmetiikkanäytteitä analysoitaessa raportoidaan lähtökohtaisesti seuraavat arvot:

keskiarvo ja mediaani
hiukkaskoko, jonka alle jää 10 % hiukkasista
nanopartikkelien prosentuaalinen osuus

Näytemateriaalin kiderakenteesta saadaan tarvittaessa lisätietoja XRD-mittauksella ja tilavuuteen suhteutetusta ominaispinta-alasta VSSA-mittauksella.

Lisätietoja menetelmästä:

SEM-analyysi (SEM)

Soveltuvat näytematriisit: Jauhemaiset elintarvike- ja kosmetiikkanäytteet
Näytteiden minimimäärä: 10 g
Saatavilla olevat laatujärjestelmät: Akkreditoitu testauslaboratorio
Mittauslaitteet: SEM
Standardi: EC Commission recommendation 2022/C 229/01
Menetelmän asiantuntija: Hande Güneş

Partikkelianalyysit

Hinta

Tyypillinen hintataso (ALV 0):

1 932–2 562 €per näyte

Hintaan lisätään myös tilauskohtainen 97 € palvelumaksu.

Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

info@measurlabs.com

Ole yhteydessä myyjiimme

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

info@measurlabs.com

Ole yhteydessä myyjiimme

Ringing phone

Muita testejä valikoimistamme

REACH-asetuksen mukainen nanohiukkasanalyysi

Jauhemaisen näytteen analyysipaketti, joka sisältää seuraavat analyysit: Hiukkaskokojakauman määritys SEM-EDX-menetelmällä, sisältäen näytevalmistelun isopropanolilla ja nanohiukkasten tunnistuksen Euroopan komission suosituksen (2022/C 229/01) mukaisesti., Kiderakenteen analyysi XRD-menetelmällä, sisältäen kidefaasien määrityksen ja tarvittavat näytevalmistelut (mm. kuivaus, jauhaminen)., Kemiallisen koostumuksen määritys ICP-AES-menetelmällä (epäorgaaniset alkuaineet) ja CHNS-analyysillä (hiili, vety, typpi, rikki)., Tilavuuteen suhteutetun ominaispinta-alan määritys typpi-adsorption ja helium-pyknometrian perusteella.. Saat tarjouksen analyyseistä ottamalla yhteyttä asiantuntijoihimme alta löytyvällä lomakkeella.

2 200–2 968 €

Suihkeen pisarakoko

Suihkeen pisarakoon määritys Malvern Spraytec -laitteella. Analyysi sisältää yhden suihkepullon testauksen 20 asteen lämpötilassa standardietäisyydeltä. Laite pystyy havaitsemaan 0,1 µm - 900 µm kokoiset pisarat. Tuloksina raportoidaan kolmen peräkkäisen suihkutuskerran partikkelikokojakaumat histogrammimuodossa. Lisäksi ilmoitetaan Dv10-, Dv50- ja Dv90-arvot sekä niiden partikkelien prosentuaalinen osuus, jotka ovat pienempiä kuin 5 µm, 10 µm ja 50 µm. Testiä varten olisi hyvä toimittaa kaksi täyttä suihkepulloa, joista toinen toimii varakappaleena. Ilmoitathan tarjouspyynnön yhteydessä, jos haluat muokata testiolosuhteita.

490–1 128 €

Partikkelikokojakauma TEM-menetelmällä

Partikkelikokojakauma määritetään läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM) otetuista kuvista. Menetelmä soveltuu parhaiten alle 50 nm kokoisille hiukkasille. Hiukkasten muodosta riippuen analyysi sisältää joko halkaisijan tai pituuksien ja leveyksien määrityksen. Koon lisäksi TEM antaa laadullista tietoa partikkelien pinnanmuodoista. Analyysi soveltuu erityisesti epäsäännöllisen muotoisille ja muille kuin pyöreille hiukkasille, jotka ovat muodoltaan esimerkiksi kuitumaisia, sauvamaisia tai kristallimaisia. Perinteisemmillä menetelmillä (LD, DLS) ei saada luotettavaa tietoa vastaavien hiukkasten kokojakaumasta. Tuloksena saadaan TEM-kuvat ja hiukkasten kokojakauma joko halkaisijaan tai pituuteen ja leveyteen suhteutettuna. Näytteiden tulee olla täysin kuivia TEM-kuvantamista varten. Kysy lisätietoja näytevalmistelusta, jos näyte vaatii kuivaamista.

1 551–2 111 €

Liposomijauheiden negatiivivärjäys-TEM tai kryo-TEM

Liposomijauheiden kuvantaminen läpäisyelektronimikroskoopilla (TEM). Analyysiä voidaan käyttää osoittamaan, että kosmetiikassa, elintarvikkeissa tai ravintolisissä käytettävät liposomipartikkelit omaavat niille tyypillisen pallomaisen (kaksikerros-)rakenteen. Näytteiden valmisteluun voidaan käyttää kahta eri menetelmää: Negatiivivärjäys, jota suositellaan, jos partikkelien pitoisuus on alhainen, tai jos se ei ole tiedossa., Kryo-valmistelu, jossa partikkelit säilyvät paremmin vaurioitumattomina, mutta joka edellyttää suurempaa partikkelipitoisuutta.. Analyysin tuloksena toimitetaan TEM-kuvia useilla eri suurennoksilla sekä tulosten perusteella mahdollinen lausunto partikkelien rakenteesta ja konsentraatiosta.

833–1 383 €

Partikkelikokoanalyysi dynaamisella valonsironnalla (DLS)

Partikkelikokojakauman (PSD) määritys dynaamisella valon sironnalla (DLS) voidaan tehdä joko dispersioista tai kiinteistä aineista, jotka voidaan dispergoida veteen tai orgaanisiin liuottimiin. Menetelmä soveltuu 0.4 nm–10 µm kokoisille partikkeleille.

SEM-kuvantaminen

Näytteen kuvantaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Näytteestä otetaan yleensä useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella analyysiä varten päällystämällä ne ohuella metallikerroksella. Näytteestä voidaan myös tarvittaessa valmistella poikkileike esimerkiksi FIB- tai BIB-menetelmällä. Lisäksi helposti vahingoittuvat näytemateriaalit voidaan valmistella pikajäädytyksellä (kryo-SEM). Jos tarvitset tietoa myös alkuainekoostumuksesta, voit tilata SEM-EDX-kuvauksen. Tarjoamme myös korkean lämpötilan SEM-kuvaukset jopa 1400 °C lämpötilassa. Voit pyytää tarjouksen täyttämällä alta löytyvän lomakkeen.

Jauheen ominaispinta-ala suhteessa tilavuuteen

Tilavuuteen suhteutettu ominaispinta-ala (engl. volume specific surface area, VSSA) voidaan laskea N2-adsorption ja BET-menetelmän avulla määritetyn ominaispinta-alan ja He-pyknometrillä määritetyn tiheyden perusteella. Mittaus on osa Euroopan komission suosituksen mukaista nanopartikkelien analyysia.

SEM-EDX-kuvaus

Näytteen kuvaaminen pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM) ja alkuainekoostumuksen määritys energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX, EDS). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi. Tuloksena saadaan myös analysoidun alueen alkuainekoostumus, joka voidaan esittää esimerkiksi alkuainekarttana. Sähköä johtamattomat näytteet voidaan valmistella kuvausta varten metallipäällysteellä. Tarjoamme pyynnöstä myös poikkileikenäytteen valmistuksen. Tähän voidaan hyödyntää esimerkiksi FIB- tai BIB-menetelmiä.

Jauheen XRD-mittaus - Kvalitatiivinen Analyysi

Kristallijauheiden kvalitatiivinen tai vertaileva analyysi röntgendiffraktiolla (XRD). Analyysi soveltuu ainoastaan materiaaleille, joilla on ainakin yksi kiteinen faasi.

Ominaispinta-ala (BET-teoria)

Huokoisten kiinteiden materiaalien ominaispinta-alan määritys BET-teorian (Brunauer–Emmett–Teller) mukaisesti. Analyysi voidaan suorittaa joko N2- tai Kr-kaasulla materiaalin odotetusta pinta-alasta riippuen. Tuloksina raportoidaan BET-käyrä sekä ominaispinta-ala (m2/g). Tarvittava näytemäärä riippuu materiaalin odotetusta ominaispinta-alasta. Nyrkkisääntönä kokonaispinta-alan tulisi olla vähintään 5 m2. Mittaus voidaan suorittaa seuraavilla laitteilla: Micromeritics Gemini VII 2390, Micromeritics ASAP 2020, Micromeritics TriStar II 3020, Anton Paar Nova 800.

…ja yli 1000 muuta tyytyväistä asiakasta

Ota yhteyttä

Vastaamme viesteihin yhdessä arkipäivässä.

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.