TXRF-analyysi
Totaaliheijastus-röntgenfluoresenssi eli TXRF (eng. total reflection X-ray fluorescence) on analyysitekniikka, jolla voidaan mitata hyvin pieniä alkuainemääriä muun muassa ohutkalvojen pinnoilta ja vesinäytteistä. TXRF-menetelmä ä käytetään useilla toimialoilla pinta-analyysiin ja epäpuhtauksien havaitsemiseen.
- Nopeat tulokset
- Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
- Kilpailukykyiset hinnat
- Takuu tulosten oikeellisuudesta
Mihin TXRF-analyysiä käytetään?
TXRF-menetelmää käytetään sileiden pintojen alkuainekoostumuksen määritykseen muun muassa puolijohdeteollisuudessa, polymeerien tuotekehityksessä ja geologisessa tutkimuksessa. Lisäksi TXRF on kustannustehokas ja nopea vaihtoehto AAS- ja ICP-pohjaisille menetelmille veden laadun analysoinnissa erityisesti raskasmetallien osalta. Toisaalta menetelmällä ei voida havaita kevyimpiä alkuaineita (järjestysluku alle 11).
Miten TXRF toimii?
TXRF-analyysissä monokromaattinen röntgensäde suunnataan näytteen pintaan hyvin matalassa kulmassa (yleensä alle 0,5° pinnan tasoon nähden). Matalan tulokulman vuoksi säteily heijastuu näytteen pinnasta lähes kokonaan fluoresenssina, jonka näytteen yläpuolelle asetettu detektori havaitsee ja muuttaa alkuainekoostumusta edustavaksi signaaliksi.
Sopivat näytteet ja näytevalmistelu
TXRF suoritetaan tyypillisesti kiinteille näytteille, jotka ovat joko erittäin hienojakoisen jauheen tai ohutkalvon muodossa. Nesteitä, liuoksia ja suspensioita voidaan myös analysoida. Tätä varten näytelevylle asetetaan pisara näytettä, joka kuivataan ohueksi kalvoksi. Tarvittaessa esimerkiksi runsaasti suoloja sisältäviä näytteitä voidaan laimentaa matriisihäiriöiden minimoimiseksi.
TXRF vs. XRF
Pohjimmiltaan perinteinen röntgenfluoresenssi (XRF) ja TXRF toimivat samalla periaatteella. Erottavana tekijänä on TXRF:n säteen matala tulokulma, joka vähentää sironneiden ja absorboituneiden röntgensäteiden määrää ja sen sijaan maksimoi fluoresenssin. Tämä parantaa signaali-kohinasuhdetta ja mahdollistaa merkittävästi perinteistä XRF-analyysia suuremman herkkyyden.
Soveltuvat näytematriisit
- Ohutkalvot
- Hienojakoiset jauheet
- Kuivatut nesteet
- Polymeerit
TXRF-menetelmän yleisiä käyttötarkoituksia
- Alkuaineanalyysi
- Epäpuhtauksien tunnistus
- Veden laadun arviointi
- Muut ympäristöanalyysit
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille +358 50 336 6128.
Usein kysytyt kysymykset
Koska kevyet alkuaineet eivät emittoi röntgensäteitä yhtä tehokkaasti kuin raskaammat alkuaineet, TXRF ei voi havaita natriumia (Na) kevyempiä alkuaineita. Sen määritysraja ei myöskään ole yhtä matala kuin ICP-MS-menetelmällä.
TXRF on perinteistä XRF:ää herkempi menetelmä, mikä tekee siitä toimivamman hyvin pienten alkuainepitoisuuksien analysointiin. ICP-MS- ja ICP-OES-tekniikoihin verrattuna TXRF on helppokäyttöinen ja kustannustehokas.
Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.
Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.
Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.