Labortestdienstleistungen

Abbildung der Probe mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) unter Verwendung energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX oder EDS). In der Regel werden mehrere Bilder mit unterschiedlichen Vergrößerungen aufgenommen, um einen guten Überblick über die Probe zu erhalten. Zur Bestimmung der Probenzusammensetzung (Elementverteilung in At.% oder Gew.%) wird ein EDX-Mapping, ein Linienscan oder eine Punktanalyse durchgeführt. Nichtleitende Proben können mit einer metallischen Beschichtung präpariert werden. Für Querschliffmessungen kann eine zusätzliche Präparation erforderlich sein: FIB, BIB, oder Gefrierbruch.

Bildgebung der Probe mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM). In der Regel werden mehrere Aufnahmen mit unterschiedlichen Vergrößerungen angefertigt, um einen guten Überblick über die Probe zu erhalten. Nichtleitende Proben können mit einer metallischen Beschichtung präpariert werden, um die Bildgebung zu ermöglichen. Für Querschnittsmessungen kann zusätzliche Probenpräparation erforderlich sein: FIB, BIB, oder Gefrierbruch. Kryo-Präparation ist für biologische Materialien und andere empfindliche Probenarten verfügbar. Wenn zusätzlich eine Zusammensetzungsanalyse erforderlich ist, lesen Sie bitte die REM-EDX-Messung. Wir bieten außerdem Hochtemperatur-REM-Analysen bei Temperaturen bis zu 1400 °C an. Zögern Sie nicht, ein Angebot anzufordern.

Hochauflösende Abbildung mit einem Transmissionselektronenmikroskop (TEM) zur Erfassung von Morphologie, Kristallstruktur und Defekten mit Nanometerauflösung. In der Regel werden mehrere Aufnahmen mit unterschiedlichen Vergrößerungen angefertigt, um einen guten Überblick über die Probe zu erhalten. Wir bieten außerdem FIB-Präparation an, um den Querschnitt jeder beliebigen interessierenden Stelle zu analysieren, einschließlich mikroelektronischer Schichtstapel und loser Pulver. HR-TEM für atomare Auflösung, STEM für hochkontrastreiche Aufnahmen und Kryo-TEM für empfindliche Proben sind ebenfalls möglich. Für ergänzende Zusammensetzungsanalysen neben den Strukturdaten stehen TEM-EDX- und TEM-EELS-Elementaranalysen zur Verfügung. Kontaktieren Sie uns für weitere Details.

Abbildung der Probe mittels Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) und Bestimmung der elementaren Zusammensetzung der Probe mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX oder EDS). Mehrere Aufnahmen mit unterschiedlichen Vergrößerungen werden angefertigt, um einen guten Überblick über die Probe zu erhalten. Eine EDX-Elementkartierung, Linienanalyse oder Punktmessung wird durchgeführt, um die Probenzusammensetzung zu bestimmen (Elementverteilung in At.-% oder Gew.-%). Für feste Proben erfordert die Analyse häufig eine FIB-Präparation, die gesondert berechnet wird. HR-TEM kann ebenfalls durchgeführt werden. Kontaktieren Sie uns für weitere Details zu den Analyseoptionen.

In dieser Analyse wird der Oberflächenrauheitswert (RMS) der Probe mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM) bestimmt, typischerweise unter Verwendung des Bruker Dimension Icon als Messgerät. Drei Messpunkte der Probe werden in eine Standardanalyse einbezogen. Der Messbereich beträgt 5 × 5 Mikrometer, sofern nichts anderes vereinbart wurde. Zusätzlich zum RMS-Wert werden ein 2D-Bild, ein 3D-Bild und Rohdaten im Prüfbericht enthalten sein.

Die Focused-Ion-Beam-(FIB-)Technik wird zur Präparation von Proben für die Elektronenmikroskopie eingesetzt. Sie ermöglicht ein sehr präzises Schneiden von Proben, um sie mittels TEM- oder REM-Bildgebung zu untersuchen. Gerne erstellen wir ein Angebot für die alleinige FIB-Präparation oder auch für FIB-TEM- oder FIB-REM-Analysen.

Die Partikelgrößenverteilung (PSD) und die Form der Partikel werden mittels Bildanalyse bestimmt. Die Methode ist für Partikel mit einer Größe von 10 bis 3.000 µm geeignet. Die Bildanalyse charakterisiert Partikelformen wie Fasern, Stäbchen und Kristalle, die mit herkömmlichen Verfahren wie der Laserbeugung oder der Dynamischen Lichtstreuung nicht sinnvoll analysiert werden können. Abhängig von der Partikelform umfassen die Ergebnisse typischerweise die Größenverteilung für Länge, Breite und den Äquivalent-Kreisflächen-Durchmesser (ECA).

Qualitative Identifizierung von Asbest in Feststoffen mittels Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (REM-EDX). Die Analyse wird gemäß der Norm ISO 22262-1 durchgeführt. Das Verfahren wird häufig eingesetzt, um festzustellen, ob Spielmaterialien wie Spielsand, Kinetiksand oder polymer- und mineralbasierte Füllstoffe Asbest enthalten. Bauprodukte wie Zement, Asphalt und Wärmedämmstoffe stellen eine weitere häufig untersuchte Probenmatrix dar. Während der Analyse wird die Probe verascht, gemahlen und mittels REM-EDX untersucht, um faserige Asbeststrukturen zu identifizieren. Die Analyse umfasst die folgenden Asbestarten: Aktinolith, Amosit (brauner Asbest) , Anthophyllit, Chrysotil (Weißasbest) , Krokydolith (Blauasbest) , Tremolit. Eine Expressbearbeitung (4 Werktage) kann auf Anfrage gegen Aufpreis bereitgestellt werden. Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen.

Wir bieten mehrere Analysetechniken zur Quantifizierung und Charakterisierung von Mikroplastik in biologischen Proben menschlichen Ursprungs an. Je nach spezifischer Matrix und Zielsetzung der Analyse kann eine der folgenden Methoden ausgewählt werden: µ-Raman-Spektroskopie LOD: 5 µm, Ergebnis: Anzahl der Mikroplastikpartikel pro 1 ml bzw. 1 g Probe sowie Angaben zu Kunststoffarten und Partikelgrößen in Kategorien.., µFTIR-Spektroskopie LOD: 10 µm – 20 µm, Ergebnisse: Anzahl der Mikroplastikpartikel pro 1 ml bzw. 1 g Probe sowie Informationen zu Kunststofftypen und Partikelgrößen in Kategorien. (Siehe Beispielergebnisse: Mikroplastik im Blut mit µFTIR)., Py-GC/MS LOD: 0,3 µm, Ergebnisse: Konzentration nach Masse von Nanoplastik- und Mikroplastikpartikeln pro 1 ml bzw. 1 g. Dies umfasst die Differenzierung der nachgewiesenen Kunststoffarten, jedoch keine Partikelgrößenmerkmale... Aufgrund der komplexen Matrix werden die geeigneten Schritte zum angemessenen Aufschluss, zur Homogenisierung und Filtration fallweise festgelegt. Der Umfang der erforderlichen Probenvorbereitung kann Einfluss auf den Preis haben. Proben menschlichen Ursprungs, einschließlich Blut, müssen in der Regel mit Trockeneis verpackt und versandt werden. Wir bieten die erforderlichen Logistikdienstleistungen und Unterstützung für die Handhabung dieser Probenarten an. Die angegebene Preisspanne gilt für typische Seriengrößen von 25–75 Proben. Bitte kontaktieren Sie unsere Fachleute über das untenstehende Formular, um ein Angebot für Ihr Analyseprojekt anzufordern.

Zerstörungsfreie 3D-Analyse interner Strukturen mittels Röntgen-Computertomographie. Das Verfahren visualisiert Poren, Risse, Dichte- und Phasenunterschiede innerhalb fester Materialien. Die Analyse ist geeignet für pulverförmige Materialien, wie beispielsweise pharmazeutische und kosmetische Inhaltsstoffe, sowie für Schüttgüter und Bauteile, etwa Maschinenteile und Wafer. Die Voxelgröße kann bis auf 60 nm reduziert werden. Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen zu den Analyseoptionen für verschiedene Materialien und Materialabmessungen. Für die Analyse stehen unter anderem folgende Geräte zur Verfügung: Bruker SkyScan 1272 CMOS, Bruker SkyScan 2214 CMOS, Zeiss Xradia 515 Versa.

SAM ist ein zerstörungsfreies Analyseverfahren, das in der Fehleranalyse eingesetzt wird, um Informationen über die Integrität der Die-Attach-Verbindung, Delaminationen, Lunker/Poren, Risse sowie die Effektivität von Bondprozessen (einschließlich der Lötzuverlässigkeit) zu gewinnen. Darüber hinaus kann SAM die Qualität von Dichtungen, Beschichtungen, Flip‑Chip‑Underfills, Wafer‑zu‑Wafer‑Bonding und die Integrität von Lötbumps bewerten. Zusätzlich zur herkömmlichen C-SAM bieten wir die Möglichkeit der Analyse mit Gigahertz-SAM (GHz-SAM), das eine erhöhte Auflösung bietet. Maximale Scanfläche: 300 mm × 300 mm – 350 mm × 350 mm für konventionelles SAM, 100 µm – 1500 µm für GHz-SAM., Wandlerfrequenzen: 5 MHz – 1 GHz (unterschiedliche Geräte) mit einer theoretischen Auflösung von 100 µm bis ~1 µm.. Bitte beachten Sie, dass die maximale Eindringtiefe von den akustischen Eigenschaften Ihres spezifischen Materials und den Unterschieden der akustischen Impedanz zwischen den Materialschichten abhängt. Kontaktieren Sie unsere Experten über das untenstehende Formular, um ein Angebot für Ihr C-SAM-Analyseprojekt anzufordern.

Broad Ion Beam (BIB)-Probenpräparation ermöglicht die Herstellung von Oberflächen oder Querschnitten, die sich ideal für die Abbildung mit Rasterelektronenmikroskopie (REM) eignen. Dieses Verfahren nutzt einen fokussierten, hochenergetischen Ionenstrahl, um das Probenmaterial präzise zu ätzen oder abzutragen und dadurch Schäden an der Oberflächenstruktur auf ein Minimum zu reduzieren. Typische Anwendungsfälle Anfertigung von Querschliffen für REM zur Analyse von Dünnfilmen, Beschichtungen und Schichtstrukturen., Präparation von Proben für die REM-Bildgebung von Defekten, Korngrenzen oder Grenzflächen in Hochleistungswerkstoffen.. Geeignete Proben Dünne Schichten, die auf verschiedene Substrate, wie z. B. Si-Wafer, abgeschieden werden und Dicken von einigen Dutzend Nanometern bis zu mehreren Mikrometern aufweisen., Schüttgüter, einschließlich Metalle, Keramiken, Polymerwerkstoffe und Verbundwerkstoffe., Proben, die eine präzise Strukturanalyse erfordern, ohne thermische oder mechanische Schädigungen zu verursachen.. Einschränkungen Nicht geeignet für Materialien mit extremer Empfindlichkeit gegenüber Ionenbeschuss., Eingeschränkte Anwendbarkeit bei sehr großen Proben aufgrund gerätebedingter Begrenzungen., Potenzial für geringfügige ioneninduzierte Veränderungen in ultrasensitiven Materialien.. Verwandte Techniken Für die ortsspezifische Ausdünnung oder Präparation von Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) wird die Focused-Ion-Beam- (FIB)Probenpräparation eingesetzt., Das Gefrierbruchverfahren kann bei dünnen organischen Proben häufig anstelle von BIB eingesetzt werden, um Kosten zu sparen..

Optische Mikroskopie verwendet sichtbares Licht und Linsen, um Proben zu vergrößern und abzubilden, und ermöglicht so eine zerstörungsfreie Untersuchung von Oberflächenmerkmalen und -strukturen. Die optische Mikroskopie wird zur Untersuchung von Oberflächenmorphologie, Korngrenzen, Defekten und anderen Strukturdetails im Mikrometerbereich eingesetzt, mit einer Auflösungsgrenze von etwa 200 nm. Bei einer typischen Messung werden mehrere Aufnahmen mit unterschiedlichen Vergrößerungen angefertigt, um einen guten Gesamtüberblick über die Probe zu erhalten. Typische Anwendungsfälle Qualitätskontrolle auf Oberflächenfehler, Mikrostrukturanalyse von Metallen, Keramiken und Verbundwerkstoffen, Bildgebung biologischer Proben, Prüfung elektronischer Bauteile. Geeignete Proben Polierte Oberflächen aus Metallen oder Keramiken, Dünnschliffe in Harz (z. B. Metallografie), Transparente Materialien wie Gewebe oder Dünnschichten. Verwandte Techniken Die Konfokalmikroskopie eignet sich zur Rekonstruktion dreidimensionaler Strukturen. Fordern Sie bei Interesse ein Angebot an..

Während dieser Analyse wird die Oberfläche einer glatten und harten Probe mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) abgebildet. Topografische Bilder werden in der Regel von drei Positionen um die Probe herum aufgenommen. Der Messbereich beträgt 5 × 5 Mikrometer, sofern nichts anderes vereinbart wurde. Messungen werden typischerweise mit folgendem Instrument durchgeführt: Bruker Dimension Icon.

Die folgenden Analysen sind in diesem Nanopartikel-Analysenpaket enthalten, das zur Charakterisierung von Nanoformen gemäß der REACH-Verordnung vorgesehen ist. Partikelgrößenverteilung und Aspektverhältnisse mittels REM-EDX Vorbereitung mit Isopropanol, Probenverteilung auf einem Objektträger mit Zentrifugation, REM-Analyse und Partikelzählung mittels Bildanalyse, Nachweis und Klassifizierung von Nanopartikeln gemäß der Empfehlung der EU-Kommission von 2022 zur Definition von Nanomaterial, Bericht der Partikelgrößenverteilungsparameter (PSD) für etwa 300 Partikel, einschließlich der folgenden: KFK-Diagramm, kumulativ und individuell., Feret min (min, d10, d25, d50, d75, d90, d95, max), Feret max (min, d10, d25, d50, d75, d90, d95, max), Äquivalenter Kreisdurchmesser (min, d10, d25, d50, d75, d90, d95, max), Seitenverhältnis (Berechnung basierend auf den einzelnen Feret-min- und Feret-max-Messungen), Anzahlbasierte Nano-Fraktion (%).. Kristallphasenanalyse mittels XRD/Rietveld-Methode Probenvorbereitung: Trocknung, Vermahlung, Röntgenpräparation, Röntgendiffraktionsanalyse (XRD) über einen Winkelbereich von 10° bis 90°, Identifizierung der in der Probe vorhandenen kristallinen Phasen, Semiquantitative Analyse der Phasenverteilung mittels Rietveld-Methode, Auswertung von Diffraktogrammen. Chemische Zusammensetzung/Reinheit mittels ICP-AES- und CHNS-Analyse ICP-AES-Quantifizierung anorganischer und metallischer Elemente: Ag, Al, As, B, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, K, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, S, Se, Sb, Si, Sn, Sr, V, Zn, Ti und Tl, Bestimmung von C, H, N und S mit einem Elementar-Analysator. Berechnung der volumenspezifischen Oberfläche (VSSA) und des VSSA-Durchmessers (optional) Messung der BET-spezifischen Oberfläche von Pulvern durch Stickstoffadsorption, Bestimmung der wahren (Skelett-)Dichte mittels He-Pyknometrie, ohne Berücksichtigung der intergranularen und intragranularen Porosität, Beide Analysen umfassen die Probenvorbereitung. Sie können ein Angebot für die Analyse über das untenstehende Formular anfordern. Bitte beachten Sie, dass die OECD-Leitlinie 125 für diese Analyse nicht gilt.

Elektronenrückstreubeugung (EBSD) ist eine REM-basierte Technik, die zur Bestimmung der kristallographischen Orientierung, Phase und Korngrenzenstruktur kristalliner Materialien eingesetzt wird. Das Verfahren wird typischerweise für die Fehleranalyse und die Mikrostrukturanalyse von Metallen, Keramiken und Legierungen eingesetzt. Probenanforderungen: EBSD eignet sich für flache, polierte kristalline Proben, einschließlich Metallen, Keramiken und Dünnschichten (50–500 nm). Für grobe Proben bieten wir eine Politur an. Nichtleitende Proben können eine leitfähige Beschichtung erfordern.

Die Partikelgrößenverteilung (PSD) wird aus Transmissionselektronenmikroskopie-(TEM)-Aufnahmen bestimmt. Das Verfahren eignet sich insbesondere für kleine Partikel mit einer Größe von 50 nm oder weniger. Je nach Partikelform umfasst die Methode die Berechnung der Durchmesser bzw. der Längen und Breiten der Partikel. Zusätzlich zur Größe liefert TEM qualitative Informationen über die Oberflächenmorphologie der Partikel. TEM ist eine gute Option für unregelmäßig geformte und nicht-sphärische Partikel wie Fasern, Stäbchen und Kristalle, die mit herkömmlichen Methoden, einschließlich Laserbeugung (LD) und Dynamische Lichtstreuung (DLS), nicht sinnvoll charakterisiert werden können. Als Ergebnis der Analyse werden TEM-Bilder sowie die ermittelte Partikelgrößenverteilung für den Durchmesser (oder die Länge und Breite) bereitgestellt. Trockene Proben sind für die TEM unmittelbar geeignet. Befinden sich die Partikel in feuchter Form oder sind sie in einem Lösungsmittel dispergiert, kann die Probe vor der Bildgebung mithilfe einer geeigneten Probenpräparationsmethode getrocknet werden.

Die Heißtischmikroskopie (HSM) ermöglicht die direkte Visualisierung von Materialien unter kontrollierten Temperaturbedingungen. Folgende Prüfungen sind möglich: Untersuchung der Morphologie von Verbindungen und der Partikeleigenschaften., Beobachtung von Festkörper-Festkörper-Umwandlungen, Schmelzen/Verflüssigung, Erstarren, Sublimation und Verdampfung., Überwachung der Wechselwirkungen, Löslichkeit und Reaktionen verschiedener Verbindungen miteinander., Verfolgung des Kristallwachstums und der Wachstumsraten., Einsatz der Kofler-Mischschmelzmethode für das Screening von Salzen/Kokristallen., Beobachtung von Oxidations- und anderen chemischen Reaktionen, wie sie unter Wärmeeinwirkung ablaufen.. Die Ergebnisse enthalten Mikroskopaufnahmen und Videos, die die Veränderungen während des Erhitzens zeigen. Messspezifikationen: Temperaturbereich: 25 °C bis 375 °C, Feuchtigkeitsregelung: 5–90 % rF. Instrumentendetails: Der Geräteaufbau umfasst eine Heizbühne (Heiztisch) mit einer Probenhalterung, gekoppelt mit einem Polarisationsmikroskop und einem System, das Temperaturmessungen sowie Video‑ und Bildaufnahmen ermöglicht.

Bestimmung der in der Raumluft vorhandenen inhalierbaren und respirablen Staubfraktionen. Die aerodynamischen Durchmesser der einatembaren bzw. alveolengängigen Staubpartikel liegen bei < 100 µm bzw. < 4 µm. Der Preis umfasst einen Probennehmer und eine Probenpumpe, die dem Kunden zur Probenahme zur Verfügung gestellt werden. Die Ergebnisse werden in mg/m³ angegeben. Gemäß der Verordnung des finnischen Ministeriums für Soziales und Gesundheit über gefährliche Konzentrationen (538/2018) beträgt der normative Grenzwert für einatembaren Staub 10 mg/m3 bei einer mittleren Konzentration über acht Stunden.

REM-Aufnahmen bei Kryo-Bedingungen mit EDX-Elementkartierung für fragile Proben, die eine kryogene Präparation erfordern, um das REM-Vakuum und den Elektronenstrahl auszuhalten. Die Analyse umfasst die folgenden Schritte: Kryofixierung der Probe., Bildgebung der Probenoberfläche mit einem Rasterelektronenmikroskop., EDX-Map für die Elementzusammensetzung.. Die Ergebnisse umfassen 10–20 REM-Aufnahmen mit Anmerkungen zu den beobachteten Merkmalen. Zusätzlich werden, abhängig von der Vergrößerung, 1–2 EDX-Elementverteilungsbilder bereitgestellt.

Bildgebung von Liposomenpulvern oder -dispersionen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). Die Analyse kann verwendet werden, um nachzuweisen, dass die in Kosmetik-, Lebensmittel- und Nahrungsergänzungsmittel-Anwendungen eingesetzten Liposomenpartikel die charakteristische kugelförmige Doppelschichtstruktur aufweisen. Die Probenaufbereitung kann mit einer der folgenden Techniken durchgeführt werden:  Negativkontrastfärbung mit einem spezifischen Protokoll, das darauf ausgelegt ist, Schäden an empfindlichen Liposomenpartikeln zu minimieren. Dies ist die bevorzugte Methode, wenn die Partikelkonzentration gering oder unbekannt ist. , Kryo-Präparation (Plunge-Freezing), die die Wahrscheinlichkeit von Schäden an den Partikeln noch weiter mindert, jedoch höhere Konzentrationen erfordert.. Die Ergebnisse der Analyse umfassen TEM-Aufnahmen, die bei mehreren unterschiedlichen Vergrößerungen angefertigt wurden. Sofern möglich, enthalten die Ergebnisse außerdem eine Beurteilung der Partikelstruktur, die zwischen einem Liposom und einem Lipidnanopartikel unterscheidet, sowie eine geschätzte Partikelkonzentration auf Grundlage der durchschnittlichen Partikelanzahl im abgebildeten Bereich.