Labortestdienstleistungen

Phasenidentifizierung und -quantifizierung (Rietveld-Analyse) eines kristallinen Pulvermaterials mittels Röntgendiffraktometrie (XRD). Die Analyse kann außerdem die Gitterparameter (Elementarzellabmessungen) bereitstellen. Die Analyse ist nur für Materialien mit mindestens einer kristallinen Phase geeignet. Die Quantifizierungsgenauigkeit beträgt ungefähr 0,1 %, abhängig von der Probenmatrix und der betreffenden Phase. Der verfügbare Temperaturbereich für XRD-Messungen liegt bei 25–1100 °C, und die Kristallinität kann in Abhängigkeit von der Temperatur untersucht werden. Die Messungen können in normaler Atmosphäre, unter Inertgas oder im Vakuum durchgeführt werden. Bitte kontaktieren Sie unsere Fachleute, um die verfügbaren Kombinationen von Temperatur und Atmosphäre zu besprechen. Bitte geben Sie bei der Anforderung von Prüfungen an, welche kristallinen Phasen Ihr Material enthält und welche Sie quantifizieren lassen möchten. Das Verfahren kann jedoch auch auf unbekannte Phasen angewendet werden. Für die Messungen kann entweder ein Tisch-Röntgendiffraktometer oder ein Synchrotron-Röntgendiffraktometer (XRD) verwendet werden.

XRF ist eine quantitative und qualitative Methode, die zur Analyse fester und flüssiger Materialien eingesetzt werden kann. Diese Methode ist für ein standardisiertes Screening homogener Materialien vorgesehen, die keine spezielle Probenvorbereitung, keine besonderen Vorsichtsmaßnahmen und keine sonstigen speziellen Anforderungen erfordern. Zur Durchführung der Messungen wird wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenz (WDXRF) verwendet, sofern nicht ausdrücklich energiedispersive Röntgenfluoreszenz (EDXRF) angefordert wird.

Abbildung der Probe mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) unter Verwendung energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX oder EDS). In der Regel werden mehrere Bilder mit unterschiedlichen Vergrößerungen aufgenommen, um einen guten Überblick über die Probe zu erhalten. Zur Bestimmung der Probenzusammensetzung (Elementverteilung in At.% oder Gew.%) wird ein EDX-Mapping, ein Linienscan oder eine Punktanalyse durchgeführt. Nichtleitende Proben können mit einer metallischen Beschichtung präpariert werden. Für Querschliffmessungen kann eine zusätzliche Präparation erforderlich sein: FIB, BIB, oder Gefrierbruch.

Bildgebung der Probe mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM). In der Regel werden mehrere Aufnahmen mit unterschiedlichen Vergrößerungen angefertigt, um einen guten Überblick über die Probe zu erhalten. Nichtleitende Proben können mit einer metallischen Beschichtung präpariert werden, um die Bildgebung zu ermöglichen. Für Querschnittsmessungen kann zusätzliche Probenpräparation erforderlich sein: FIB, BIB, oder Gefrierbruch. Kryo-Präparation ist für biologische Materialien und andere empfindliche Probenarten verfügbar. Wenn zusätzlich eine Zusammensetzungsanalyse erforderlich ist, lesen Sie bitte die REM-EDX-Messung. Wir bieten außerdem Hochtemperatur-REM-Analysen bei Temperaturen bis zu 1400 °C an. Zögern Sie nicht, ein Angebot anzufordern.

Hochauflösende Abbildung mit einem Transmissionselektronenmikroskop (TEM) zur Erfassung von Morphologie, Kristallstruktur und Defekten mit Nanometerauflösung. In der Regel werden mehrere Aufnahmen mit unterschiedlichen Vergrößerungen angefertigt, um einen guten Überblick über die Probe zu erhalten. Wir bieten außerdem FIB-Präparation an, um den Querschnitt jeder beliebigen interessierenden Stelle zu analysieren, einschließlich mikroelektronischer Schichtstapel und loser Pulver. HR-TEM für atomare Auflösung, STEM für hochkontrastreiche Aufnahmen und Kryo-TEM für empfindliche Proben sind ebenfalls möglich. Für ergänzende Zusammensetzungsanalysen neben den Strukturdaten stehen TEM-EDX- und TEM-EELS-Elementaranalysen zur Verfügung. Kontaktieren Sie uns für weitere Details.

Die Röntgenreflektometrie (XRR) wird zur Bestimmung der Dichte (g/cm3), der Schichtdicke (nm) und der Rauheit (nm) von Dünnschichten eingesetzt. Das Verfahren ist zur Charakterisierung ein- oder mehrschichtiger Dünnfilme geeignet, da es Informationen über die Dicke und Dichte der einzelnen Schichten des Probenmaterials sowie über die Rauigkeit der Grenzflächen liefert. Die höchste Genauigkeit bei XRR-Dickenmessungen wird im Allgemeinen bei Proben mit 1–150 nm dicken Oberflächenschichten und einer RMS-Rauheit von unter 5 nm erzielt. Dickere Schichten und Beschichtungen mit stärker aufgerauten Oberflächen können ebenfalls charakterisiert werden, jedoch nimmt die Genauigkeit der Dickenbestimmung mit zunehmender Schichtdicke und Rauheit der Schicht bzw. des Schichtstapels ab. >150-mm-Wafer werden in der Regel zugeschnitten, um in den Probenhalter zu passen. Bitte teilen Sie uns mit, wenn Sie Prüfungen für größere Wafer benötigen, die nicht in Stücke geschnitten werden können. Der verfügbare Temperaturbereich für XRR-Messungen liegt bei 25–1100 °C, und die Kristallinität kann in Abhängigkeit von der Temperatur untersucht werden. Die Messungen können unter Normalatmosphäre, in inerter Gasatmosphäre oder im Vakuum durchgeführt werden. Messungen werden in der Regel mit einem der folgenden Instrumente durchgeführt: Rigaku SmartLab, Panalytical X'Pert Pro MRD, Bruker D8 Discover. Bitte teilen Sie uns mit, ob Sie eine Präferenz für ein bestimmtes Instrument haben.

Abbildung der Probe mittels Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) und Bestimmung der elementaren Zusammensetzung der Probe mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX oder EDS). Mehrere Aufnahmen mit unterschiedlichen Vergrößerungen werden angefertigt, um einen guten Überblick über die Probe zu erhalten. Eine EDX-Elementkartierung, Linienanalyse oder Punktmessung wird durchgeführt, um die Probenzusammensetzung zu bestimmen (Elementverteilung in At.-% oder Gew.-%). Für feste Proben erfordert die Analyse häufig eine FIB-Präparation, die gesondert berechnet wird. HR-TEM kann ebenfalls durchgeführt werden. Kontaktieren Sie uns für weitere Details zu den Analyseoptionen.

Diese Analyse liefert quantitative Informationen über die kristallinen und amorphen Phasen in Ihrer Probe unter Verwendung der hochauflösenden Synchrotron-Röntgendiffraktometrie (XRD). Eine Standardanalyse umfasst: Quantifizierung kristalliner Phasen als Gewichtsprozentsätze, Quantifizierung des gesamten amorphen Anteils, Hochauflösende Pulverdiffraktionsdaten und das daraus resultierende Diffraktogramm, Ein umfassender Testbericht mit detaillierter Darstellung der Befunde. Für weitergehende Anforderungen bieten wir zudem eine Total-Scattering-/Paarverteilungsfunktions-(PDF-)Analyse an, um die lokale atomare Struktur in amorphen oder nanostrukturierten Materialien zu untersuchen. Zögern Sie nicht, ein Angebot anzufordern.

Diese Metallscreening-Analyse umfasst die semiquantitative Bestimmung von 70 Elementen. Die Methode kann beispielsweise verwendet werden, um die Hintergrundkonzentrationen von Metallen in Umweltproben zu bestimmen oder die Elementverteilung unbekannter Proben zu untersuchen. Ein Screening wird zudem häufig durchgeführt, um zu beurteilen, welche Metalle mit einer quantitativen Methode analysiert werden sollten. Die Messung wird mit einer hochauflösenden ICP-MS-Technik (ICP-SFMS) durchgeführt, die sehr niedrige Elementkonzentrationen nachweisen kann. Eine semiquantitative Bestimmung der folgenden Elemente ist enthalten: Ag, Al, As, Au, B, Ba, Be, Bi, Br, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Dy, Er, Eu, Fe, Ga, Gd, Ge, Hf, Hg, Ho, I, Ir, K, La, Lu, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Nd, Ni, Os, P, Pb, Pd, Pr, Pt, Rb, Re, Rh, Ru, S, Sb, Sc, Se, Si, Sm, Sn, Sr, Ta, Tb, Te, Th, Ti, Tl, Tm, U, V, W, Y, Yb, Zn und Zr. Bitte beachten Sie jedoch, dass einige Elemente aufgrund von Matrixinterferenzen möglicherweise nicht bestimmbar sind. Bei dieser semiquantitativen Analyse wird das Instrument für etwa 30 Elemente kalibriert. Die übrigen Analyte werden unter Berücksichtigung der Isotopenhäufigkeiten mithilfe von Empfindlichkeitsfaktoren für kalibrierte Elemente mit ähnlicher Masse und ähnlicher erster Ionisierungsenergie quantifiziert. Eine quantitative Analyse ist ebenfalls gegen Aufpreis verfügbar. Bei dieser Analyse werden alle Elemente kalibriert (mit Ausnahme von Halogenen und Os). Bitte fordern Sie für diese Leistung ein Angebot an.

Zugversuche sind das gebräuchlichste Verfahren zur Bestimmung der Zugfestigkeit, Duktilität und Zähigkeit eines Werkstoffs. Die Prüfungen werden gemäß den Normen ASTM E8/E8M und ISO 6892-1 durchgeführt. Die Ergebnisse enthalten Daten zu mehreren Eigenschaften, darunter Zugfestigkeit, Streckgrenze und Elastizitätsmodul. Standardspezimen müssen mindestens 75 mm lang und 5 mm im Durchmesser sein; kleinere Proben können jedoch auf Anfrage ebenfalls vermessen werden. Die Bearbeitung der Proben kann in die Analyse einbezogen werden. Wir bieten außerdem Zugprüfungen bei erhöhten Temperaturen an.

Die Messung bestimmt den Gehalt verschiedener Xanthate mittels 1H-NMR-Messung. Bei der Auswertung wird ein geeigneter Referenzstandard verwendet, um die Ergebnisse zu quantifizieren. Verschiedene Abbauprodukte können gleichzeitig analysiert werden. Bitte wenden Sie sich an die Experten von Measurlabs, um weitere Details zu erhalten.

Qualitative oder vergleichende Analyse kristalliner Pulver mittels Röntgendiffraktometrie (XRD). Die Analyse ist nur für Materialien geeignet, die mindestens eine kristalline Phase aufweisen.

ICP-MS-Elementaranalyse für geologische Proben (Gesteine, Erze, Bergbauproben) mit Königswasseraufschluss. Die Analyse umfasst die folgenden Elemente: Ag, Al, As, Au, B, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Fe, Ga, Ge, Hf, Hg, In, K, La, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Ni, P, Pb, Rb, Re, S, Sb, Sc, Se, Sn, Sr, Ta, Te, Th, Ti, Tl, U, V, W, Y, Zn und Zr. Goldbestimmungen mit dieser Methode sind aufgrund der geringen eingesetzten Probemenge nur semiquantitativ. Der Preis umfasst keine Probenvorbehandlung, wie z. B. Zerkleinerung oder Siebanalyse. Der Versand ist bis zu einem Gesamtgewicht von 5 kg inbegriffen; für größere Sendungen fallen zusätzliche Kosten an. Bitte beachten Sie, dass wir diese Tests bei kleinen Einzelprojekten mit nur wenigen Proben möglicherweise nicht anbieten können.

Ein Dilatometer wird verwendet, um die lineare thermische Ausdehnung eines Materials in Abhängigkeit von der Temperatur zu bestimmen. Der Temperaturbereich der Messung liegt im Allgemeinen zwischen 25 °C und 1.600 °C. Es besteht außerdem die Möglichkeit, die Prüfung in einer kryogenen Atmosphäre durchzuführen, die sich von −175 °C bis 300 °C erstreckt. Die typische Heizrate beträgt 3 °C/min. Als Ergebnis der Messung erhalten Sie den Wärmeausdehnungskoeffizienten (CTE) und die absolute Längenänderung der Probe, jeweils in Abhängigkeit von der Temperatur. Die Prüfung kann in verschiedenen Atmosphären durchgeführt werden, darunter Luft, Argon, CO₂, N₂ und O₂. Bitte kontaktieren Sie uns, um ein Angebot zu erhalten. Der Preis hängt von den Prüfbedingungen ab, daher geben Sie diese bitte so genau wie möglich an.

Unsere δ13C-Analyse stabiler Isotope bestimmt das Verhältnis von 13C zu 12C in einem gegebenen Probenmaterial mittels eines kontinuierlich durchströmten Isotopenverhältnis-Massenspektrometers (IRMS). Die Ergebnisse werden in Promille (‰) als Abweichung des Isotopenverhältnisses von einem Standard-Referenzmaterial angegeben. Uns stehen mehr als 30 isotopische Standards der IAEA, des USGS sowie hausinterne Standards zur Verfügung, um ein breites Spektrum erwarteter Verhältnisse abzudecken. Der angegebene Preis und die dargestellte Bearbeitungszeit gelten für konventionelle Probenmatrizen. Die Analyse eignet sich für eine Vielzahl von Probenmaterialien, einschließlich, aber nicht beschränkt auf die in der Tabelle unten aufgeführten. Sämtliche unserer Stabilisotopenanalysen werden in nach ISO 17025 akkreditierten Laboratorien durchgeführt. Bitte kontaktieren Sie uns über das untenstehende Formular, um die Untersuchung Ihrer Proben zu veranlassen.

Die Eindringhärteprüfung misst die Fähigkeit eines Werkstoffs, plastischer Verformung zu widerstehen. Wir bieten drei verschiedene Testarten an: Brinell-Härteprüfung (ISO 6506-1), Härteprüfung nach Vickers (ISO 6507-1), Rockwell-Härteprüfung (ISO 6508-1). Diese Verfahren funktionieren, indem ein genormter Prüfkörper in die Probe eingedrückt wird und entweder die Größe des Eindrucks oder die Eindringtiefe der Prüfspitze gemessen wird. Jedes Verfahren ist für alle Arten von Metallen und Legierungen geeignet.

Die Funkenspektrometrie (Spark-OES) ist ein häufig eingesetztes Verfahren zur Bestimmung der elementaren Zusammensetzung von Metallen und Legierungen. Aufgrund ihrer hohen Geschwindigkeit und niedrigen Nachweisgrenzen stellt diese Methode eine überlegene Alternative zu anderen ähnlichen Analysentechniken (ICP-OES, ICP-MS, RFA) dar. Alle Metalle und einige Nichtmetalle wie C, N und S können im ppm-Bereich nachgewiesen werden. Die Methode ist für massive Metallstücke mit einer Mindestgröße von 1 × 1 cm geeignet. Die Probenvorbereitung ist in der Analyse enthalten.

ICP-MS-Elementanalytik für geologische Proben (Gesteine, Erze, Bergbauproben) mit Vier-Säuren-Aufschluss. Die Analyse umfasst die folgenden Elemente: Ag, Al, As, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Ce, Co, Cr, Cs, Cu, Fe, Ga, Ge, Hf, In, K, La, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Ni, P, Pb, Rb, Re, S, Sb, Sc, Se, Sn, Sr, Ta, Te, Th, Ti, Tl, U, V, W, Y, Zn und Zr Die folgenden Seltenerdelemente (REE) sind ebenfalls enthalten: Dy, Er, Eu, Gd, Ho, Lu, Nd, Pr, Sm, Tb, Tm und Yb Der Preis beinhaltet keine Vorbehandlung, wie z. B. Zerkleinerung oder Siebanalyse. Zusätzliche Logistikkosten werden berechnet, wenn die Probe mehr als 5 kg wiegt. Bitte beachten Sie, dass wir diese Tests möglicherweise nicht für kleine Einzelprojekte mit nur wenigen Proben anbieten können.

Die Magnetometrie liefert Informationen über die magnetischen Eigenschaften des Probenmaterials in Abhängigkeit vom Magnetfeld. Bei der Messung wird ein Magnetometer mit vibrierender Probe (VSM, Vibrating Sample Magnetometer), auch als Foner-Magnetometer bezeichnet. Gemäß dem Faradayschen Induktionsgesetz erzeugt ein sich änderndes Magnetfeld ein elektrisches Feld, das gemessen werden kann, um Informationen über das Magnetfeld zu gewinnen. Die Magnetometrie eignet sich für Dünnschichten, Volumenmaterialien, Flüssigkeiten und Pulver. Zu den Eigenschaften, die mit VSM gemessen werden können, gehören das magnetische Moment, die Koerzitivfeldstärke und Hystereseschleifen. Tieftemperatur‑VSM können außerdem verwendet werden, um den Meissner-Effekt in supraleitenden Dünnschichten zu bestätigen, einschließlich solcher, die für Anwendungen im Bereich des Quantencomputings entwickelt wurden. Projekte werden fallweise kalkuliert; bei großen Probensätzen gelten niedrigere Preise pro Probe. Bitte kontaktieren Sie uns für ein Angebot.

Die Charpy-Kerbschlagbiegeprüfung ist ein standardisiertes Prüfverfahren zur Bestimmung der Schlagzähigkeit eines Werkstoffs beim Bruch. Die Prüfung erfolgt nach der Norm ISO 148-1 und kann bei Temperaturen bis hinunter zu -193 °C durchgeführt werden. In die Probe wird eine V-förmige oder U-förmige Kerbe eingebracht, anschließend wird sie mit einem Pendel gebrochen. Die Prüfung ermittelt, wie viel Energie das Material vor dem Bruch absorbiert und liefert damit Aufschluss über die Fähigkeit des Materials, plötzliche Stöße zu widerstehen.

Die Kriechprüfung dient dazu, das Ausmaß der Verformung unter konstanter Last über einen definierten Zeitraum zu überwachen. Sie ermöglicht die Bestimmung, wie stark sich ein Werkstoff unter einer bestimmten Last bei einer vorgegebenen Temperatur verformt. Der Zeitstandversuch wird eingesetzt, um die Zeit bis zum Bruch eines Werkstoffs unter konstanter Spannung zu bestimmen. Er liefert Informationen darüber, wie lange ein Material unter bestimmten Lasten und Temperaturen beständig bleibt. Beide Prüfverfahren sind entscheidend für die Bestimmung der Tragfähigkeit eines Werkstoffs. Die Prüfungen werden gemäß den Normen ISO 204 bzw. ASTM E139 bei Temperaturen bis zu 1.250 °C durchgeführt. Unter ISO 204 und ASTM E139 stehen mehrere Prüfoptionen zur Verfügung: Nicht unterbrochene Kriechversuche, bei denen die Dehnung kontinuierlich überwacht wird, Unterbrochene Kriechversuche, bei denen die Dehnung in regelmäßigen Abständen gemessen wird, Zeitstandsversuche, bei denen die Zeit bis zum Bruch gemessen wird, Verifizierungsversuche zur Bestätigung, dass das Material einer vorgegebenen Kraft über eine festgelegte Zeitspanne standhält, ohne zu brechen. Die Preisgestaltung hängt von der Temperatur, der Belastung und der Prüfdauer ab. Bitte kontaktieren Sie unsere Experten für ein Angebot.

Die Augerelektronenspektroskopie (AES) ist eine oberflächensensitive Methode (3–9 nm) zur Zusammensetzungsanalyse und Tiefenprofilierung und liefert Daten über die elementare Zusammensetzung in der Tiefe. Zusätzlich können Sekundärelektronenbilder bereitgestellt werden. AES ist eine sehr nützliche Methode zur Untersuchung von Strukturen, da sie einen Strahldurchmesser bis hinunter zu wenigen Nanometern ermöglicht.

Zugversuche nach ASTM E21 und ISO 6892-2 werden eingesetzt, um die mechanischen Eigenschaften von Metallen und Legierungen bei erhöhten Temperaturen zu bestimmen. Die Prüfungen werden bei Temperaturen von bis zu 1.000 °C durchgeführt. Die Ergebnisse enthalten Daten zu mehreren Eigenschaften, darunter Zugfestigkeit, Streckgrenze und Elastizitätsmodul. Bitte geben Sie bei der Angebotsanfrage die gewünschte Prüftemperatur, die Dehnraten sowie die Norm an, nach der die Prüfungen durchgeführt werden sollen. Standartproben sollten mindestens 75 mm lang und 5 mm im Durchmesser sein. Auf Anfrage können jedoch auch kleinere Proben geprüft werden. Die mechanische Bearbeitung der Proben kann in das Analyseprojekt einbezogen werden. Wir bieten außerdem Zugversuche bei Raumtemperatur an.