STEM-analyysi
Pyyhkäisy-läpäisyelektronimikroskopia eli STEM mahdollistaa äärimmäisen pienten näytteiden kuvantamisen nano- tai jopa atomitasolla. Menetelmää voidaan hyödyntää esimerkiksi uusien nanomateriaalien kehityksessä.
- Nopeat tulokset
- Henkilökohtaista apua asiantuntijoilta
- Kilpailukykyiset hinnat
- Takuu tulosten oikeellisuudesta
Mihin STEM-analyysia käytetään?
STEM-menetelmää käytetään äärimmäisten pienten rakenteiden kuvantamiseen ja karakterisointiin uutta nanoteknologiaa kehitettäessä. Spektroskopiseen EELS-menetelmään yhdistettynä tietoa saadaan myös näytteen sisältämistä alkuaineista.
STEM:in avulla voidaan analysoida muun muassa puolijohdemateriaaleja, katalyyttejä ja akkumateriaaleja. Menetelmää voidaan hyödyntää myös molekyylibiologiassa.
Miten pyyhkäisy-läpivalaisuelektronimikroskopia toimii?
STEM toimii yhdistämällä kahden analyysitekniikan – läpäisyelektronimikroskopian (TEM) ja pyyhkäisyelektronimikroskopian (SEM) – periaatteet. Analyysin aikana ultraohueen näytteeseen kohdennetaan elektronisäde, joka skannaa näytteen pintaa rasterimuodostelmassa. Detektori havaitsee näytteen läpäisevät elektronit, ja laite muodostaa havaittujen elektronien perusteella kuvan näytteestä.
Sopivat näytteet ja näytteiden valmistelu
STEM-näytteiden tulee olla alle 100 nanometrin paksuisia, sillä elektronien on pystyttävä läpäisemään näyte. Tarvittaessa näytemateriaalia voidaan ohentaa sopivaksi esimerkiksi FIB-tekniikalla. Näytevalmistelun aikana on parhaan mukaan vältettävä epäpuhtauksien päätymistä näytteeseen.
STEM-tekniikan edut ja rajoitteet
STEM:in mahdollistama skannaus antaa paremman kokonaiskuvan näytteestä perinteiseen TEM:iin verrattuna. Myös äärimmäisen korkea resoluution lukeutuu STEM:in vahvuuksiin: laitteesta riippuen resoluutio voi olla noin 0,2 nanometriä tai parhaimmillaan jopa noin 50 pikometriä.
Haasteita ovat riittävän ohuen näytteen valmistelu ja näytteen yhteensopivuuden varmistaminen tyhjiöolosuhteiden kanssa. STEM-analyysissa käytetty elektronisäde voi myös vahingoittaa joitain näytetyyppejä.
Soveltuvat näytematriisit
- Ohutkalvot
- Puolijohteet
- Nanomateriaalit
- Mikrobiologiset näytteet
STEM-analyysin yleisiä käyttötarkoituksia
- Ohutkalvojen kuvantaminen
- Puolijohde- ja nanomateriaalien tuotekehitys ja laadunvalvonta
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita myyjillemme.
Usein kysytyt kysymykset
STEM-tekniikkaa hyödynnetään erityisesti ohutkalvojen ja muiden nanomateriaalien tuotekehityksessä ja laadunvalvonnassa.
Measurlabs tarjoaa erilaisia laboratorioanalyyseja tuotekehittäjille ja laatujohtajille. Suoritamme osan analyyseista omassa laboratoriossamme, mutta enimmäkseen ulkoistamme ne huolella valikoiduille kumppanilaboratorioille. Tällä tavoin pystymme lähettämään kunkin näytteen sille sopivimpaan laboratorioon ja tarjoamaan asiakkaillemme korkealaatuisia analyyseja yli tuhannella eri menetelmällä.
Kun otat meihin yhteyttä tarjouspyyntölomakkeella tai sähköpostilla, yksi menetelmäasiantuntijoistamme ottaa mittauksesi hoitaakseen ja vastaa mahdollisiin kysymyksiisi. Saat kirjallisen tarjouksen, jossa on kerrottu mittauksen yksityiskohdat ja osoite, johon voit lähettää näytteet. Me huolehdimme sen jälkeen näytteiden toimittamisesta oikeisiin laboratorioihin ja kirjoitamme tuloksista sinulle selkeän mittausraportin.
Näytteet toimitetaan laboratorioomme yleensä lähetillä. Varmista yksityiskohdat asiantuntijamme kanssa ennen näytteiden lähettämistä.