Janez Košir
DI, materiaalitiede
Materiaalitestaus ja paristot

Measurlabsin materiaalitestauksen asiantuntija Janez Košir on koulutukseltaan materiaalitieteen diplomi-insinööri ja valmistelee parhaillaan sähkökemiaa käsittelevää väitöskirjaa Aalto-yliopiston tutkimusryhmässä. Janez on ollut mukana kirjoittamassa useita tieteellisiä artikkeleja muun muassa nanomateriaaleihin, litiumparistoihin ja MEMS-järjestelmiin liittyen.
Janez on hyödyntänyt opintojensa aikana monipuolisesti eri analyysimenetelmiä röntgendiffraktiosta ja elektronimikroskopiasta termisiin ja sähkökemiallisiin menetelmiin.
Suosituimmat tuotteet
ToF-ERDA-mittaus
Tof-ERDA-mittaus soveltuu kiinteiden näytemateriaalien alkuainekoostumuksen kvantitatiiviseen määritykseen ja syvyysprofilointiin. ToF-ERDA havaitsee kaikki alkuaineet ja vedyn eri isotoopit. Menetelmä tuottaa alkuainekohtaiset syvyysprofiilit määrittämällä kunkin alkuaineen pitoisuuden eri syvyyksillä näytteessä. Tyypillisesti detektioraja on 0,1–0,5 atomiprosenttia ja syvysresoluutio 5–20 nm. Menetelmä soveltuu 20–500 nm paksuisten ohutkalvojen analysointiin. Näytteen pinnan on oltava sileä, ja sen karheuden on oltava alle 10 nm, jotta mittaus pystytään suorittamaan. Menetelmä on luontaisesti kvantitatiivinen, kun analysoidaan ohutkalvoja tyypillisillä substraateilla, kuten pii (Si), galliumnitridi (GaN), piikarbidi (SiC), galliumarsenidi (GaAs) tai indiumfosfidi (InP). Siksi referenssinäytteitä ei tarvita kvantitatiivisten tulosten saamiseksi. Tämä tekniikka on erityisen hyödyllinen kevyiden alkuaineiden analysoinnissa. Normaalien TOF-ERDA mittausten lisäksi suoritamme myös LI-ERDA-mittauksia (tunnetaan myös nimellä Foil ERDA) vedyn isotooppien määrittämiseksi matalina pitoisuuksina. LI-ERDA:lla saavutetaan tyypillisesti 0.01 atomiprosentin määritysrajat vedyn isotoopeille ja päästään joidenkin materiaalien osalta jopa 1 nm syvyysresoluutioon. LI-ERDA:lla ei voida määrittää muita alkuaineita samanaikaisesti vedyn kanssa.
499–569 €
Lue lisääEllipsometria
Ellipsometria on optinen tekniikka, jolla karakterisoidaan polarisoituneen valon heijastumista näytteen pinnasta. Menetelmällä voidaan määrittää näytteen taitekerroin tai paksuus. Ellipsometriaa käytetään ohutkalvojen ja perusmateriaalien karakterisointiin. Näyte voi olla yksi- tai monikerroksinen kalvo. Mittaukseen sopiva näytteen paksuus riippuu materiaalista - kysy tarvittaessa lisätietoja asiantuntijoiltamme.
229–359 €
Lue lisääSekundäärinen ionimassaspektrometria (SIMS)
Sekundääri-ionimassaspektrometria (SIMS) soveltuu erityyppisten kiinteiden materiaalien syvyysprofilointiin. SIMS tunnistaa kaikki alkuaineet, joiden massa on vedyn ja uraanin välissä. Matalan määritysrajan ansiosta menetelmä sopii jopa häviävän pienten epäpuhtauspitoisuuksien analysointiin. Kvantitatiivisten tulosten saaminen edellyttää standardien käyttöä.
496–2 499 €
Lue lisääMetallin vetokoe (ASTM E8 ja ISO 6892-1)
ASTM E8, EN ISO 6892-1
Metallien vetokokeella määritetään materiaalin lujuusominaisuuksia, kuten vetolujuus, myötölujuus ja kimmomoduuli. Vetokoe on yleisimpiä ja luotettavimpia tapoja kerätä tietoa materiaalin mekaanisesta kestävyydestä. Koetta varten tarvitaan yleensä vähintään 75 mm pitkä ja halkaisijaltaan 5 mm kokoinen koekappale, mutta myös pienempiä kappaleita voidaan testata pyynnöstä. Koekappaleiden valmistus suuremmista kappaleista voidaan sisällyttää testisuunnitelmaan. ASTM E8- ja ISO 6892-1 -standardien mukaiset vetokokeet suoritetaan huoneenlämmössä. Tarjoamme lisäksi korkeammissa lämpötiloissa toteutettavia vetokokeita standardien ASTM E21 ja ISO 6892-2 mukaisesti.
89–185 €
Lue lisää