Anupam Glorious Lobo

M.Tech in Polymertechnik

Anorganische Materialien

anupam.lobo@measurlabs.com +358 45 856 6336

Anupam Glorious Lobo arbeitet bei Measurlabs als Experte für anorganische Materialien. Er hat einen Bachelor-Abschluss in Maschinenbau und einen Master-Abschluss in Polymerwissenschaft und -technologie. Derzeit ist er Marie-Curie-Doktorand an der Universität Oulu, wo sich seine Forschung auf die Entwicklung und Skalierung photokatalytischer Materialien und Systeme zur Produktion von grünem Wasserstoff konzentriert.

Vor Beginn seiner Doktorarbeit arbeitete Anupam an hochleistungsfähigen Atemgassensoren und tragbaren Geräten und untersuchte das Verhalten polymerer Dünn- und Ultradünnfilme. Im Rahmen seiner Tätigkeit bei einem Sensor-Startup war er am gesamten Entwicklungszyklus eines tragbaren Atemgassensors beteiligt, von der Grundlagenforschung über die Prototypenentwicklung bis hin zur Produktpräsentation.

Wissenschaftliche Veröffentlichungen

Anupam ist Mitautor mehrerer wissenschaftlicher Publikationen, darunter:

Tailor made biheterocyclic pyrazoline-thiazolidinones as effective inhibitors of Escherichia coli FabH: Design, synthesis and structural studies in Journal of Molecular Structure
Spectral, morphological and optical studies on bischalcone doped polylactic acid (PLA) thin films as luminescent and UV radiation blocking materials in Optical Materials
Single crystal X-ray studies and Hirshfeld surface analysis of ethoxy phenyl substituted chalcone derivatives in Chemical Data Collections

Anupam’s beliebteste Testdienstleistungen

C-AFM-Messung

Simultane Abbildung der lokalen elektrischen Leitfähigkeit und Oberflächentopografie von Dünnschichten und anderen Halbleitermaterialien mittels leitfähiger Rasterkraftmikroskopie (C-AFM). Zwischen der leitfähigen Sondenspitze und der geerdeten Probe wird eine Bias-Spannung angelegt, und der resultierende Strom wird Pixel für Pixel über das Scanareal erfasst. Dadurch entstehen korrelierte Topografie- und Stromkarten mit lateralen Auflösungen von 20–50 nm. An ausgewählten Punkten kann die Bias-Spannung variiert werden, um lokale Strom-Spannungs-(I-V)-Kurven zu erzeugen. Der Strommessbereich liegt ungefähr zwischen 1 pA und 10 µA; Materialien mit einer spezifischen Elektrizitätsleitfähigkeit oberhalb von ca. 10⁹ Ω·cm können nicht zuverlässig charakterisiert werden. Die Ergebnisse werden als koinjizierte Topografie- und Stromkarten, gegebenenfalls Widerstandskarten sowie lokale I‑V‑Kennlinien für ausgewählte Messpunkte dargestellt.

260–450 €

Measurlabs bietet über 2000 Tests von mehr als 900 Laboren an.